맞춤기술찾기

이전대상기술

반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 및 방법(Method and Circuit for Controlling Precharge of Semiconductor Memory Device)

  • 기술번호 : KST2016020166
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 로우 해머 현상으로 인한 결함을 방지할 수 있는 반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 및 방법이 개시된다. 개시된 프리차지 제어 회로 는, 프리차지 제어 신호를 수신하는 신호 수신부; 및 상기 프리차지 제어 신호에 응답하여, 기 설정된 시간 동안 비트라인을 제1전압으로 프리차지한 이후, 상기 제1전압보다 작은 제2전압으로 상기 비트라인을 디스차지하는 프리차지 드라이버를 포함한다.
Int. CL G11C 11/4094 (2006.01) G11C 5/14 (2006.01) G11C 11/4091 (2006.01) G11C 7/12 (2006.01) G11C 7/10 (2015.01)
CPC G11C 7/12(2013.01) G11C 7/12(2013.01) G11C 7/12(2013.01) G11C 7/12(2013.01) G11C 7/12(2013.01) G11C 7/12(2013.01)
출원번호/일자 1020150073970 (2015.05.27)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0139321 (2016.12.07) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.05.27)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 백상현 대한민국 서울특별시 서초구
2 임철승 대한민국 서울특별시 은평구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2015-0508911-60
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.06.15 수리 (Accepted) 1-1-2015-0572758-15
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.01.08 수리 (Accepted) 9-1-2016-0000782-84
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0672140-14
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.11.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1116852-94
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2016-1116854-85
8 등록결정서
Decision to grant
2017.03.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0219781-35
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로에 있어서,프리차지 제어 신호를 수신하는 신호 수신부; 및상기 프리차지 제어 신호에 응답하여, 비트라인을 제1전압 또는 상기 제1전압보다 작은 제2전압으로 프리차지하는 프리차지 드라이버를 포함하며,상기 프리차지 드라이버는 상기 비트라인에 대한 메모리 셀로의 액세스 횟수에 따라, 상기 비트라인을 상기 제1전압으로 프리차지한 후 상기 제2전압으로 디스차지하는프리차지 제어 회로
5 5
제 4항에 있어서,상기 프리차지 드라이버는상기 프리차지 제어 신호에 응답하여, 상기 비트라인을 상기 제2전압으로 프리차지하되, 리프레시 주기 동안 상기 액세스 횟수가 임계값 이상인 경우, 상기 비트라인을 상기 제1전압으로 프리차지하는프리차지 제어 회로
6 6
제 4항에 있어서,상기 신호 수신부는 디스차지 제어 신호를 더 수신하며,상기 프리차지 드라이버는상기 비트라인이 상기 제1전압으로 기 설정된 시간동안 프리차지된 이후 인에이블되는 디스차지 제어 신호에 응답하여, 상기 비트라인을 상기 제2전압으로 디스차지하는프리차지 제어 회로
7 7
제 4항에 있어서,상기 제1전압은 전원 전압(VDD)이며,상기 제2전압은 VDD/2 전압인프리차지 제어 회로
8 8
반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 방법에 있어서,비트라인에 대한 메모리 셀로의 액세스 횟수를 카운팅하는 단계;프리차지 제어 신호에 응답하여, 상기 액세스 횟수에 따라, 상기 비트라인을 제1전압으로 프리차지하는 단계; 및상기 비트라인이 기 설정된 시간 동안 상기 제1전압으로 프리차지된 경우, 상기 기 설정된 시간 이후, 제2전압으로 상기 비트라인을 디스차지하는 단계를 포함하는 프리차지 제어 방법
9 9
제 8항에 있어서,상기 비트라인을 디스차지하는 단계는상기 기 설정된 시간 이후 인에이블되는 디스차지 제어 신호에 응답하여 상기 비트라인을 디스차지하는프리차지 제어 방법
10 10
삭제
11 11
제 8항에 있어서,리프레시 한주기 내에서 적어도 한번, 상기 비트라인을 상기 제1전압으로 프리차지하는 단계를 더 포함하는 프리차지 제어 방법
12 12
제 8항에 있어서,상기 제1전압은 전원 전압(VDD)이며,상기 제2전압은 VDD/2 전압인프리차지 제어 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지방자치단체 경기도청 한양대학교(ERICA캠퍼스) 경기지역협력연구센터사업(GRRC)/경기지역협력연구센터사업(GRRC)/GRRC기본과제 반도체를 이용한 방사능 영향 센서 시스템(경기도)