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펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계

  • 기술번호 : KST2015115120
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 정밀 표면형상 측정 간섭계 장치에 관한 것으로, 고안정도 시간/주파수 표준에 소급하여 고속으로 펄스 레이저의 반복률을 주사함으로써, 고단차 대영역 복잡 형상을 고속으로 정밀하게 측정하는 간섭계 장치에 관한 것이다. 본 발명은 반복률 고속 주사를 위한 전기광학소자 및 음향광학소자, 또는 주사 범위를 늘리기 위한 압전소자 및 모터 스테이지와 같은 반복률 제어 장치, 반복률 제어장치를 포함한 펄스 레이저 공진기, 공진기에서 발진하는 펄스의 반복률을 시간/주파수 표준에 소급된 주파수 측정기로 정밀하게 측정하고 제어하는 제어부, 제어 정확도를 보정하기 위한 시간/주파수 표준, 펄스 레이저를 이용하여 형상을 측정할 수 있는 간섭계, 획득한 간섭신호를 저장 및 분석하는 처리장치를 포함한다. 본 발명은 종래의 광학 형상측정기술에서 기계적 주사방식 혹은 파장 주사를 분광방식 기반의 측정방법이 고단차 복잡형상 측정 및 측정 속도에 있어서 가지는 한계를 극복하기 위해, 펄스 레이저의 반복률을 주사속도 및 주사범위를 향상시킴으로써, 고단차 복잡형상을 고속으로 정밀하게 측정할 수 있는, 표면형상 측정용 간섭계를 제공하고자 한다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)
CPC G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01)
출원번호/일자 1020110078215 (2011.08.05)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1379043-0000 (2014.03.21)
공개번호/일자 10-2013-0015893 (2013.02.14) 문서열기
공고번호/일자 (20140328) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.05)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승우 대한민국 대전광역시 유성구
2 주우덕 대한민국 인천광역시 부평구
3 김영진 대한민국 경상남도 창원시 진해구
4 이주형 대한민국 대전광역시 유성구
5 김승만 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인대한 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 부봉빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.05 수리 (Accepted) 1-1-2011-0607105-83
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.02.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0009871-90
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0126759-33
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.04.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0366893-69
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2013-0366889-86
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.08.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0603992-76
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2013-0988014-86
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.10.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0988018-68
11 등록결정서
Decision to grant
2014.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0192676-68
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
펄스 레이저를 출사하는 광원부;상기 광원부에서 출사되는 광을 분할하는 광분할기;상기 광분할기에서 분할된 하나의 광에서 기준광과 측정광을 생성하기 위한 기준 미러와 타겟;기준광과 측정광 생성을 위해 광을 전달하는 광학부;상기 기준 미러와 타겟에서 반사되는 기준광과 측정광이 간섭되어 입사되는 광검출기;상기 기준 미러와 타겟에서 반사되는 기준광과 측정광의 펄스가 중첩되어 간섭을 일으키도록 상기 광원부에서 출사되는 펄스 레이저의 반복률을 주사할 수 있는 반복률 주사 구동부;주파수 측정 기준이 되는 시간/주파수 표준부;반복률을 상기 시간/주파수 표준부에 소급된 주파수 측정기로 측정하여 제어하는 제어부; 및검출된 광신호를 저장 및 분석하는 처리부;를 포함하며,상기 반복률 주사 구동부는 전기-광학변조기(electro-optic modulator, EOM)와 같은 전기광학소자 또는 음향-광학 변조기(acousto-optic modulator, AOM)와 같은 음향광학소자로 구성되며, 이로부터 광 공진 길이를 조절함으로써 반복률을 고속으로 주사하는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
2 2
제 1항에 있어서, 상기 시간/주파수 표준부는,원자시계로 구성되는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
3 3
제 1항에 있어서, 상기 광검출기는,CCD, CMOS, PD(photodiode), Photo-dectector, PMT 중 하나 인 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
4 4
제 1항에 있어서, 상기 제어부는,시간 주파수 표준에 소급된 주파수 측정기와 위상 제어기를 통해 제어되는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
5 5
삭제
6 6
제 1항에 있어서, 상기 반복률 주사 구동부는,압전소자(PZT), 모터 스테이지(motorized stage)를 제어하여 반복률의 주사 범위를 크게 향상시키는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
7 7
제 1항에 있어서, 상기 기준미러와 타겟의 거리차는,수학식 을 통해 산출되는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
8 8
제 1항에 있어서, 상기 반복률의 주사에 따른 거리 주사는,수학식 을 통해 산출되는 것을 특징으로 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
9 9
제 1항에 있어서, 상기 광원부는,광섬유 펄스 레이저 공진기 또는 광결정 펄스 레이저 공진기 중 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
10 10
제 9항에 있어서, 상기 광섬유 펄스 레이저 공진기는,광섬유 펄스 레이저 공진기의 경우 ring resonator type과 linear resonator type, figure-of-eight resonator type으로 구비되는 것을 특징으로 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
11 11
제 9항에 있어서, 상기 광섬유 펄스 레이저 공진기는,발진한 펄스를 광주파수 변조 없이 그대로 사용하기 위해 별도의 주파수 변조장치를 두지 않거나, 체배된 광주파수를 가지는 펄스를 적용하기 위해 비선형 광결정(nonlinear crystal)을 적용하거나, 가시광 영역 혹은 근적외선 영역의 광주파수로 주파수 천이를 시키기 위하여 HNLF(highly non-linear fiber) 혹은 PCF(photonic crystal fiber)를 적용함으로써, 이로부터 다양한 광공진기 구성에서도 원하는 주파수 대역으로 광주파수를 변조 및 천이할 수 있는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
12 12
제 1항에 있어서, 상기 간섭계는,펄스 레이저의 주기성과 높은 가간섭성을 통해, 측정면과 기준면을 비대칭(non-symmetric), 비동일 광경로(unequal-path) 형태로 구성하는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
13 13
펄스 반복률 주사 방식의 펄스 레이저 광원부를 마이켈슨 간섭계(Michelson interferometry), 트와이만-그린 간섭계(Twyman-Green interferometry), 미라우 간섭계(Mirau interferometry), 리닉 간섭계(Linnik interferometry), 마하젠다 간섭계(Mach-Zehnder interferometry), 피조 간섭계(Fizeau interferometry), 점회절 간섭계(Point-diffraction interferometry) 중 하나에 적용하며,상기 광원부에서 출사되는 펄스 레이저의 반복률을 주사할 수 있는 반복률 주사 구동부;주파수 측정 기준이 되는 시간/주파수 표준부;반복률을 상기 시간/주파수 표준부에 소급된 주파수 측정기로 측정하여 제어하는 제어부; 및검출된 광신호를 저장 및 분석하는 처리부;를 포함하고,상기 반복률 주사 구동부는 전기-광학변조기(electro-optic modulator, EOM)와 같은 전기광학소자 또는 음향-광학 변조기(acousto-optic modulator, AOM)와 같은 음향광학소자로 구성되며, 이로부터 광 공진 길이를 조절함으로써 반복률을 고속으로 주사하는 것을 특징으로 하는 펄스 레이저 반복률 주사 기반 고속 고정밀 표면형상 측정 간섭계
14 14
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