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표면장력 측정 장치 및 측정 방법

  • 기술번호 : KST2016001231
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 표면장력 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 종래의 광학적 방법을 통해 표면장력을 측정하는 것에 비해 훨씬 간단하고 정확도가 향상된 전기적 방법을 통한 표면장력 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것이다.
Int. CL G01N 27/22 (2006.01.01) G01N 33/18 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020110147980 (2011.12.31)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1312226-0000 (2013.09.17)
공개번호/일자 10-2013-0078841 (2013.07.10) 문서열기
공고번호/일자 (20130926) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.12.31)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이정훈 대한민국 서울특별시 서초구
2 권용주 대한민국 서울특별시 관악구
3 최승열 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 다해 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***, *층(삼성동,고운빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-1056688-22
2 보정요구서
Request for Amendment		 2012.01.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0005481-09
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2012.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2012-0047892-30
4 [출원서등 보정] 보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2012.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0065458-50
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0059070-34
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0114146-94
8 등록결정서
Decision to grant		 2013.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0526569-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전기적 특성을 이용하여 전도성 유체(30)와 비전도성 유체(20) 간의 표면장력의 크기를 측정하는 표면장력 측정 장치에 있어서,기판(11)과, 상기 기판(11) 상에 형성되는 전극(12)과, 상기 전극(12)의 상측에 형성되는 유전층(13)과,상기 전극(12)을 덮도록 전도성 유체(30)가 수용되어 있는 수용부(14)와,상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30) 사이에 전압을 인가하는 전압인가장치(40)를 포함하고, 상기 비전도성 유체(20)는 상기 전도성 유체(30) 내부에서 상기 유전층(13)을 사이에 두고 상기 전극(12) 상에 위치하도록 상기 수용부(14)에 제공되고, 상기 비전도성 유체(20)의 기하학적 형상에 따른 정전용량값을 측정하여 접촉각(contact angle) 및 표면장력의 크기를 측정하는,표면장력 측정 장치
2 2
전기적 특성을 이용하여 전도성 유체(30)와 비전도성 유체(20) 간의 표면장력의 크기를 측정하는 표면장력 측정 장치에 있어서,기판(11)과, 상기 기판(11) 상에 형성되는 전극(12)과, 상기 전극(12)의 상측에 형성되는 유전층(13)과,상기 전극(12)을 덮도록 상기 비전도성 유체(20)가 수용되어 있는 수용부(14)와, 상기 전도성 유체(30)는 상기 비전도성 유체(20) 내부에서 상기 유전층(13)을 사이에 두고 상기 전극(12) 상에 위치하도록 상기 수용부(14)에 제공되고, 상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30) 사이에 전압을 인가하는 전압인가장치(40)를 포함하고, 상기 전도성 유체(30)의 기하학적 형상에 따른 정전용량값을 측정하여 접촉각(contact angle) 및 표면장력의 크기를 측정하는,표면장력 측정 장치
3 3
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 전극(12)과 상기 수용부(14) 내의 유체 사이를 흐르는 전류를 측정하는 전류측정장치와, 상기 전압인가장치(40)에 의해 인가된 전압의 크기 및 상기 전류측정장치를 통해 측정된 전류의 크기를 이용하여 접촉각(contact angle) 및 표면장력의 크기를 계산하는 연산부를 더 포함하고, 상기 연산부는 수학식 1을 이용하여 정전용량값을 측정하고, 수학식 2를 이용하여 정전용량값으로부터 접촉각을 측정하는 것을 특징으로 하는, 표면장력 측정 장치
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 연산부는 수학식 3 내지 수학식 5 중 어느 하나를 이용하여 표면장력의 크기를 계산하는 것을 특징으로 하는, 표면장력 측정 장치
5 5
청구항 3에 있어서, 상기 유전층(13)에는 소수성 물질로 된 코팅층(15)이 더 형성된 것을 특징으로 하는, 표면장력 측정 장치
6 6
청구항 3에 있어서, 상기 전극은 상기 기판 상에 서로에 대해 이격 형성되도록 복수 개가 제공되는,표면장력 측정 장치
7 7
비전도성 유체(20)를 전도성 유체(30) 내부에서 전극(12)에 접촉각을 형성하도록 위치시키는 제1 단계;상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30)에 전압을 인가하고, 전압의 크기를 변화시켜가면서 상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30) 사이를 흐르는 전류를 측정하는 제2 단계;수학식 1을 이용하여 비전도성 유체(20)의 접촉각에 따른 정전용량값을 계산하는 제3 단계;수학식 2를 이용하여 접촉각 θ을 측정하는 제4 단계;수학식 3 내지 수학식 5 중 어느 하나를 이용하여 표면장력의 크기(γ)를 측정하는 제5 단계를 포함하는,표면장력 측정 방법
8 8
전도성 유체(20)를 비전도성 유체(30) 내부에서 전극(12)에 접촉각을 형성하도록 위치시키는 제1 단계;상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30)에 전압을 인가하고, 전압의 크기를 변화시켜가면서 상기 전극(12)과 상기 전도성 유체(30) 사이를 흐르는 전류를 측정하는 제2 단계;수학식 1을 이용하여 전도성 유체(30)의 접촉각에 따른 정전용량값을 계산하는 제3 단계;수학식 2를 이용하여 접촉각 θ을 측정하는 제4 단계;수학식 3 내지 수학식 5 중 어느 하나를 이용하여 표면장력의 크기(γ)를 측정하는 제5 단계를 포함하는,표면장력 측정 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09964479 US 미국 FAMILY
2 US20150233810 US 미국 FAMILY
3 WO2013100244 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 US2015233810 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9964479 US 미국 DOCDBFAMILY
3 WO2013100244 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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