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강유전체 또는 일렉트렛 메모리 장치

  • 기술번호 : KST2015114603
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 강유전체 또는 일렉트렛 메모리 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 메모리 장치는 하나 이상의 평행한 제1 전극라인, 제1 전극라인에 대하여 교차하는 방향으로 형성된 하나 이상의 평행한 제2 전극라인, 제1 전극라인 및 제2 전극라인 사이에 형성되고, 히스테리시스를 나타내는 전기적으로 분극 가능한 물질을 포함하는 메모리부, 제1 전극라인에 접속되고, 메모리부의 데이터 판독 시 제1 전극라인으로 인가되는 입력신호를 발생시키는 신호 발생부, 제2 전극라인에 접속된 인덕턴스 소자 및 제2 전극라인과 인덕턴스 소자 간의 접속노드에 접속되고, 히스테리시스 특성을 이용하여 접속노드의 신호의 크기를 두 개의 기준신호의 크기와 비교하고, 비교결과에 따라 메모리부의 논리 상태를 감지하는 신호 감지부를 포함한다. 본 발명에 따르면 1/3 전압 선택 규칙에 따른 전압보다 더 작은 크기의 전압을 이용하여 데이터 읽기 동작이 수행되므로 메모리 셀 간의 전기적 간섭현상을 감소시킬 수 있다. 이에 따라, 기존의 메모리 장치보다 데이터 읽기 동작 시 에러를 줄여줌으로써, 보다 안정적으로 데이터 읽기 동작을 수행 할 수 있다. 또한, 본 발명의 데이터 읽기 방식을 능동 매트릭스 구조에 적용할 경우 메모리 장치의 집적도를 향상시킬 수 있다. 강유전체, 일렉트렛, 수동 매트릭스, 능동 매트릭스, 공진 주파수, 쉬미트-트리거(Schmitt-trigger) 회로
Int. CL H01L 27/105 (2006.01) G11C 11/22 (2006.01)
CPC G11C 11/2273(2013.01) G11C 11/2273(2013.01) G11C 11/2273(2013.01) G11C 11/2273(2013.01) G11C 11/2273(2013.01)
출원번호/일자 1020080091577 (2008.09.18)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0934159-0000 (2009.12.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20091231) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.09.18)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이희철 대한민국 대전광역시 유성구
2 김우영 대한민국 대구광역시 수성구
3 이용수 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성호 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2008-0656998-61
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.11.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0781958-44
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.07.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.08.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0047607-16
5 등록결정서
Decision to grant
2009.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0519619-39
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하나 이상의 평행한 제1 전극라인; 상기 제1 전극라인에 대하여 교차하는 방향으로 형성된 하나 이상의 평행한 제2 전극라인; 상기 제1 전극라인 및 상기 제2 전극라인 사이에 형성되고, 히스테리시스를 나타내는 전기적으로 분극 가능한 물질을 포함하는 메모리부; 상기 제1 전극라인에 접속되고, 상기 메모리부의 데이터 판독 시 상기 제1 전극라인으로 인가되는 입력신호를 발생시키는 신호 발생부; 상기 제2 전극라인에 접속된 인덕턴스 소자; 및 상기 제2 전극라인과 상기 인덕턴스 소자 간의 접속노드에 접속되고, 히스테리시스 특성을 이용하여 상기 접속노드의 신호의 크기를 두 개의 기준신호의 