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비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015140631
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 상부 및 하부 도전층과, 상기 상부 및 하부 도전층 사이에 형성된 쌍안정 전도성 특성을 갖는 전도성 유기물층 및 상기 유기물층 내에 형성된 양자 점층을 포함하고, 상기 양자 점층은 결정성 물질과, 상기 결정성 물질을 감싸는 전도성 유기물 물질을 포함하는 비휘발성 메모리 소자를 제공한다. 이때, 양자 점층은 증발 증착 챔버(everporator chamber)내에서 Al 증발(evaporation)을 통해 양자 점층을 형성시 0.3Å/s의 증착율로 10 내지 30nm의 두께로 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법을 제공한다. 여기서, 양자 점은 γ-Al2O3의 결정성 물질을 포함한다. 이를 통해 유기물층과 그 사이에 형성된 양자 점층을 갖는 소자를 통해 소비 전력이 낮고, 처리속도가 빠르며, 고 집적화 할 수 있고, 유기물의 전도성 쌍안정 특성을 이용하여 읽기, 쓰기 및 소거 동작을 반복적으로 수행할 수 있고, 전원이 인가되지 않더라고 셀에 저장된 데이터를 유지할 수 있으며, 소자의 제조 방법, 공정 조건을 최적화하여 실제양산에 적용할 수 있다. 비휘발성, 메모리, 유기물, 쌍안정, 양자 점, 증착율, AlDCN
Int. CL H01L 27/115 (2017.01.01)
CPC G11C 11/5664(2013.01)
출원번호/일자 1020050052928 (2005.06.20)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0652134-0000 (2006.11.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20061130) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.06.20)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박재근 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 이곤섭 대한민국 서울특별시 강남구
3 임세윤 대한민국 서울 마포구
4 김재석 대한민국 경남 사천시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁성 대한민국 대구광역시 중구 국채보상로***, *층 에이호(동인동*가, 종각빌딩)(특허법인 이룸리온(대구분사무소))
2 이노성 대한민국 경기도 안산시 단원구 산단로 ***, **동 ***호(원곡동, 원곡유통상가)(제이아이피컨설팅)
3 남승희 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 청보빌딩)(아인특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자 주식회사 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0325137-00
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.06.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.07.13 수리 (Accepted) 9-1-2006-0048406-00
4 등록결정서
Decision to grant
2006.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0485747-29
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0136939-25
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
상부 및 하부 도전층;상기 상부 및 하부 도전층 사이에 형성된 쌍안정 전도성 특성을 갖는 전도성 유기물층; 및상기 유기물층 내에 형성된 양자 점층을 포함하고, 상기 양자 점층은 결정성 물질의 양자 점과, 상기 결정성 물질을 감싸는 비결정성 물질을 포함하는 비휘발성 메모리 소자
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 양자 점층은 Al,Mg, Zn, Fe, Ni와 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 포함하는 비결정 물질이 존재하는 비휘발성 메모리 소자
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 양자 점은 γ-Al2O3의 결정성 물질을 포함하는 비휘발성 메모리 소자
4 4
청구항 1에 있어서,상기 양자 점층은 0
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 양자 점층은 5 내지 40nm의 두께인 비휘발성 메모리 소자
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 전도성 유기물층으로 AIDCN, α-NPD 및 Alq3 중 적어도 어느 하나의 전도성 유기물을 사용하는 비휘발성 메모리 소자
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 전도성 유기물층은 10 내지 100nm의 두께인 비휘발성 메모리 소자
8 8
청구항 1에 있어서, 상기 전도성 유기물층은 상기 양자 점층을 기준으로 상부와 하부 전도성 유기물층을 포함하고, 상기 상부 및 하부 전도성 유기물층은 두께 차이를 갖는 비휘발성 메모리 소자
9 9
청구항 1에 있어서, 0
10 10
기판 상에 하부 도전층을 형성하는 단계;상기 하부 도전층이 형성된 상기 기판상에 제 1 전도성 유기물층을 형성하는 단계;상기 하부 도전층의 일부와 중첩되도록 상기 제 1 전도성 유기물층 상에 상기 양자 점층을 형성하는 단계;상기 양자 점층이 형성된 제 1 전도성 유기물 상에 제 2 전도성 유기물을 형성하는 단계; 및 상기 제 2 전도성 유기물 상에 상기 양자 점층과 그 일부가 중첩 되도록 상부 도전층을 형성하는 단계를 포함하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 전도성 유기물층 각각은,AIDCN, α-NPD 및 Alq3 중 적어도 어느 하나의 유기물을 사용하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
12 12
청구항 11에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 전도성 유기물층의 두께는 20 내지 80nm의 두께로 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
13 13
청구항 10에 있어서, 상기 양자 점은 Al, Mg, Zn, Fe, Ni와 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하여 증발 증착 챔버 내에서 상기 금속의 산화를 통해 결정성 양자점을 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
14 14
청구항 10에 있어서, 상기 양자 점층은 10 내지 30nm 두께로 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
15 15
청구항 10에 있어서, 상기 양자 점층은 0
16 16
청구항 10에 있어서, 상기 양자점층은 0
17 17
청구항 10 내지 청구항 16 중 어느 한 항에 있어서, 상기 도전층, 전도성 유기물층 및 양자 점층은 진공 증발법을 통해 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
18 18
청구항 17에 있어서, 상기 도전층, 전도성 유기물층 및 양자 점층은 다수의 증착 챔버를 포함하는 단일 증착 시스템 내에서 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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