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실리콘 나노와이어 소자 제조방법

  • 기술번호 : KST2014036820
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 탑 다운 방식에 기초한 실리콘 나노와이어의 제조 공정을 바탕으로 양산성 있는 실리콘 나노와이 소자 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 제 1 실리콘 기판의 중앙부에 실리콘 나노와이어를 제작하는 제 1 단계; 상기 기판의 실리콘 나노와이어가 형성된 일측에 접착물질을 코팅하고, 상기 접착물질의 일측에 제 2 유전체기판을 본딩하는 제 2 단계; 상기 제 1 실리콘 기판의 하부를 연마하여 중앙부의 실리콘 나노와이어 센싱부를 외부로 노출시키고, 상기 노출된 실리콘 나노와이어를 지지하고 있는 양측의 넓은 지지 구조물에 전극을 형성하는 제 3 단계; 상기 전극에 전극보호물질을 형성하는 제 4 단계; 및 상기 노출된 실리콘 나노와이어를 덮고 있는 산화막을 제거한 후 전극보호물질을 제거하는 제 5단계를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법에 관한 것이다.
Int. CL H01L 21/60 (2006.01) B82B 3/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020090133183 (2009.12.29)
출원인 전자부품연구원, 주식회사 아이엠헬스케어
등록번호/일자 10-1163202-0000 (2012.06.29)
공개번호/일자 10-2011-0076465 (2011.07.06) 문서열기
공고번호/일자 (20120705) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.29)
심사청구항수 22

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 주식회사 아이엠헬스케어 대한민국 강원도 원주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정석원 대한민국 경기도 오산
2 성우경 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 이민호 대한민국 서울특별시 영등포구
4 이국녕 대한민국 서울 성북구
5 이상대 대한민국 경기도 수원시 영통구
6 이인제 대한민국 강원도 원주시 단구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)
2 노철호 대한민국 경기도 성남시 분당구 판교역로 ***, 에스동 ***호(삼평동,에이치스퀘어)(특허법인도담)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 경기도 성남시 분당구
2 주식회사 아이엠헬스케어 강원도 원주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0813528-55
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.04.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.05.19 수리 (Accepted) 9-1-2011-0044281-58
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.09.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0540691-58
5 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2011.10.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0825127-34
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0916975-36
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.12.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-1020435-12
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-1020436-57
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0167765-21
10 등록결정서
Decision to grant
2012.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0317558-53
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.03.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5036461-74
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.05.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-0063666-10
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2016-5104854-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.12.14 수리 (Accepted) 4-1-2017-5205325-07
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.16 수리 (Accepted) 4-1-2018-5233602-85
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제 1 실리콘 기판의 중앙부에 실리콘 나노와이어를 제작하는 제 1 단계;상기 제 1 실리콘 기판의 실리콘 나노와이어가 형성된 일측에 접착물질을 코팅하고, 상기 접착물질의 일측에 제 2 유전체기판을 본딩하는 제 2 단계;상기 제 1 실리콘 기판의 하부를 연마하여 중앙부의 실리콘 나노와이어 센싱부를 외부로 노출시키고, 상기 노출된 실리콘 나노와이어를 지지하고 있는 양측의 넓은 지지 구조물에 전극을 형성하는 제 3 단계;상기 전극에 전극보호물질을 형성하는 제 4 단계; 및상기 노출된 실리콘 나노와이어를 덮고 있는 산화막을 제거한 후 상기 전극보호물질을 제거하는 제 5단계;를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 제 1 단계는, 상기 제 1 실리콘 기판에 실리콘 질화막을 형성하는 제 a 단계,상기 제 1 실리콘 기판에 건식 식각공정을 통해 칼럼구조를 형성하는 제 b 단계,상기 칼럼구조가 형성된 실리콘 기판에 비등방성 습식 식각공정을 통해 지지 구조물 및 나노와이어 형성을 위한 역삼각형의 실리콘 구조물을 형성하는 제 c 단계,상기 실리콘 기판에 열산화막 형성공정을 통해 실리콘 나노와이어를 형성하는 제 d 단계를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 제 b 단계에서 상기 건식 식각은 DRIE(Deep reactive ion etching) 공정인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