크기와 비교하고, 비교결과에 따라 상기 메모리부의 논리 상태를 감지하는 신호 감지부를 포함하는 수동 매트릭스 메모리 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1 전극라인과 상기 신호 발생부 사이에 접속된 제1 멀티 플렉서; 및 상기 접속노드와 상기 신호 감지부의 입력단 사이에 접속된 제2 멀티 플렉서를 더 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 메모리부는 강유전체 물질 또는 일렉트렛 물질을 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 신호 감지부는, 상기 접속노드의 신호를 증폭하는 신호 증폭기; 및 상기 신호 증폭기에서 증폭된 신호를 상기 두 개의 기준신호와 비교하는 히스테리시스 비교기를 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
5 5
하나 이상의 평행한 제1 전극라인; 상기 제1 전극라인에 대하여 교차하는 방향으로 형성된 하나 이상의 평행한 제2 전극라인; 상기 제1 전극라인 및 상기 제2 전극라인 사이에 형성되고, 히스테리시스를 나타내는 전기적으로 분극 가능한 물질을 포함하는 메모리부; 상기 메모리부와 상기 제1 전극라인 사이에 형성되어, 인가되는 전압이 소정의 범위 내에서는 일방향으로만 전류가 흐르는 방향성을 갖되, 상기 인가되는 전압이 소정의 문턱전압 이상인 경우에는 전류 전도도가 증가되는 특성을 갖는 스위치부; 상기 제1 전극라인에 접속되고, 상기 메모리부의 데이터 판독 시 상기 제1 전극라인으로 인가되는 입력신호를 발생시키는 신호 발생부; 상기 제2 전극라인에 접속된 인덕턴스 소자; 및 상기 제2 전극라인과 상기 인덕턴스 소자 간의 접속노드에 접속되고, 히스테리시스 특성을 이용하여 상기 접속노드의 신호의 크기를 두 개의 기준신호의 크기와 비교하고, 비교결과에 따라 상기 메모리부의 논리 상태를 감지하는 신호 감지부를 포함하는 수동 매트릭스 메모리 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 제1 전극라인과 상기 신호 발생부 사이에 접속된 제1 멀티 플렉서; 및 상기 접속노드와 상기 신호 감지부의 입력단 사이에 접속된 제2 멀티 플렉서를 더 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
7 7
제5항에 있어서, 상기 메모리부는 강유전체 물질 또는 일렉트렛 물질을 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
8 8
제5항에 있어서, 상기 신호 감지부는, 상기 접속노드의 신호를 증폭하는 신호 증폭기; 및 상기 신호 증폭기에서 증폭된 신호를 상기 두 개의 기준신호와 비교하는 히스테리시스 비교기를 포함하는, 수동 매트릭스 메모리 장치
9 9
게이트가 워드라인과 접속되고, 소오스가 비트라인과 접속된 복수의 MOS 트랜지스터; 상기 복수의MOS 트랜지스터의 드레인과 플레이트 라인 사이에 접속되고, 히스테리시스를 나타내는 전기적으로 분극 가능한 물질을 포함하는 메모리부; 상기 메모리부의 데이터 판독 시 상기 플레이트 라인으로 인가되는 입력신호를 발생시키는 신호 발생부 ; 상기 비트라인에 접속된 인덕턴스 소자; 및 상기 비트라인과 상기 인덕턴스 소자 간의 접속노드에 접속되고, 히스테리시스 특성을 이용하여 상기 접속노드의 신호의 크기를 두 개의 기준신호의 크기와 비교하고, 비교결과에 따라 상기 메모리부의 논리 상태를 감지하는 신호 감지부를 포함하는 능동 매트릭스 메모리 장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 플레이트 라인과 상기 신호 발생부 사이에 접속된 제1 멀티 플렉서; 상기 접속노드와 상기 신호 감지부의 입력단 사이에 접속된 제2 멀티 플렉서; 및 상기 워드라인에 접속된 제3 멀티 플렉서를 포함하는 능동 매트릭스 메모리 장치
11 11
제9항에 있어서, 상기 메모리부는 강유전체 물질 또는 일렉트렛 물질을 포함하는, 능동 매트릭스 메모리 장치
12 12
제9항에 있어서, 상기 신호 감지부는, 상기 접속노드의 신호를 증폭하는 신호 증폭기; 및 상기 신호 증폭기에서 증폭된 신호를 상기 두 개의 기준신호와 비교하는 히스테리시스 비교기를 포함하는, 능동 매트릭스 메모리 장치
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패밀리정보가 없습니다
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