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경면물체의삼차원형상에대한광학적측정장치

  • 기술번호 : KST2015111295
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 되반사 재질의 반사광 회귀특성을을 이용하여 경면물체의 삼차원 형상을 물체표면의 전 영역에 걸쳐 측정해내는 장치를 제공하기 위한 본 발명은 광학적 측정장치는 되반사 재질의 반구형의 반사체,레이져 스캐닝미러,빔스플리터,레이져 광원,광센서를 적절히 구성하여 경면물체의 삼차원 형상을 측정하는 시각 측정장치로서,이와 같은 본 발명에 의하면 기존의 일반적인 광학적(시각적인)방법으로는 측정하기 어려운 경면물체의 3차원 형상을 측정할 수 있으며,또한 기존의 경면물체 측정방법보다 단순한 장치의 구성으로 고분해능의 측정을 수행할 수 있다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01)
CPC G01B 11/24(2013.01)
출원번호/일자 1019930022378 (1993.10.26)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0116858-0000 (1997.06.20)
공개번호/일자 10-1995-0012036 (1995.05.16) 문서열기
공고번호/일자 1019970003272 (19970317) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.10.26)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조형석 대한민국 서울특별시강남구
2 박원식 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서만규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1993.10.26 수리 (Accepted) 1-1-1993-0115570-03
2 특허출원서
Patent Application		 1993.10.26 수리 (Accepted) 1-1-1993-0115569-56
3 출원심사청구서
Request for Examination		 1993.10.26 수리 (Accepted) 1-1-1993-0115571-48
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1996.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0050625-51
5 의견서
Written Opinion		 1996.10.28 수리 (Accepted) 1-1-1993-0115573-39
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1996.10.28 수리 (Accepted) 1-1-1993-0115572-94
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application		 1997.02.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0050626-07
8 등록사정서
Decision to grant		 1997.06.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0050627-42
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.08 수리 (Accepted) 4-1-1999-0002352-05
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.18 수리 (Accepted) 4-1-1999-0008675-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.02.01 수리 (Accepted) 4-1-1999-0025779-69
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.03.03 수리 (Accepted) 4-1-1999-0041039-77
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.06.21 수리 (Accepted) 4-1-1999-0085486-82
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2004.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2004-0001933-29
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2004.03.19 수리 (Accepted) 4-1-2004-0012166-74
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

되반사 재질의 반사광 회귀특성을 이용한 경면물체의 삼차원 형상측정장치에 있어서, 상기 장치는 내부에 배치되는 경면의 측정대상 물체에서 정반사에 의한 반사광이 새어 나가는 것을 방지하고 모든 방향의 반사광에 대해 유사한 강도의 회귀광을 발산하며 빛이 입사한 방향의 역방향으로 반사광을 내보내어 그 천장부위가 천공된 반구형 되반사 재질의 반사체(16), 그 천공 상단에 위치하여 레이져광원(13) 이용으로 각분해도로 정밀하게 스캐닝한는 레이져 스캐닝 미러(15), 빔스플리터(14), 수검요소로 구성되어, 반구형 되반사 재질의 반사체 내부에 배치되는 경면의 측정대상물체표면의 한점(A)에 상기 레이져광원으로부터 빔스플리터, 레이져 스캐닝 미러 및 반사체의 천공부를 차례로 거쳐 레이져광선이 입사되고 이 점에서 정반사를 경유하여 1차 반사광이 반구형 되반사 반사체상의 한점(B)으로 입사된 다음 되반사 재질의 광학적 반사특성에 의하여 입사된 방향으로 반사되어 측정대상물체 표면의 A점 근처인 C점으로 입사되며, C점에 입사된 회귀광은 3차원 정반사를 경유하여 레이져 스캐닝 미러 및 빔스플리터를 통해 수검요소로 입사되어서 A점의 정보와 수검요소에 결상된 C점의 화상으로써 C점의 정보를 측정해 내고, 알아낸 C점에 다시 레이져 광선을 입사시켜 위의 과정을 반복적으로 되풀이함으로써 경면물체의 전 표면에 걸쳐 삼차원 형상을 측정하도록 된 것을 특징으로 하는 경면물체의 삼차원 형상에 대한 광학적 측정장치

2 2

제1항에 있어서, 수검요소가 줌렌즈(17)를 부착한 CCD 카메라 또는 PSD 카메라(18)인 것을 특징으로 하는 경면물체의 삼차원 형상에 대한 광학적 측정장치

3 3

제1항에 있어서, 레이져 광원(13)이 소구경의 레이져 광선(Colimated Laser Beam)을 방사하는 다이오드 레이져 또는 He-Ne 레이져인 것을 특징으로 하는 경면물체의 삼차원 형상에 대한 광학적 측정장치

4 4

제1항에 있어서, 측정대상물체를 X-Y 방향으로 이송할 수 있는 X-Y 테이블(18)을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 경면물체의 삼차원 형상에 대한 광학적 측정장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.