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선택적 깊이 지도 회전 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014051070
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 깊이 지도 회전 장치가 깊이 지도를 회전하는 방법으로서, 깊이 지도의 회전 정보를 입력받는 단계, 회전 정보를 기초로 깊이 지도의 회전 후 깊이값 변화량을 계산하고, 깊이 지도에서 깊이값 변화량이 기준값을 넘는 변화 영역을 결정하는 단계, 그리고 변화 영역에 위치한 화소의 회전 후 깊이값을 계산하여, 회전 후 깊이 지도를 생성하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06T 17/00 (2006.01) H04N 13/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020110112447 (2011.10.31)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1276346-0000 (2013.06.12)
공개번호/일자 10-2013-0047427 (2013.05.08) 문서열기
공고번호/일자 (20130618) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.10.31)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최종찬 대한민국 경기도 평택시 송탄로 **,
2 박부식 대한민국 경기 광주시
3 신대교 대한민국 경기 성남시 중원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.10.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0856049-97
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.05.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.06.25 수리 (Accepted) 9-1-2012-0050385-28
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.11.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0660722-02
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-1082053-40
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.12.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-1082052-05
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
8 등록결정서
Decision to grant
2013.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0346274-06
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
깊이 지도 회전 장치가 깊이 지도를 회전하는 방법으로서,깊이 지도의 회전 정보를 입력받는 단계,상기 회전 정보를 기초로 상기 깊이 지도의 회전 후 깊이값 변화량을 계산하고, 상기 깊이 지도에서 상기 깊이값 변화량이 기준값을 넘는 변화 영역을 결정하는 단계, 그리고상기 변화 영역에 위치한 화소의 회전 후 깊이값을 계산하여, 회전 후 깊이 지도를 생성하는 단계를 포함하는 선택적 깊이 지도 회전 방법
2 2
제1항에서,상기 회전 후 깊이 지도를 생성하는 단계는상기 깊이 지도에서 상기 변화 영역 이외의 영역에 위치한 화소의 깊이값은 회전 전의 깊이값을 유지하는 선택적 깊이 지도 회전 방법
3 3
제1항에서,상기 깊이 지도의 회전 정보를 입력받는 단계는회전축과 회전 각도를 포함하는 회전 정보를 입력받는 선택적 깊이 지도 회전 방법
4 4
제1항에서,상기 변화 영역을 결정하는 단계는회전축에서 일정 거리에 위치한 화소의 깊이값 변화량이 상기 기준값을 넘는 경우, 상기 일정 거리 이상 떨어진 화소를 상기 변화 영역에 포함하는 선택적 깊이 지도 회전 방법
5 5
깊이 지도를 선택적으로 회전하는 깊이 지도 회전 장치로서,깊이 지도의 회전 정보를 입력받는 회전 정보 입력부,상기 회전 정보에 의한 상기 깊이 지도의 회전 후 깊이값 변화량을 기초로 상기 깊이 지도에서 회전 후 깊이값을 계산하는 변화 영역을 결정하는 변화 영역 결정부, 그리고상기 변화 영역에 위치한 화소의 회전 후 깊이값을 계산하여, 회전 후 깊이 지도를 생성하는 회전 깊이 지도 생성부를 포함하는 깊이 지도 회전 장치
6 6
제5항에서,상기 회전 깊이 지도 생성부는상기 깊이 지도에서 상기 변화 영역 이외의 영역에 위치한 화소의 깊이값은 회전 전의 깊이값을 유지하는 깊이 지도 회전 장치
7 7
제5항에서,상기 회전 정보 입력부는회전축과 회전 각도를 포함하는 회전 정보를 입력받는 깊이 지도 회전 장치
8 8
제5항에서,상기 변화 영역 결정부는회전축에서 일정 거리에 위치한 화소의 깊이값 변화량이 기준값을 넘는 경우, 상기 일정 거리 이상 떨어진 화소를 상기 변화 영역에 포함하는 깊이 지도 회전 장치
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1 WO2013065937 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2013065937 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 전자부품연구원 미래생활가전기술개발사업 마스터 가전 플랫폼 핵심 기술 개발