요약 | 본 발명의 일실시예는, 그래핀(graphene)을 포함하는 탄소층; 상기 탄소층 상에 형성된 박막층; 상기 박막층 상에 형성된 채널층; 상기 박막층과 상기 채널층 사이에 형성되며, 상기 박막층과 상기 채널층 사이의 전류 흐름을 차단하는 전류 차단층; 및 상기 채널층 상에 형성된 소스 전극과 드레인 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자를 제공한다. |
---|---|
Int. CL | H01L 29/786 (2006.01.01) |
CPC | H01L 29/778(2013.01) H01L 29/778(2013.01) H01L 29/778(2013.01) H01L 29/778(2013.01) H01L 29/778(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020110088019 (2011.08.31) |
출원인 | 서울대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1217216-0000 (2012.12.24) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20121231) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2011.08.31) |
심사청구항수 | 26 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 서울대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이규철 | 대한민국 | 서울특별시 송파구 |
2 | 이철호 | 대한민국 | 서울특별시 동작구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 홍장원 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 *, *층(역삼동, 삼흥역삼빌딩)(특허법인 하나) |
2 | 안상희 | 대한민국 | 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고) |
3 | 남준욱 | 대한민국 | 경기도 성남시 분당구 대왕판교로***, A동 ***호(삼평동, 유스페이스*)(특허법인지담) |
4 | 특허법인 하나 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 *, *층(역삼동, 삼흥역삼빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 서울대학교산학협력단 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2011.08.31 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0681181-56 |
2 | 보정요구서 Request for Amendment |
2011.09.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2011-0084002-04 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.09.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5195109-43 |
4 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2011.10.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0776522-27 |
5 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 [Appointment of Agent] Report on Agent (Representative) |
2011.10.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0828209-05 |
6 | [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서 [Dismissal of Sub-agent] Report on Agent (Representative) |
2011.10.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0845035-01 |
7 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 [Appointment of Agent] Report on Agent (Representative) |
2012.05.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0376704-04 |
8 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2012.08.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
9 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2012.09.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0073868-52 |
10 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.10.11 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0608099-45 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 그래핀(graphene)을 포함하는 탄소층;상기 탄소층 상에 형성된 박막층;상기 박막층 상에 형성된 채널층;상기 박막층과 상기 채널층 사이에 형성되며, 상기 박막층과 상기 채널층 사이의 전류 흐름을 차단하는 전류 차단층; 및상기 채널층 상에 형성된 소스 전극과 드레인 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
2 |
2 제1항에 있어서,상기 탄소층에서 상측으로 성장된 복수의 미세 구조체를 더 포함하며,상기 박막층은 상기 미세 구조체를 피복하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
3 |
3 제2항에 있어서,상기 미세 구조체는 미세 막대, 미세 바늘, 미세 튜브, 및 미세 벽으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
4 |
4 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 탄소층의 하부에 위치한 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
5 |
5 제4항에 있어서,상기 기판과 상기 탄소층은 분리 가능한 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
6 |
6 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 전류 차단층은 상기 채널층보다 밴드갭이 큰 물질 또는 절연체로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
7 |
7 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층은 반도체 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
8 |
8 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층은 다층의 이종 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
9 |
9 제8항에 있어서,상기 채널층은 MgxZn1-xO와 ZnO의 쌍, AlxGa1-xN과 GaN의 쌍, AlxGa1-xAs와 GaAs의 쌍, 또는 Si와 Si1-xGex의 쌍 중 어느 하나의 쌍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
10 |
10 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층 상에 쇼트키 접합을 이용하여 형성된 게이트 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
11 |
11 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층 상에 형성된 게이트 유전체; 및상기 게이트 유전체 상에 형성된 게이트 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
12 |
12 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 박막층과 상기 전류 차단층은 단일한 층인 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
13 |
13 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층은 하나 이상의 도핑층을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 |
14 |
