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기판 제조 방법

  • 기술번호 : KST2022000655
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기판 제조 방법을 개시한다. 그의 방법은, 기판의 제조 공정을 수행하는 단계와, 상기 기판의 검사 공정을 수행하는 단계를 포함한다. 상기 기판의 검사 공정을 수행하는 단계는 상기 기판 상의 다이들을 측정하여 다이 이미지들을 획득하는 단계와, 상기 다이 이미지들에 서로 다른 색상들을 부여하여 컬러 이미지들을 획득하는 단계와, 상기 컬러 이미지들을 중첩하여 상기 색상들의 혼합 색상을 갖는 중첩 이미지를 획득하는 단계와, 상기 중첩 이미지 내에서 상기 컬러 이미지들의 색상들 중 어느 하나와 동일한 색상을 갖는 결함 이미지가 있는지를 판별하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01) G01N 21/95 (2006.01.01) G01N 21/956 (2006.01.01)
CPC H01L 22/20(2013.01) H01L 22/30(2013.01) G01N 21/8851(2013.01) G01N 21/9515(2013.01) G01N 21/956(2013.01) G01N 2021/8887(2013.01) G01N 2021/8854(2013.01)
출원번호/일자 1020200081310 (2020.07.02)
출원인 삼성전자주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0003731 (2022.01.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기현 경기도 성남시 분당구
2 김도년 서울특별시 강남구
3 남윤형 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2020-0686901-06
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
3 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2021.07.29 수리 (Accepted) 4-1-2021-5205564-29
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판의 제조 공정을 수행하는 단계; 및 상기 기판의 검사 공정을 수행하는 단계를 포함하되,상기 기판의 검사 공정을 수행하는 단계는:상기 기판 상의 다이들을 측정하여 다이 이미지들을 획득하는 단계;상기 다이 이미지들에 서로 다른 색상들을 부여하여 컬러 이미지들을 획득하는 단계;상기 컬러 이미지들을 중첩하여 상기 색상들의 혼합 색상을 갖는 중첩 이미지를 획득하는 단계; 및상기 중첩 이미지 내에서 상기 컬러 이미지들의 색상들 중 어느 하나와 동일한 색상을 갖는 결함 이미지가 있는지를 판별하는 단계를 포함하는 기판 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 다이들은 제 1 내지 제 3 다이들을 포함하고,상기 다이 이미지들은 상기 제 1 내지 제 3 다이들에 각각 대응되는 제 1 내지 제 3 다이 이미지들을 포함하고,상기 컬러 이미지들은 상기 제 1 내지 제 3 다이 이미지들에 각각 대응되는 제 1 내지 제 3 컬러 이미지들을 포함하고, 상기 컬러 이미지들은 각각 빨간색, 녹색, 및 파란색을 갖는 제 1 내지 제 3 배경 컬러 이미지들과, 상기 제 1 내지 제 3 배경 컬러 이미지들 내의 표시되어 흑색을 갖는 제 1 내지 제 3 패턴 이미지들을 포함하는 기판 제조 방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 중첩 이미지는:상기 제 1 내지 제 3 배경 컬러 이미지들의 중첩에 의해 획득되는 중첩 배경 이미지; 및상기 중첩 배경 이미지 내에 배치되고, 상기 제 1 내지 제 3 패턴 이미지들의 중첩에 의해 획득되는 중첩 패턴 이미지를 더 포함하는 기판 제조 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 중첩 이미지가 상기 제 1 내지 제 3 컬러 이미지들 중 2개의 중첩에 의해 획득될 경우, 상기 중첩 배경 이미지는 노란색, 분홍색, 또는 청록색의 색상을 갖고, 상기 결함 이미지는 빨간색, 녹색, 또는 파란색의 색상을 갖는 기판 제조 방법
5 5
제 3 항에 있어서,상기 중첩 이미지가 상기 제 1 내지 제 3 컬러 이미지들의 중첩에 의해 획득될 경우, 상기 결함 이미지가 있는지를 판별하는 단계는 상기 중첩 이미지 내에 싱글 결함 이미지가 있는지를 판별하는 단계인 기판 제조 방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 중첩 배경 이미지는 백색의 색상을 갖는 기판 제조 방법
7 7
제 2 항에 있어서,상기 중첩 이미지 내에 상기 컬러 이미지들의 색상들의 중간 혼합 색상을 갖는 이중 결함 이미지가 있는지를 판별하는 단계를 더 포함하는 기판 제조 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 이중 결함 이미지는 노란색, 분홍색, 또는 청록색의 색상을 갖는 기판 제조 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 이중 결함 이미지가 발생된 상기 다이들을 불량으로 표시하는 단계를 더 포함하고, 상기 이중 결함 이미지가 노란색의 색상을 가질 경우, 제 1 및 제 2 다이들은 불량으로 표시되고,상기 이중 결함 이미지가 분홍색의 색상을 가질 경우, 제 1 및 제 3 다이들은 불량으로 표시되고,상기 이중 결함 이미지가 청록색의 색상을 가질 경우, 제 2 및 제 3 다이들은 불량으로 표시되는 기판 제조 방법
10 10
제 1 항에 있어서,상기 결함 이미지에 근거하여 상기 제조 공정이 비정상적인지를 판별하는 단계;상기 비정상적인 제조 공정의 불량 원인을 도출하는 단계; 및상기 불량 원인에 따라 상기 제조 공정의 조건 일부를 변경하는 단계를 더 포함하는 기판 제조 방법
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.