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입력 데이터를 인가받아 입력 데이터의 범위별로 정밀도가 가변되는 n 비트의 가변 정밀도 데이터로 양자화하는 양자화 장치에 있어서, n 비트의 데이터를 이진 비트 구간 및 증가 비트 구간으로 구분하고, 요구되는 표현 정밀도 및 표현 범위 따라 상기 증가 비트 구간의 비트 수가 조절되도록 n 비트 중 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 설정하는 이진 비트 구간 설정부; 및 양자화되는 입력 데이터의 양자화 범위를 조절하기 위해 상기 이진 비트 구간에 입력되는 이진 데이터의 최소 증감 단위를 지정하여 증분 데이터를 계산하고, 상기 증분 데이터에 따른 양자화 범위에서 상기 입력 데이터에 대응하는 값을 나타내는 이진 데이터를 계산하며, 계산된 증분 데이터와 이진 데이터를 순차적으로 배치하여 가변 정밀도 데이터로 변환하는 가변 정밀도 변환부; 를 포함하는 양자화 장치
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제1 항에 있어서, 상기 가변 정밀도 변환부는 이진수로 인가되는 입력 데이터에서 부호 비트를 제외한 최상위 비트의 비트 위치값에서 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 차감하여 증분 데이터를 획득하고, 부호 비트와 다음 최상위 비트를 제외한 나머지 최상위 비트 중 최상위 비트로부터 순차적으로 이진 비트 구간의 비트 수만큼의 데이터를 이진 데이터로 추출하며, 이진 데이터로 추출된 비트를 제외한 나머지 비트 중 최상위 1비트를 반올림 비트 값으로 획득하여, 부호 비트를 최상위 비트로 획득된 증분 데이터 및 추출된 이진 데이터를 순차적으로 배열하고, 상기 반올림 비트 값을 가산하여 상기 가변 정밀도 데이터를 획득하는 양자화 장치
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제2 항에 있어서, 상기 양자화 장치는 상기 입력 데이터가 소수점 이하 자리를 포함하는 데이터이면, 정수형 데이터로 변환하고, 입력 데이터를 정수형 데이터로 변환하기 위한 지수값을 나타내는 스케일링 팩터를 획득하여 저장하는 스테일링 팩터 설정부; 를 더 포함하는 양자화 장치
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제1 항에 있어서, 상기 이진 비트 구간 설정부는 요구되는 표현 정밀도가 세밀하거나, 표현 범위가 넓을 수록 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 감소시키는 양자화 장치
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제1 항에 있어서, 상기 이진 비트 구간 설정부는 상기 입력 데이터의 분산에 비례하여 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 증가시키는 양자화 장치
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제1 항에 있어서, 상기 이진 비트 구간 설정부는 상기 입력 데이터에 부호 비트가 포함되어 있으면, 상기 n 비트의 가변 정밀도 데이터에서 최상위 비트를 부호 비트로 설정하는 양자화 장치
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입력 데이터를 인가받아 입력 데이터의 범위별로 정밀도가 가변되는 n 비트의 가변 정밀도 데이터로 양자화하는 양자화 방법에 있어서, n 비트의 데이터를 이진 비트 구간 및 증가 비트 구간으로 구분하는 단계; 요구되는 표현 정밀도 및 표현 범위 따라 상기 증가 비트 구간의 비트 수가 조절되도록 n 비트 중 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 설정하는 단계; 및 양자화되는 입력 데이터의 양자화 범위를 조절하기 위해 상기 이진 비트 구간에 입력되는 이진 데이터의 최소 증감 단위를 지정하여 증분 데이터를 계산하고, 상기 증분 데이터에 따른 양자화 범위에서 상기 입력 데이터에 대응하는 값을 나타내는 이진 데이터를 계산하며, 계산된 증분 데이터와 이진 데이터를 순차적으로 배치하여 가변 정밀도 데이터로 변환하는 단계; 를 포함하는 양자화 방법
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제7 항에 있어서, 상기 가변 정밀도 데이터로 변환하는 단계는 이진수로 인가되는 입력 데이터에서 부호 비트를 제외한 최상위 비트의 비트 위치값에서 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 차감하여 증분 데이터를 획득하는 단계; 부호 비트와 다음 최상위 비트를 제외한 나머지 최상위 비트 중 최상위 비트로부터 순차적으로 이진 비트 구간의 비트 수만큼의 데이터를 이진 데이터로 추출하는 단계; 이진 데이터로 추출된 비트를 제외한 나머지 비트 중 최상위 1비트를 반올림 비트 값으로 획득하는 단계; 부호 비트를 최상위 비트로 획득된 증분 데이터 및 추출된 이진 데이터를 순차적으로 배열하는 단계; 및 상기 반올림 비트 값을 가산하여 상기 가변 정밀도 데이터를 획득하는 단계; 를 포함하는 양자화 방법
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제8 항에 있어서, 상기 양자화 방법은 상기 입력 데이터가 소수점 이하 자리를 포함하는 데이터이면, 정수형 데이터로 변환하고, 입력 데이터를 정수형 데이터로 변환하기 위한 지수값을 나타내는 스케일링 팩터를 획득하여 저장하는 단계; 를 더 포함하는 양자화 방법
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제7 항에 있어서, 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 설정하는 단계는 요구되는 표현 정밀도가 세밀하거나, 표현 범위가 넓을 수록 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 감소시키는 양자화 방법
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제7 항에 있어서, 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 설정하는 단계는 상기 입력 데이터의 분산에 비례하여 상기 이진 비트 구간의 비트 수를 증가시키는 양자화 방법
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제7 항에 있어서, 상기 양자화 방법은 상기 입력 데이터에 부호 비트가 포함되어 있으면, 상기 n 비트의 가변 정밀도 데이터에서 최상위 비트를 부호 비트로 설정하는 단계; 를 더 포함하는 양자화 방법
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