14 그래핀(graphene)을 포함하는 탄소층을 마련하는 단계;상기 탄소층 상에 박막층을 형성하는 단계;상기 박막층 상에 전류 차단층을 형성하는 단계;상기 전류 차단층 상에 채널층을 형성하는 단계; 및상기 채널층 상에 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하며,상기 전류 차단층은 상기 박막층과 상기 채널층 사이의 전류 흐름을 차단하는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
15 |
15 제14항에 있어서,상기 박막층을 형성하는 단계는, 상기 탄소층 상에서 상측으로 복수의 미세 구조체를 성장시키는 단계를 포함하며,상기 박막층은 상기 미세 구조체를 피복하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
16 |
16 제15항에 있어서,상기 미세 구조체는 미세 막대, 미세 바늘, 미세 튜브, 및 미세 벽으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
17 |
17 제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,상기 탄소층을 마련하는 단계는, 기판 상에 상기 그래핀을 포함하는 탄소층을 마련하는 단계인 것인 전자 소자의 제조 방법 |
18 |
18 제15항에 있어서,상기 미세 구조체를 성장시키는 단계는,상기 탄소층 상에 데미지(damage)를 생성하는 단계; 및상기 데미지로부터 상기 미세 구조체를 상측으로 성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
19 |
19 제18항에 있어서,상기 데미지를 생성하는 단계는,상기 탄소층 상에 마스크층을 형성하는 단계;상기 마스크층을 패터닝하여 복수개의 개구부를 형성하는 단계; 및상기 개구부를 통해 상기 탄소층에 데미지를 생성하는 단계를 포함하는 것인 전자 소자의 제조 방법 |
20 |
20 제18항에 있어서,상기 데미지를 생성하는 단계는, 가스 플라즈마, 이온빔, 전자빔, 양성자빔, 및 중성자빔 중 하나 이상의 방법을 이용하는 단계인 것인 전자 소자의 제조 방법 |
21 |
21 제19항에 있어서,상기 개구부를 형성하는 단계는, 전자빔 리소그래피, 포토리소그래피, 레이저 간섭 리소그래피, 나노임프린트, 및 탬플릿 중 하나 이상의 방법을 이용하는 단계인 것인 전자 소자의 제조 방법 |
22 |
22 제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층은 다층의 이종 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
23 |
23 제22항에 있어서,상기 채널층은 MgxZn1-xO와 ZnO의 쌍, AlxGa1-xN과 GaN의 쌍, AlxGa1-xAs와 GaAs의 쌍, 또는 Si와 Si1-xGex의 쌍 중 어느 하나의 쌍으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
24 |
24 제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층 상에 쇼트키 접합을 이용하여 게이트 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
25 |
25 제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,상기 채널층 상에 게이트 유전체를 형성하는 단계; 및상기 게이트 유전체 상에 게이트 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
26 |
26 제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,상기 박막층과 상기 전류 차단층은 단일한 층인 것을 특징으로 하는 전자 소자의 제조 방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US09666673 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US20150137114 | US | 미국 | FAMILY |
3 | WO2013032268 | WO | 세계지적재산권기구(WIPO) | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2015137114 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US9666673 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
3 | WO2013032268 | WO | 세계지적재산권기구(WIPO) | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 교육과학기술부 | 한국과학재단 | 창의적연구진흥사업 | 반도체 나노 막대 연구단 |
공개전문 정보가 없습니다 |
---|
특허 등록번호 | 10-1217216-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20110831 출원 번호 : 1020110088019 공고 연월일 : 20121231 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20121011 청구범위의 항수 : 26 유별 : H01L 29/786 발명의 명칭 : 전자 소자 및 그 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 529,500 원 | 2012년 12월 26일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 428,400 원 | 2015년 11월 26일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 428,400 원 | 2016년 02월 22일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 428,400 원 | 2017년 11월 24일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 544,000 원 | 2018년 12월 03일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 544,000 원 | 2019년 12월 03일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2011.08.31 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0681181-56 |
2 | 보정요구서 | 2011.09.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2011-0084002-04 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.09.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5195109-43 |
4 | [출원서등 보정]보정서 | 2011.10.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0776522-27 |
5 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 | 2011.10.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0828209-05 |
6 | [대리인해임]대리인(대표자)에 관한 신고서 | 2011.10.27 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0845035-01 |
7 | [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서 | 2012.05.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0376704-04 |
8 | 선행기술조사의뢰서 | 2012.08.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
9 | 선행기술조사보고서 | 2012.09.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0073868-52 |
10 | 등록결정서 | 2012.10.11 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0608099-45 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345145883 |
---|---|
세부과제번호 | 2004-0046410 |
연구과제명 | 반도체 나노막대 연구단 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200406~201305 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1345145883 |
---|---|
세부과제번호 | 2004-0046410 |
연구과제명 | 반도체 나노막대 연구단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200406~201305 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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