구조물의 변형의 양을 측정함과 아울러 변형의 방향을 탐지하는 변형 탐지 시스템에 이용되는 광섬유간섭측정기에 있어서, 레이저광원으로부터 원래의 파장의 광빔이 구조물까지 입력되는 기준레그와, 구조물로부터 제1광검출기까지 이어져서 감지신호를 출력하는 감지레그 및, 한쪽은 광섬유의 끝단에서 빛이 반사되지 않게 하고 다른 쪽은 제2광검출기로 이어져서 변형의 종류를 탐지하기 위한 비교신호를 출력하는 비교레그를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유간섭측정기

제1항에 있어서, 상기 광섬유간섭측정기는 마이켈슨식 3×3 광섬유간섭측정기(10)이며, 레이저광원(16)으로부터 원래의 파장의 광빔이 광섬유연계기(15)를 거쳐서 구조물(19)의 내부까지 입력되는 기준레그(11)와, 구조물의 내부로부터 광섬유연계기(15)를 거쳐서 제1광검출기(17)까지 이어져서 감지신호를 출력하는 감지레그(12) 및, 한 쪽은 광섬유의 끝단에서 빛이 반사되어 되돌아가지 않도록 글리세린을 묻혀 두고 다른 쪽은 제2광검출기(18)로 이어져서 변형의 종류를 탐지하기 위한 비교신호를 출력하는 비교레그(13)를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유간섭측정기

제1항에 있어서, 상기 광섬유간섭측정기는 제1 및 제2의 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a, 20b)를 포함하는 이중 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20)이며, 상기 제1 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a)의 탐촉자(21a)와 제2패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20b)의 탐촉자(21b)는 일정한 간격을 갖고 서로 나란히 배치되고, 상기 제1패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a)의 기준레그(22a)와 제2패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20b)의 비교레그(22b)는 광섬유연계기(27a, 27b, 27c)에 의해 연계되어 있고, 상기 제1 및 제2의 패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a, 20b)의 탐촉자(21a, 21b)들의 공기간극의 길이(S1, S2)는 상이하며, 상기 제1패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20a)의 탐촉자(21a)의 유리튜브와 제2패브리-페롯식 광섬유간섭측정기(20b)의 탐촉자(21b)의 유리튜브의 한 쪽은 미끄럼운동이 불가능하게 고정시켜 두고 다른 쪽은 자유롭게 둔 것을 특징으로 하는 광섬유간섭측정기

구조물의 변형의 양을 측정함과 아울러 변형의 종류를 탐지하는 변형탐지 방법에 있어서, 기준레그(11)를 통해 레이저광원(16, 26)으로부터 광빔을 입사시키면서 제1광검출기(17)에서 감지신호(S1)를 얻는 감지신호취득단계와, 제2광검출기(18)에서 입사광빔과 동일한 파장의 비교신호(S2)를 얻는 비교신호취득단계와, 상기 감지신호(S1)와 상기 비교신호(S2)의 진폭을 고려하여 적절한 파고상에 기준선을 설정하고 상기 감지신호(S1) 및 상기 비교신호(S2)들이 상기 기준선(R)과 교차하는지의 여부를 판별하는 교차판별단계와, 상기 감지신호(S1)와 상기 비교신호(S2)가 상기 기준선(R)과 교차하는 순서를 검사하는 교차순서검사단계와, 교차순서가 바뀌지 않은 채로 상기 감지신호(S1)가 상기 감지선(R)과 교차하는 경우에는 정현파의 개수(m)를 1만큼 증가시키고, 교차순서가 바뀌면서 상기 감지신호(S2)가 상기 감지선(R)과 교차하는 경우에는 정현파의 개수(m)를 1만큼 감소시키는 정현파계수단계 및, 계수된 정현파의 개수(m)를 이용하여 다음의 수학식 1에 의해 구조물의 변형의 양을 측정하는 것을 특징으로 하는 구조물의 변형탐지 방법

제4항에 있어서, 상기 감지신호(S1)가 상기 기준선(R)과 교차할 때마다 상기 기준선(R)의 위치를 재설정하는 기준선재설정단계를 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 변형탐지 방법