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멀티빔 엑스레이 장치

  • 기술번호 : KST2014056071
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 멀티빔 엑스레이 장치는, 캐소드 전극; 상기 캐소드 전극에 구비된 에미터로부터 일정거리 이격되어 형성되는 게이트 전극; 상기 에미터로부터 방출되는 전자를 충돌시켜 엑스(X)선을 방출하는 다수의 애노드 전극을 포함하되, 상기 다수의 애노드 전극은 소정 간격 이격된 펄스모양으로 맞물리게 구비되거나 또는 나이테 모양으로 형성되고, 서로 다른 전압이 상기 다수의 애노드 전극 각각에 인가되어 상기 다수의 애노드 전극으로부터 방출된 다수의 엑스선이 스크린상의 동일 영역에 멀티빔 엑스선으로 조사되도록 하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01J 35/08 (2006.01)
CPC H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01) H01J 35/065(2013.01)
출원번호/일자 1020110033764 (2011.04.12)
출원인 경희대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1205603-0000 (2012.11.21)
공개번호/일자 10-2012-0116176 (2012.10.22) 문서열기
공고번호/일자 (20121127) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.04.12)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 기흥구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박규창 대한민국 서울 광진구
2 장 진 대한민국 서울 서초구
3 우희철 대한민국 서울특별시 강북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세중 대한민국 서울시 강남구 테헤란로 ***, **** (역삼동. 성지하이츠 Ⅱ)(해오름국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 경기도 용인시 기흥구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.04.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0267407-80
2 보정요구서
Request for Amendment
2011.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2011-0033072-05
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.04.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0295470-47
4 수수료 반환 안내서
Notification of Return of Official Fee
2011.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2011-0036428-70
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.17 수리 (Accepted) 9-1-2012-0010957-18
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0163704-11
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.05.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0404694-26
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.06.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0496411-13
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.06.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0496410-67
11 등록결정서
Decision to grant
2012.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0696073-55
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2015-5029677-09
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164254-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
캐소드 전극;상기 캐소드 전극에 구비된 에미터로부터 일정거리 이격되어 형성되는 게이트 전극;상기 에미터로부터 방출되는 전자를 충돌시켜 엑스(X)선을 방출하는 다수의 애노드 전극을 포함하되,상기 다수의 애노드 전극은 소정 간격 이격된 펄스모양으로 서로 맞물리게 구비되고, 서로 다른 전압이 상기 다수의 애노드 전극 각각에 인가되어 상기 다수의 애노드 전극으로부터 방출된 다수의 엑스선이 스크린에 멀티빔 엑스선으로 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 다수의 엑스선은 2개의 엑스선으로 이루어지고, 상기 멀티빔 엑스선은 2개의 엑스선이 교대로 조사되는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 캐소드 전극에 연결되고, 상기 캐소드 전극에 전류가 안정적으로 제공되도록 전류의 온오프를 제어하는 스위치부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 스위치부는 MOS트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 다수의 애노드 전극 각각에 서로 다른 전압이 선택적 또는 순차적으로 인가되어 상기 다수의 엑스선이 선택적 또는 순차적으로 스크린상에 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
6 6
제1항 내지 제5항 중 어느 하나의 항에 있어서,상기 애노드 전극과 스크린 사이에 구비되어 상기 애노드 전극으로부터 조사되는 엑스선의 영역을 제한하는 분광기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
7 7
캐소드 전극;상기 캐소드 전극에 구비된 에미터로부터 일정거리 이격되어 형성되는 게이트 전극;상기 에미터로부터 방출되는 전자를 충돌시켜 엑스(X)선을 방출하는 다수의 애노드 전극을 포함하되,상기 다수의 애노드 전극은 소정 간격 이격된 나이테 형태로 구비되고, 서로 다른 전압이 상기 다수의 애노드 전극 각각에 인가되어 상기 다수의 애노드 전극으로부터 방출된 다수의 엑스선이 스크린상의 동일 영역에 멀티빔 엑스선으로 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 다수의 애노드 전극은 N개(N은 적어도 2이상의 자연수)의 애노드 전극으로 이루어지며, 상기 스크린상에 1개의 중심빔이 조사되고, 2N-2개의 멀티빔 엑스선이 스크린상에 조사되는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 캐소드 전극에 연결되고, 상기 캐소드 전극에 전류가 안정적으로 제공되도록 전류의 온오프를 제어하는 스위치부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 스위치부는 MOS트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
11 11
제7항에 있어서,상기 다수의 애노드 전극 각각에 서로 다른 전압이 선택적 또는 순차적으로 인가되어 상기 다수의 엑스선이 선택적 또는 순차적으로 스크린상에 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
12 12
제7항 내지 제11항 중 어느 하나의 항에 있어서,상기 애노드 전극과 스크린 사이에 구비되어 상기 애노드 전극으로부터 조사되는 엑스선의 영역을 제한하는 분광기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티빔 엑스레이 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 서울시 경희대학교산학협력단 서울시 기술기반 구축 사업 나노 기반 차세대 방사선 진단기 연구단
2 지식경제부 경희대학교산학협력단 산업원천기술개발사업 나노소재기반 멀티엑스선원 및 단층합성영상 시스템