[KST2015114774][한국과학기술원] |
시편 제작 장치 |
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[KST2015118753][한국과학기술원] |
단선 및 단락 테스트 구조를 갖는 3차원 집적 회로 및 이의 테스트 방법 |
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[KST2015116371][한국과학기술원] |
관통 실리콘 비아 연결성 탐침 소자, 이를 포함하는 연결성 측정 장치 및 방법 |
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[KST2014011557][한국과학기술원] |
원자 힘 현미경과 텅스텐 히터 팁을 이용한 상변화메모리의 피로 측정 시스템 및 그 제어 방법 |
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[KST2015116124][한국과학기술원] |
게이트 지연시간 및 출력시간의 모델링 방법 |
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[KST2015117909][한국과학기술원] |
시료 분석 장치 |
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[KST2020016891][한국과학기술원] |
액상 물질 플랫폼을 이용한 박막의 선택적 박리 및 전사 방법 |
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[KST2022002225][한국과학기술원] |
다중층 구조 검사 장치와 방법, 및 그 방법을 구비한 반도체 소자 제조방법 |
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[KST2015119509][한국과학기술원] |
유연기구를 이용한 회전 오차 보상 스테이지 |
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[KST2015118617][한국과학기술원] |
측정 패턴 구조체, 보정 구조체, 기판 처리 장치, 및 기판 처리 방법 |
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[KST2020005528][한국과학기술원] |
유기 기상젯 프린터 및 그것을 이용한 유기막 형성 방법 |
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[KST2017014701][한국과학기술원] |
자유형태 온도구배의 형성 및 동적 제어가 가능한 음향열적 미소 가열 장치(Acoustonthermal Heating Device for Free-form Temperature Gradients And Dynamic Creation) |
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[KST2019031117][한국과학기술원] |
반도체 전사용 마이크로 진공 모듈의 제작 방법 및 상기 마이크로 진공 모듈을 이용한 반도체의 전사 방법 |
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[KST2020000647][한국과학기술원] |
방사선에 의한 반도체 손상 방지 방법 및 장치 |
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[KST2020006652][한국과학기술원] |
마이크로 유체 소자 기반의 고성능 유기 전자 재료 프린팅 장치 및 이를 이용한 유기 전자 재료 프린팅 방법 |
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[KST2019024053][한국과학기술원] |
기상 관측용 기압소자 및 이를 이용한 기압 측정 시스템 |
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[KST2014046909][한국과학기술원] |
측정 패턴 구조체, 보정 구조체, 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
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[KST2014047239][한국과학기술원] |
집적 회로의 온도 예측 방법 및 이를 이용한 집적 회로의 플로어플래닝 방법 |
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[KST2019024015][한국과학기술원] |
방사선 손상에 대해 자가복구가 가능한 전계효과 트랜지스터 및 그의 손상복구 시스템 |
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[KST2015113310][한국과학기술원] |
측정 패턴 구조체, 보정 구조체, 기판 처리 장치, 및 기판 처리 방법 |
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[KST2023003432][한국과학기술원] |
반도체 웨이퍼 검사 장치 |
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[KST2015115254][한국과학기술원] |
광삼각법을 이용한 3차원 형상 측정기를 사용하여 PCB 범프 높이 측정 방법 |
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[KST2019021936][한국과학기술원] |
웨이퍼형 복합 무선 센서 및 이를 이용한 웨이퍼 처리 챔버 센싱 방법 |
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[KST2017007433][한국과학기술원] |
산화구리를 이용하는 전극 리페어 방법(Method for repairing electrode using copper oxide) |
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[KST2023009903][한국과학기술원] |
로드락 시스템을 이용한 연속 공정 가능한 iCVD 시스템 |
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[KST2023003356][한국과학기술원] |
연마 패드, 그를 포함하는 화학적 기계적 연마 장치, 및 그를 이용하는 반도체 소자의 제조 방법 |
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[KST2022024341][한국과학기술원] |
검사 장치 및 방법 |
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[KST2015118520][한국과학기술원] |
반도체 테스트 장치, 반도체 장치 및 반도체 테스트 방법 |
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[KST2017012699][한국과학기술원] |
원자힘 현미경용 캔틸레버 세트, 이를 포함하는 기판 표면 검사 장치, 이를 이용한 반도체 기판의 표면 분석 방법 및 이를 이용한 미세 패턴 형성 방법(Cantilever set for atomic force microscope, apparatus for substrate surface inspection comprising the same, method of analyzing a surface of a semiconductor substrate using the same, and method of forming a micropattern using the same) |
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[KST2020007677][한국과학기술원] |
두께 예측 네트워크 학습 방법, 반도체 소자 제조 방법 및 반도체 물질 퇴적 장비 |
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