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미세입자 계측 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015136599
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 (a) 시료 용액을 도입하는 주입구; (b) 상기 주입구로부터 도입된 시료 용액의 이동통로를 제공하는 메인 채널; (c) 상기 메인 채널을 통과한 시료의 적어도 하나 이상의 출구; 및 (d) 상기 메인 채널과 교차하는 임피던스 측정 채널을 구비하고, 메인 채널 및 임피던스 측정 채널은 상호 간의 유체 흐름을 물리적으로 제한하는 수단이 없이도 임피던스 측정이 가능하도록 조절된 너비를 갖는 미세입자 계측장치에 관한 것이다. 본 발명의 미세입자 계측장치를 이용함으로써, 유체 채널 내에 흐르는 미세입자의 개수 및 크기를 DC 전압하에서 측정할 수 있다.
Int. CL G01N 15/10 (2006.01.01) G01N 27/02 (2006.01.01) G01N 35/08 (2006.01.01) G01N 15/12 (2006.01.01)
CPC G01N 15/10(2013.01) G01N 15/10(2013.01)
출원번호/일자 1020130111080 (2013.09.16)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1568903-0000 (2015.11.06)
공개번호/일자 10-2015-0031637 (2015.03.25) 문서열기
공고번호/일자 (20151112) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.09.16)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정택동 대한민국 경기 과천시 별양로 ***,
2 김희찬 대한민국 서울 용산구
3 노종민 대한민국 전북 익산시 고봉로**길 **,
4 최형선 대한민국 서울 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박민흥 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 *** (역삼동) 타워***빌딩 *층(새온특허법률사무소)
2 최웅근 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 *** (역삼동) *층(새온특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.09.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0845771-55
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.04.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.06.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0049114-17
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0880147-21
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0172176-71
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.03.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0279473-57
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0395747-50
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.05.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0493427-21
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.05.22 수리 (Accepted) 1-1-2015-0493426-86
12 등록결정서
Decision to grant
2015.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0750589-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 시료 용액을 도입하는 주입구;(b) 상기 주입구로부터 도입된 시료 용액의 이동통로를 제공하는 메인 채널;(c) 상기 메인 채널을 통과한 시료의 적어도 하나 이상의 출구; 및(d) 상기 메인 채널과 교차하는 임피던스 측정 채널을 구비하되, 상기 메인 채널 및 임피던스 측정 채널은 상호 간의 유체 흐름을 물리적으로 제한하는 수단이 없이도 임피던스 측정이 가능하도록 조절된 너비를 갖고, 상기 메인 채널과 상기 임피던스 측정 채널의 교차 지점에서 발생하는 전기장을 시뮬레이션(Simulation)을 통해 예측하는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 임피던스 측정이 가능하도록 조절된 너비는 20μm이하인 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 임피던스 측정 채널은 메인 채널과 교차하는 지점을 중심으로 양말단에 각각 대향하는 제1 전극 및 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 제1 전극 및 제 2전극은 금속/금속염 전극인 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 금속/금속염 전극은 Ag/AgCl 전극인 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
6 6
제 3 항에 있어서, 상기 제1 전극 및 제2 전극은 임피던스 분석기에 연결된 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 임피던스 측정 채널은 미세입자 계측을 위한 전기장 형성을 위해 직류(DC)전압이 인가되는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 임피던스 측정채널은 상기 메인채널과 수직으로 교차하는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 임피던스 측정채널은 그 일부가 메인 채널과 평행하게 교차되어 하나의 채널을 공유하는 형태로 교차하는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 미세입자 계측장치는 유리, 플라스틱 및 폴리머(PDMS)로 구성된 군으로부터 선택되는 재료로 제작된 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측장치
11 11
제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 따른 미세입자 계측장치를 이용하여 미세입자를 계수하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 미세입자 계측방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.