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원자간력 현미경용 단일/멀티 캔틸레버 탐침 및 그의제조방법

  • 기술번호 : KST2015158756
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 FET 캔틸레버 탐침은 원자간력 현미경(AFM) 캔틸레버 막대 위에 MOSFET 채널이 단일 또는 다수의 어레이 형태로 집적되어 나노미터 크기 영역에서 전하를 이용하여 데이터 저장 및 읽기에 사용될 수 있다. 본 발명의 FET 캔틸레버는 p형 단결정 실리콘-온-절연체(SOI) 웨이퍼를 이용하여 MEMS 공정과 CMOS 공정에 의해 팁 형상의 캔틸레버 아암을 형성하고 아암 선단부의 채널영역을 제외한 나머지 n형 영역을 고 에너지 이온빔으로 이온주입하여, 원자간력 현미경(AFM) 캔틸레버 탐침의 선단부에 n++-p-n++ 구조의 FET 트랜지스터를 형성하였다. 트랜지스터 구동을 위한 전극은 FET 캔틸레버의 자연 공명 진동수에 영향을 주지 않게 하려고 캔틸레버 아암이 붙어 있는 몸체쪽에 형성하였다. 동일한 방식으로 다수의 캔틸레버 탐침을 단일 SOI 웨이퍼에 집적하여 멀티 캔틸레버 탐침을 제작할 수 있다.AFM, 캔틸레버, 전하량 측정, FET 채널 탐침, 멀티 탐침
Int. CL G01B 21/30 (2011.01) G01N 37/00 (2011.01) B82Y 20/00 (2011.01) G02B 21/00 (2011.01)
CPC G01Q 60/38(2013.01) G01Q 60/38(2013.01)
출원번호/일자 1020010072796 (2001.11.21)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0466157-0000 (2005.01.04)
공개번호/일자 10-2003-0041725 (2003.05.27) 문서열기
공고번호/일자 (20050114) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.11.21)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 국양 대한민국 서울특별시 강남구
2 서문석 대한민국 경기도 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이재화 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 덕천빌딩 *층 이재화특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2001.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2001-0303655-85
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2003.08.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2003.09.19 수리 (Accepted) 9-1-2003-0043283-05
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2003.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0467869-65
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2004.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2004-0029457-05
6 의견서
Written Opinion
2004.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2004-0073593-72
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2004.02.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2004-0073591-81
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.06.17 수리 (Accepted) 4-1-2004-0025803-54
9 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2004.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2004-5090978-28
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.06.17 수리 (Accepted) 4-1-2004-0025800-17
11 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
2004.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2004-5112013-12
12 등록결정서
Decision to grant
2004.10.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0426086-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
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번호 청구항
1 1

적어도 하나의 나노미터 영역에 대한 전하의 저장 및 읽기에 사용되는 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 방식의 캔틸레버 탐침에 있어서,

단결정 벌크형 제1실리콘 층위에 제1절연층과 제2실리콘 층이 순차적으로 올려져 있는 p형 단결정 실리콘-온-절연체(SOI) 기판과,

상기 SOI 기판 위에 형성된 제2절연층과,

각각 상기 제2절연층 위에 형성되며 소스 및 드레인이 연결되는 적어도 하나의 소스 전극패드 및 드레인 전극패드와,

각각 상기 SOI 기판의 제2실리콘 층으로부터 막대 형상으로 연장 형성되며 양측변으로 소스 및 드레인과 소스 전극패드 및 드레인 전극패드를 각각 상호 연결하기 위한 제1 및 제2 연결배선이 소정 간격으로 배치된 적어도 하나의 캔틸레버 아암과,

각각 상기 제1 및 제2 연결배선의 선단부로부터 서로 만나도록 경사각도를 갖고 밴드 형상으로 연장 형성되며 n형 불순물이 고 에너지 이온 주입되어 형성된 소스 영역 및 드레인 영역과, 상기 소스 및 드레인 영역이 만나는 선단부에 배치된 p형의 채널형성 영역을 포함하는 n++-p-n++ 구조의 적어도 하나의 FET 채널로 구성되며,

상기 적어도 하나의 FET 채널은 FET 채널과 근접된 적어도 하나의 MOS(Metal Oxide Semiconductor)형 나노미터 영역에 대한 전하의 동시 저장 및 적어도 하나의 MOS형 나노미터 영역에 트랩된 전하의 동시 읽기에 사용되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

2 2

다수의 나노미터 영역에 대한 전하의 저장 및 읽기에 사용되는 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 방식의 캔틸레버 탐침에 있어서:

