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콜로이드 필름 표면의 평가 장치로서, 프로세서; 및상기 프로세서에 연결되는 메모리를 포함하되, 상기 메모리는, 콜로이드 입자가 기재 상에 코팅된 콜로이드 필름 표면에 대한 광학 현미경 이미지를 입력받고, 상기 광학 현미경 이미지로부터 상기 콜로이드 입자의 총 입자수 N개를 카운팅하고, 상기 카운팅된 N개의 콜로이드 입자들의 평면 좌표에 대한 위치 행렬을 생성하고, 상기 위치 행렬을 이용하여 상기 N개의 콜로이드 입자에 대해 각 입자의 평면 좌표를 기준점으로 하는 N개의 보로노이 다각형을 생성하고, 상기 N개의 보로노이 다각형 각각의 면적 및 상기 콜로이드 입자의 단면적을 이용하여 평면충진율을 계산하고,상기 계산된 평면충진율을 이용하여 상기 콜로이드 필름 표면의 결함 수준을 정량화하도록, 상기 프로세서에 의해 실행 가능한 프로그램 명령어들을 저장하는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제1항에 있어서, 상기 광학 현미경 이미지는 상기 콜로이드 필름의 서로 다른 위치에서 복수개로 획득되고, 상기 프로그램 명령어들은, 복수의 광학 현미경 이미지에 대해 독립적으로 평면충진율을 계산하는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제2항에 있어서, 상기 프로그램 명령어들은, 상기 복수의 광학 현미경 이미지 각각으로부터 얻어진 평면충진율의 평균값과 산포값을 계산하고, 상기 계산된 평균값과 산포값을 미리 저장된 레퍼런스 샘플과 비교하여 상기 콜로이드 필름 표면의 결함 수준을 평가하는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제3항에 있어서, 상기 평균값은 상기 복수의 광학 현미경 이미지에 포함된 콜로이드 입자 각각의 평면충진율의 앙상블 평균인 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제4항에 있어서, 상기 산포값은 아래의 수학식으로 결정되는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제1항에 있어서, 상기 콜로이드 필름 표면의 결함 수준을 정량화는 상기 콜로이드 필름 표면에서 콜로이드 입장의 치밀도 및 균일성을 정량화하는 것으로 정의되는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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제1항에 있어서, 상기 콜로이드 입자의 단면적은 미리 입력된 콜로이드 입자의 평균 반경으로부터 계산되는 콜로이드 필름 표면의 평가 장치
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프로세서 및 메모리를 포함하는 장치에서 콜로이드 필름 표면을 평가하는 방법으로서, 콜로이드 입자가 기재 상에 코팅된 콜로이드 필름 표면에 대한 광학 현미경 이미지를 입력받는 단계; 상기 광학 현미경 이미지로부터 상기 콜로이드 입자의 총 입자수 N개를 카운팅하는 단계; 상기 카운팅된 N개의 콜로이드 입자들의 평면 좌표에 대한 위치 행렬을 생성하는 단계; 상기 위치 행렬을 이용하여 상기 N개의 콜로이드 입자에 대해 각 입자의 평면 좌표를 기준점으로 하는 N개의 보로노이 다각형을 생성하는 단계; 상기 N개의 보로노이 다각형 각각의 면적 및 상기 콜로이드 입자의 단면적을 이용하여 평면충진율을 계산하는 단계; 및상기 계산된 평면충진율을 이용하여 상기 콜로이드 필름 표면의 결함 수준을 정량화하는 단계를 포함하는 콜로이드 필름 표면의 평가 방법
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제8항에 있어서, 상기 광학 현미경 이미지는 상기 콜로이드 필름의 서로 다른 위치에서 복수개로 획득되고, 상기 평면충진율 계산 단계는, 복수의 광학 현미경 이미지에 대해 독립적으로 평면충진율을 계산하며, 상기 평면충진율 계산 단계 이후, 상기 복수의 광학 현미경 이미지 각각으로부터 얻어진 평면충진율의 평균값과 산포값을 계산하는 단계; 및상기 계산된 평균값과 산포값을 미리 저장된 레퍼런스 샘플과 비교하는 단계를 더 포함하는 콜로이드 필름 표면의 평가 방법
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제8항에 따른 방법을 수행하는 컴퓨터 판독 가능한 프로그램
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