맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

광 산란 패턴 검출 장치 및 광 산란 패턴 검출 방법

  • 기술번호 : KST2015116674
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 샘플에 대한 광 산란 패턴을 검출하는 광 산란 패턴 검출 장치가 제공된다. 일 실시 예에 의한 광 산란 패턴 검출 장치는, 상기 샘플에 빛을 조사하는 빛 소스, 상기 샘플로부터 산란되는 빛의 산란 패턴을 검출하는 검출기, 상기 샘플에 대한 빛의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경시키는 파면 제어기 및 복수 개의 변경된 조사 각도 각각에서 검출되는 복수 개의 산란 패턴을 합성하는 프로세서를 포함한다.
Int. CL G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01)
CPC G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01) G01N 21/47(2013.01)
출원번호/일자 1020130139105 (2013.11.15)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1492343-0000 (2015.02.04)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.11.15)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박용근 대한민국 대전 유성구
2 이겨례 대한민국 충청남도 서천군

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 주식회사 토모큐브 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2013.11.15 수리 (Accepted) 1-1-2013-1042309-41
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2014.07.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2014.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2014-0024566-72
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2014.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0597141-97
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2014.10.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1039802-13
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2014-1039803-58
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 등록결정서
Decision to grant		 2015.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0065245-93
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
샘플에 대한 홀로그램 패턴을 검출하는 홀로그램 패턴 검출 장치에 있어서,상기 샘플에 간섭성 빛을 조사하는 빛 소스;상기 샘플로부터 산란되는 빛으로부터 홀로그램 패턴을 검출하는 검출기;상기 샘플에 대한 빛의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경시키는 파면 제어기; 및복수 개의 변경된 조사 각도 각각에서 검출되는 복수 개의 홀로그램 패턴을 합성하는 프로세서를 포함하는 홀로그램 패턴 검출 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 파면 제어기는, 상기 빛 소스 및 상기 샘플 사이에 배치되며, 상기 샘플에 조사되는 빛의 조사 각도를 변경하는 파면 제어기인 홀로그램 패턴 검출 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 프로세서는, 상기 복수 개의 홀로그램 패턴 중 서로 중첩된 영역의 홀로그램 패턴의 복소 산란 정보 중 적어도 하나에 대하여 산술 평균을 적용하는 홀로그램 패턴 검출 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 파면 제어기는, 상기 빛 소스 및 상기 샘플 사이에 배치되며, 상기 샘플에 조사되는 빛의 파면 패턴을 변경하는 파면 제어기인 홀로그램 패턴 검출 장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 파면 제어기는, 빛의 파면 패턴을 랜덤하게 또는 기설정된 방식으로 변경하는 홀로그램 패턴 검출 장치
6 6
제 4 항에 있어서,상기 프로세서는, 복수 개의 변경된 파면 패턴에 의하여 산란된 복수 개의 홀로그램 패턴을 합성하는 홀로그램 패턴 검출 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 홀로그램 패턴 검출 장치는 위상 변이 간섭계로,상기 빛 소스로부터 조사되는 상기 빛을 확장하는 빔 확장기(beam expander);상기 빔 확장기로부터 확장된 빛을 제 1 스플리트 빔 및 제 2 스플리트 빔으로 스플리팅(spliting)하여, 상기 제 1 스플리트 빔을 상기 빛의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경시키는 수단으로 전달하는 빔 스플리터(beam splitter);상기 빔 스플리터로부터 전달되는 상기 제 2 스플리트 빔을 반사시키는 거울; 및상기 제 1 스플리트 빔 및 상기 샘플 사이에 배치되는 적어도 하나의 렌즈를 더 포함하는 홀로그램 패턴 검출 장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 홀로그램 패턴 검출 장치는 마하-젠더 간섭계로,상기 빛 소스로부터 조사되는 상기 빛을 확장하여 샘플로 전달하는 빔 확장기(beam expander);상기 빔 확장기로부터 확장된 빛을 제 1 스플리트 빔 및 제 2 스플리트 빔으로 스플리팅(spliting)하여, 상기 제 1 스플리트 빔을 상기 샘플로 전달하는 제 1 빔 스플리터(beam splitter);상기 제 1 빔 스플리터로부터 전달되는 상기 제 1 스플리트 빔을 반사시키는 적어도 하나의 거울;상기 적어도 하나의 거울에 의하여 반사되는 제 1 스플리트 빔을 전달받아 상기 검출기로 전달하는 제 2 빔 스플리터; 및상기 샘플 및 상기 제 2 빔 스플리터 사이에 배치되는 적어도 하나의 렌즈를 더 포함하는 홀로그램 패턴 검출 장치
9 9
샘플에 대한 홀로그램 패턴을 검출하는 홀로그램 패턴 검출 장치에 있어서,상기 샘플에 각각 상이한 조사 각도로 간섭성 빛을 조사하는 복수 개의 빛 소스;상기 샘플로부터 산란되는 빛으로부터 홀로그램 패턴을 검출하는 검출기; 및복수 개의 조사 각도에서 검출되는 복수 개의 홀로그램 패턴을 합성하는 프로세서를 포함하는 홀로그램 패턴 검출 장치
10 10
제 9 항에 있어서,상기 홀로그램 패턴 검출 장치는 인-라인 홀로그래피로,상기 빛 소스로부터 조사되는 상기 빛을 확장하여 샘플로 전달하는 빔 확장기(beam expander)를 더 포함하는 홀로그램 패턴 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국과학기술원 이공분야기초연구사업/신진연구(우수신진) 말라리아 연구를 위한 홀로그래픽 광학 기술 개발(2차년)