단결정 벌크형 제1실리콘 층위에 제1절연층과 제2실리콘 층이 순차적으로 올려져 있는 제1타입의 불순물이 도핑된 단결정 실리콘-온-절연체(SOI) 기판과, 상기 SOI 기판 위에 형성된 제2절연층과, 각각 상기 제2절연층 위에 형성되며 각각 소스 및 드레인이 연결되는 다수의 소스 전극패드 및 드레인 전극패드를 포함하는 탐침 본체와;

각각 상기 탐침 본체의 제2실리콘 층으로부터 막대 형상으로 연장 형성되며 소스 전극패드 및 드레인 전극패드와 연결되는 제1 및 제2 연결배선이 소정 간격으로 배치된 다수의 캔틸레버 아암과;

각각 상기 제1 및 제2 연결배선의 선단부로부터 서로 만나도록 경사각도를 갖고 밴드 형상으로 연장 형성되며 제2타입의 불순물이 고 에너지 이온 주입되어 형성된 소스 영역 및 드레인 영역과, 상기 소스 및 드레인 영역이 만나는 선단부에 배치된 제1타입의 불순물이 도핑된 채널형성 영역을 포함하는 다수의 FET 채널로 구성되며,

상기 다수의 FET 채널은 FET 채널과 근접된 다수의 MOS형 나노미터 영역에 대한 전하의 동시 저장 및 다수의 나노미터 영역에 트랩된 전하의 동시 읽기에 사용되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

3 3

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 캔틸레버 아암이 다수개일 때 상호간의 휨 정도의 차이를 보상하여 서로 동일한 자연 공명 진동수를 갖기 위해 SOI 기판으로부터 캔틸레버 아암의 일부로 연장 형성된 질화막을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

4 4

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 캔틸레버 아암은 각각 SOI 기판의 제2실리콘 층으로부터 서로 일정한 간격을 유지하면서 일정한 폭으로 평행하게 연장되어, 제1 및 제2 연결배선을 이루는 제1 및 제2 아암으로 구성되고,

상기 제1 및 제2 아암의 선단부분에 캔틸레버 아암과 피측정체인 나노영역 사이에 일정한 거리를 유지하도록 얼라인하는데 이용되는 레이저 빔 반사판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

5 5

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 캔틸레버 아암은 각각 SOI 기판의 제2실리콘 층으로부터 서로 일정한 간격을 유지하면서 일정한 폭으로 평행하게 연장된 제1 내지 제3 아암으로 구성되며,

상기 제1 및 제2 아암의 선단부에서 제3아암의 선단부로 각각 일자형 제1 및 제2 연결부가 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

6 6

제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 FET 채널은 제1 및 제2 아암의 각 선단부로부터 선단부가 만나도록 내측 방향 경사각을 갖고 연장 형성된 p형 제1 및 제2 경사연결부와, 상기 p형 제1 및 제2 경사연결부에 n형 불순물을 고 에너지 이온 주입하여 형성된 소스 영역 및 드레인 영역과, 상기 소스 및 드레인 영역이 만나는 선단부에 배치된 p형의 채널형성 영역으로 구성되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

7 7

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 탐침 본체는 사각형상으로 이루어진 다수의 관통구멍을 포함하며, 다수의 캔틸레버 아암은 각각 관통구멍의 내주면으로부터 공간을 향하여 선단부가 연장 형성되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침

8 8

적어도 하나의 나노미터 영역에 대한 전하의 저장 및 읽기에 사용되는 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법에 있어서,

(가) 단결정 벌크형 제1실리콘 층위에 제1절연층과 제2실리콘 층이 순차적으로 올려져 있는 제1타입의 불순물이 도핑된 단결정 실리콘-온-절연체(SOI) 기판의 양면에 상부 및 하부 제2절연층을 형성하는 단계와,

(나) 상기 상부 제2절연층의 일부분을 패턴닝하여 선단부에 적어도 하나의 역 V자형 돌출부를 갖는 대형상의 아암 패턴을 형성하는 단계와,

(다) 상기 패턴닝된 상부 제2절연층을 식각 마스크로 사용하여 제2실리콘 층의 노출부분을 제거하여 선단부에 적어도 하나의 역 V자형 돌출부를 갖는 대형상의 아암 패턴을 형성하는 단계와,

(라) 상기 기판의 하부 제2절연층을 제거한 상태에서 각각 상부 제2절연층을 패턴닝하여 각각 상기 아암 형태로 패턴닝된 제2실리콘 층의 역 V자형 선단부에 선형상으로 소스 영역와 드레인 영역과 이들 사이에 채널형성 영역을 정의함과 동시에 소스 영역과 드레인 영역으로부터 아암 패턴을 따라 후단부로 연장되어 본체에 소스 및 드레인 접촉패드를 형성하기 위해 제1 및 제2 패드를 노출시키기 위한 적어도 하나의 이온 주입 마스크를 형성하는 단계와,

