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타겟 분자 검출 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015134875
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 기술은 하나 이상의 타겟 분자의 검출을 위한 장치들을 제공한다. 이 장치들은 타겟 분자가 통과할 수 있도록 구성된 나노채널(nanochannel)을 포함하는 멤브레인, 전기적 검출 유닛, 및 광학 검출 유닛을 포함한다. 이 장치들은 하나 이상의 타겟 분자의 위치, 그 위치에 분자들이 도착하는 시간, 그 분자들의 종류(identity)를 검출할 수 있다. 이 장치들을 제조하는 방법들 및 이 장치들을 이용하여 단일 분자 또는 바이오분자들을 포함하는 타겟 분자를 검출하는 방법들이 또한 개시된다.
Int. CL G01N 21/65 (2006.01.01) C12Q 1/68 (2018.01.01) G01N 21/64 (2006.01.01) B82Y 20/00 (2017.01.01)
CPC G01N 33/48721(2013.01) G01N 33/48721(2013.01) G01N 33/48721(2013.01) G01N 33/48721(2013.01)
출원번호/일자 1020080115238 (2008.11.19)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0024876 (2010.03.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 미국  |   12/197,867   |   2008.08.25
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.11.19)
심사청구항수 27

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권성훈 대한민국 서울특별시 관악구
2 김준회 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
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최종권리자

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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.11.19 수리 (Accepted) 1-1-2008-0798193-10
2 보정요구서
Request for Amendment		 2008.12.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0132478-89
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.01.08 수리 (Accepted) 1-1-2009-0011953-57
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2009.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2009-0072284-84
5 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2009-0803396-35
6 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2009-0803424-26
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.02.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 우선권주장증명서류제출서(USPTO)
Submission of Priority Certificate(USPTO)		 2010.03.02 수리 (Accepted) 9-1-2010-9001534-90
9 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2010.03.17 수리 (Accepted) 9-1-2010-0016484-84
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0419972-32
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2010.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0553690-72
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하나 이상의 타겟 분자를 검출하기 위한 장치에 있어서, 제1 및 제2 챔버를 분리시키고, 상기 하나 이상의 타겟 분자가 통과할 수 있도록 구성된 나노채널(nanochannel)을 포함하는 멤브레인; 상기 하나 이상의 타겟 분자가 상기 나노채널을 통과하는 것을 검출하도록 구성된 전기적 검출 유닛; 및 상기 나노채널을 통과하는 상기 하나 이상의 타겟 분자를 식별하도록 구성된 광학 검출 유닛 을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 챔버는 각각 전해질(electrolyte)을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 멤브레인은 유전 물질을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
4 4
제3항에 있어서, 상기 유전 물질은 실리콘 질화물, 실리콘 산화물, 유리(glass), 타이타늄 산화물, 탄탈륨 산화물, 알루미늄 산화물 또는 쿼츠를 포함하는 타겟 분자 검출 장치
5 5