4 4
청구항 2에 있어서,상기 c 단계에서 있어서 비등방성 식각 용액은 수산화칼륨(KOH)를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
5 5
청구항 1에 있어서,상기 제 2 유전체기판은 실리콘, 유리, 수정, 폴리머 중 적어도 하나인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
6 6
청구항 1에 있어서,상기 접착물질은 상온에서 고체상태를 유지하고 열을 가하면 접착성이 발생하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
7 7
청구항 6에 있어서,상기 접착물질은 벤조시클로부텐(BCB)인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
8 8
청구항 1에 있어서,상기 접착물질은 스핀 코팅되는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
9 9
삭제
10 10
청구항 1에 있어서,상기 제 2 유전체 기판이 유리 기판인 경우 제 1 실리콘 기판과 본딩시 상기 접착물질을 이용하지 않고 anodic bonding 공정을 이용하여 본딩하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
11 11
청구항 1에 있어서,상기 제 2 유전체 기판이 실리콘 산화막이 형성된 실리콘 기판인 경우 제 1 실리콘 기판과 본딩시 상기 접착물질을 이용하지 않고 SDB(silicon direct boonding) 공정을 이용하여 본딩하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
12 12
청구항 1에 있어서,상기 제 5 단계에서 상기 산화막은 BOE(Buffered oxide etch)용액을 이용한 습식식각법을 이용하여, 상기 실리콘 나노와이어를 덮고 있는 실리콘 산화막을 선택적으로 식각하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
13 13
제 1 실리콘 기판의 중앙부에 실리콘 나노와이어를 제작하는 제 1 단계;상기 제 1 실리콘 기판의 실리콘 나노와이어가 형성된 일측에 접착물질을 코팅하고, 상기 접착물질의 일측에 제 2 유전체기판을 본딩하는 제 2 단계;상기 제 1 실리콘 기판의 일측에 전극을 형성하는 제 3 단계;상기 제 1 실리콘 기판의 상기 전극이 형성된 면에 포토레지스트를 코팅하고 패터닝하는 제 4 단계;상기 포토레지스트 패터닝 공정을 통해 드러난 제 1 실리콘 기판을 건식 식각공정을 이용하여 제 1 실리콘 기판의 중앙부에 형성된 실리콘 나노와이어를 덮고 있는 열산화막이 드러나도록 식각하는 제 5 단계; 및상기 드러난 열산화막을 제거한 후 상기 포토레지스트층을 제거하는 제 6단계를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조 방법
14 14
청구항 13에 있어서,상기 제 1 단계는, 상기 제 1 실리콘 기판에 실리콘 질화막을 형성하는 제 a 단계,상기 제 1 실리콘 기판에 건식 식각공정을 통해 칼럼구조를 형성하는 제 b 단계,상기 칼럼구조가 형성된 실리콘 기판에 비등방성 습식 식각공정을 통해 지지 구조물 및 나노와이어 형성을 위한 역삼각형의 실리콘 구조물을 형성하는 제 c 단계,상기 실리콘 기판에 열산화막 형성공정을 통해 실리콘 나노와이어를 형성하는 제 d 단계를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
15 15
청구항 14에 있어서,상기 제 b 단계에서 상기 건식 식각은 DRIE(Deep reactive ion etching) 공정인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
16 16
청구항 14에 있어서,상기 c 단계에서 있어서 비등방성 식각 용액은 수산화칼륨(KOH)를 포함하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
17 17
청구항 13에 있어서,상기 제 2 유전체기판은 실리콘, 유리, 수정, 폴리머 중 적어도 하나인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
18 18
청구항 13에 있어서,상기 접착물질은 상온에서 고체상태를 유지하고 열을 가하면 접착성이 발생하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
19 19
청구항 18에 있어서,상기 접착물질은 벤조시클로부텐(BCB)인 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
20 20
청구항 13에 있어서,상기 접착물질은 스핀 코팅되는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
21 21
삭제
22 22
청구항 13에 있어서,상기 제 2 유전체 기판이 유리 기판인 경우 제 1 실리콘 기판과 본딩시 상기 접착물질을 이용하지 않고 anodic bonding 공정을 이용하여 본딩하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
23 23
청구항 13에 있어서,상기 제 2 유전체 기판이 실리콘 산화막이 형성된 실리콘 기판인 경우 제 1 실리콘 기판과 본딩시 상기 접착물질을 이용하지 않고 SDB(silicon direct boonding) 공정을 이용하여 본딩하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
24 24
청구항 13에 있어서,상기 제 6 단계에서 상기 산화막은 BOE(Buffered oxide etch)용액을 이용한 습식식각법을 이용하여, 상기 실리콘 나노와이어를 덮고 있는 실리콘 산화막을 선택적으로 식각하는 실리콘 나노와이어 소자 제조방법
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1 지식경제부 전자부품연구원 전략기술개발사업 Al 기반의 u-Health 센서 및 계측 기술 개발