(마) 상기 이온 주입 마스크를 이용하여 제2타입의 불순물을 적어도 하나의 제2실리콘 층으로 고 에너지 이온 주입한 후 열처리하여 불순물을 활성화시킴에 의해 소스 영역 및 드레인 영역과 이로부터 소스 및 드레인 접촉패드와 연결되는 제1 및 제2 배선을 각각 형성하는 단계와,

(바) 각각 상기 아암 부분의 상부 제2절연층을 제거한 후 본체 부분의 상부 제2절연층 위에 상기 소스 및 드레인 접촉패드와 연결되는 소스 및 드레인 전극패드를 형성하는 단계와,

(사) 상기 기판의 상부면을 보호층으로 보호한 상태에서 각 아암 부분에 제2실리콘 층만을 남기도록 기판 하부면의 벌크형 제1실리콘 층과 제1절연층을 건식 식각방법으로 패턴닝하여 제거하고 이어서 상기 보호층을 제거하는 단계로 구성되어,

각각 상기 제2실리콘 층의 아암 선단부에 역 V자형 선형상으로 패턴 형성되고 제2타입의 불순물이 고 에너지 이온 주입된 소스 영역 및 드레인 영역과, 소스 및 드레인 영역 사이의 제1타입의 불순물이 도핑된 채널형성 영역을 포함하는 적어도 하나의 FET 채널이 형성되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

9 9

삭제

10 10

제8항에 있어서, 상기 (다) 단계에서 패턴닝된 제2실리콘 층의 아암은 SOI 기판의 제2실리콘 층으로부터 서로 일정한 간격을 유지하면서 일정한 폭으로 평행하게 연장된 제1 내지 제3 아암으로 구성되며,

상기 제1 및 제2 아암의 선단부에서 제3아암의 선단부로 각각 일자형 제1 및 제2 연결부가 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

11 11

제8항에 있어서, 상기 (라) 단계에서 이온 주입 마스크를 형성하는 단계는

저해상도의 제1감광제를 기판에 도포한 후 저속 회전 및 고속 회전으로 회전 도포하여 제1감광막을 형성하는 단계와,

열처리를 거치지 않은 상태에서, 고해상도의 제2감광제를 제1감광막 위에 도포한 후 저속 회전 및 고속 회전으로 회전 도포하여 제2감광막을 형성하는 단계와,

상기 제1 및 제2 감광막에 대한 열처리 후에 감광막에 대한 자외선 노광을 제1감광제의 노광조건에 따라 실시하는 단계와,

상기 자외선 노광 후 제2감광제용 현상액을 사용하여 제1 및 제2 감광막을 현상함에 의해 상부 제2절연층을 패턴닝하기 위한 식각 마스크를 형성하는 단계와,

상기 식각 마스크를 사용하여 노출된 상부 제2절연층을 식각하여 이온 주입 마스크를 형성하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

12 12

제8항에 있어서, 상기 제2실리콘 층을 패턴닝하는 단계는 비등방성 식각방법을 이용하여 실행되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

13 13

제8항에 있어서, 상기 소스 및 드레인 접촉패드와 연결되는 소스 및 드레인 전극패드를 형성하는 단계는

상기 기판의 상부면과 하부면에 연결배선용 금속물질로 상부 및 하부 금속막을 형성하는 단계와,

상기 하부 금속막을 식각용액으로부터 보호하면서 상부 금속막을 패턴닝하여 소스 및 드레인 접촉패드와 연결되는 소스 및 드레인 전극패드를 형성하는 단계로 구성되며,

상기 기판 하부면의 벌크형 제1실리콘 층과 제1절연층을 건식 식각방법으로 패턴닝하기 위한 식각 마스크는 상기 하부 금속막을 패턴닝하여 형성되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

14 14

제8항에 있어서, 상기 (나) 단계에서 상부 제2절연층의 일부분을 패턴닝하여 선단부에 역 V자형 돌출부를 갖는 대형상의 아암은 상부 제2절연층 본체로부터 동일한 방향을 따라 평행하게 다수개 배열되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

15 15

제8항에 있어서, 상기 상부 제2절연층 본체는 사각형상으로 이루어진 다수의 관통구멍을 포함하며, 다수의 아암이 각각 관통구멍의 내주면으로부터 공간을 향하여 선단부가 연장 형성된 패턴으로 성형되는 것을 특징으로 하는 FET 방식의 캔틸레버 탐침 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.