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 멤브레인은 상기 멤브레인의 표면 상에 배치된 라만 산란 증강 물질(Raman scattering enhancing matarial)을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 라만 산란 증강 물질은 하나 이상의 금속을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
7 7
제6항에 있어서, 상기 금속은 금, 은, 백금, 구리, 또는 알루미늄으로부터 선택되는 타겟 분자 검출 장치
8 8
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 나노채널은 약 20nm 이하의 지름을 갖는 타겟 분자 검출 장치
9 9
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전기적 검출 유닛은 상기 멤브레인에 걸쳐 전압 또는 전류를 인가하고, 상기 하나 이상의 타겟 분자가 상기 나노채널을 통과할 때 전류 신호 변화를 검출하도록 구성된 타겟 분자 검출 장치
10 10
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학 검출 유닛은 상기 하나 이상의 타겟 분자에 전자기 에너지 소스(electromagnetic energy source)를 인가하고, 상기 전자기 에너지 소스에 의해 생성되는 상기 하나 이상의 타겟 분자들로부터의 광학 신호를 검출하도록 구성된 타겟 분자 검출 장치
11 11
제10항에 있어서, 상기 광학 신호는 라만 산란 또는 형광인 타겟 분자 검출 장치
12 12
제10항에 있어서, 상기 전자기 에너지는 가시광선, 적외선, X-선, 또는 자외선을 포함하는 타겟 분자 검출 장치
13 13
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하나 이상의 타겟 분자는 하나 이상의 바이오분자(biomolecule)를 포함하는 타겟 분자 검출 장치
14 14
제13항에 있어서, 상기 하나 이상의 바이오분자는 폴리펩타이드, DNA, RNA 또는 단백질 분자를 포함하는 타겟 분자 검출 장치
15 15
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하나 이상의 타겟 분자는 하나 이상의 형광성 태그를 포함하는 타겟 분자 검출 장치
16 16
하나 이상의 타겟 분자를 검출하기 위한 방법에 있어서, 상기 하나 이상의 타겟 분자가 통과할 수 있도록 구성된 나노채널을 포함하는 멤브레인에 걸쳐 전기적 소스를 인가하는 단계; 상기 하나 이상의 타겟 분자가 상기 나노채널을 통과할 때 전기적 신호 변화를 검출하는 단계; 상기 하나 이상의 타겟 분자에 전자기 에너지 소스를 인가하는 단계; 및 상기 전자기 에너지 소스에 의해 생성된, 상기 하나 이상의 타겟 분자로부터의 광학 신호를 검출하는 단계 를 포함하는 타겟 분자 검출 방법
17 17
제16항에 있어서, 상기 전기적 소스는 전압 소스 또는 전류 소스를 포함하고, 상기 전기적 신호 변화는 전류 신호 변화를 포함하는 타겟 분자 검출 방법
18 18
제16항 또는 제17항에 있어서, 상기 광학 신호는 라만 산란 또는 형광인 타겟 분자 검출 방법
19 19
제16항 또는 제17항에 있어서, 상기 멤브레인은 상기 멤브레인의 표면 상에 배치된 라만 산란 증강 물질을 포함하는 타겟 분자 검출 방법
20 20
제19항에 있어서, 상기 라만 산란 증강 물질은 하나 이상의 금속을 포함하는 타겟 분자 검출 방법
21 21
제20항에 있어서, 상기 금속은 금, 은, 백금, 구리, 또는 알루미늄으로부터 선택되는 타겟 분자 검출 방법
22 22
하나 이상의 타겟 분자를 검출하기 위한 장치를 제조하는 방법에 있어서, 제1 챔버와 제2 챔버를 분리하는, 상기 하나 이상의 타겟 분자가 통과할 수 있도록 구성된 나노채널을 포함하는 멤브레인을 포함하는 시스템을 제공하는 단계; 상기 하나 이상의 타겟 분자가 상기 나노채널을 통과하는 것을 검출하도록 구성된 전기적 검출 유닛을 제공하는 단계; 및 상기 나노채널을 통과하는 상기 하나 이상의 타겟 분자를 식별하도록 구성된 광학 검출 유닛을 제공하는 단계 를 포함하는 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
23 23
제22항에 있어서, 상기 멤브레인 표면 상에 라만 산란 증강 물질층을 형성하는 단계를 더 포함하는 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
24 24
제23항에 있어서, 상기 라만 산란 증강 물질층은 금, 은, 백금, 구리, 또는 알루미늄으로부터 선택되는 하나 이상의 금속을 포함하는 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
25 25
제22항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광학 검출 유닛은 상기 하나 이상의 타겟 분자에 전자기 에너지 소스를 인가하고, 상기 전자기 에너지 소스에 의해 생성된 상기 하나 이상의 타겟 분자로부터의 광학 신호를 검출하도록 구성된 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
26 26
제25항에 있어서, 상기 광학 신호는 라만 산란 또는 형광인 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
27 27
제22항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전기적 검출 유닛은 상기 멤브레인에 걸쳐 전압 또는 전류를 인가하고, 상기 하나 이상의 타겟 분자가 상기 나노채널을 통과할 때 전류 신호 변화를 검출하도록 구성된 타겟 분자 검출 장치 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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