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반도체 장치

  • 기술번호 : KST2015136235
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 기술은 동작 전압이 낮은 저전압 환경에서도 정밀하게 온도를 측정할 수 있는 반도체 장치를 제공한다. 본 기술에 의한 반도체 장치는 다수의 온도 구간을 구별하는 온도 구간 신호에 따라 제어 전압을 생성하는 제어 전압 생성부 및 온도 구간 신호와 제어 전압에 따라 상기 온도 구간 신호에 대응하는 온도 구간에서 온도에 따라 가변하는 온도 전압을 출력하는 온도 전압 출력부를 포함한다.
Int. CL G11C 5/14 (2006.01.01) G11C 7/10 (2015.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020120134048 (2012.11.23)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1978516-0000 (2019.05.08)
공개번호/일자 10-2014-0066610 (2014.06.02) 문서열기
공고번호/일자 (20190514) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.09.08)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김수환 대한민국 서울 송파구
2 김재훈 대한민국 경기 이천시 대산로***번길 **
3 심대용 대한민국 서울 강동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김선종 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 *** (서초동, 서초현대타워아파트) ****(김선종 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.11.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0970788-95
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2012-5270171-92
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2015-5055330-26
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2017.09.08 수리 (Accepted) 1-1-2017-0872859-45
8 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2018.06.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
9 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2018.08.07 수리 (Accepted) 9-1-2018-0040510-89
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2018.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0661376-93
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.11.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1118160-23
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2018-1118167-42
13 등록결정서
Decision to grant		 2019.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0228658-18
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다수의 온도 구간을 구별하는 온도 구간 신호와 입력 전압에 따라 제어 전압을 생성하는 제어 전압 생성부;상기 온도 구간 신호와 상기 제어 전압에 따라 상기 온도 구간 신호에 대응하는 온도 구간에서 온도에 따라 가변하는 온도 전압을 출력하는 온도 전압 출력부;구동 전압을 분배하여 다수의 분배 전압을 생성하는 전압 분배부; 및상기 온도 구간 신호에 따라 상기 다수의 분배 전압 중 어느 하나를 선택하여 상기 입력 전압으로 출력하는 선택부를 포함하는 반도체 장치
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 제어 전압 생성부는상기 온도 구간 신호에 따라 저항이 조절되는 제 1 가변 저항부 및상기 입력 전압에 의해 저항값이 조절되는 제 1 스위칭부를 포함하되, 상기 제어 전압은 상기 제 1 가변 저항부와 상기 제 1 스위칭부의 저항 분배에 의해 정해지는 반도체 장치
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 제 1 스위칭부는 상기 입력 전압이 게이트에 입력되는 트랜지스터를 포함하는 반도체 장치
4 4
삭제
5 5
청구항 2에 있어서, 상기 온도 전압 출력부는상기 온도 구간 신호에 따라 저항이 조절되는 제 2 가변 저항부 및상기 제어 전압에 의해 저항이 조절되는 제 2 스위칭부를 포함하되, 상기 온도 전압은 상기 제 2 가변 저항부와 상기 제 2 스위칭부의 저항 분배에 의해 정해지는 반도체 장치
6 6
청구항 5에 있어서, 상기 제 2 스위칭부는 상기 제어 전압이 게이트에 입력되는 트랜지스터를 포함하는 반도체 장치
7 7
청구항 5에 있어서, 상기 온도 전압 출력부는 상기 제 2 스위칭부에 직렬 연결되는 저항을 더 포함하는 반도체 장치
8 8
입력 전압을 제공받아 다수의 온도 구간별로 온도에 따라 가변하는 제 1 신호를 출력하는 제 1 신호 발생부;상기 다수의 온도 구간별로 온도에 따라 일정한 제 2 신호를 출력하는 제 2 신호 발생부;구동 전압을 분배하여 다수의 분배 전압을 생성하는 전압 분배부; 및상기 다수의 온도 구간별로 상기 다수의 분배 전압 중 어느 하나를 선택하여 상기 입력 전압으로 출력하는 선택부를 포함하는 반도체 장치
9 9
청구항 8에 있어서, 상기 제 1 신호가 가질 수 있는 값 중 적어도 하나는 서로 다른 온도 구간에 속하는 다수의 온도 값에 대응하는 반도체 장치
10 10
청구항 8에 있어서, 상기 다수의 온도 구간에 대응하는 다수의 온도 구간 신호를 온도 구간별로 순차적으로 상기 제 1 신호 발생부 및 상기 제 2 신호 발생부에 제공하는 제어부를 더 포함하되, 상기 제 1 신호 발생부 및 상기 제 2 신호 발생부는 각각 상기 온도 구간 신호에 따라 상기 제 1 신호와 상기 제 2 신호를 출력하는 반도체 장치
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 다수의 온도 구간별로 상기 제 1 신호와 상기 제 2 신호를 비교하는 비교부를 더 포함하는 반도체 장치
12 12
청구항 11에 있어서, 상기 다수의 온도 구간 신호에 따라 상기 비교부의 출력을 상기 다수의 온도 구간별로 저장하는 다수의 저장부 및상기 다수의 저장부에 저장된 값에 따라 온도 코드를 출력하는 디코더를 더 포함하는 반도체 장치
13 13
청구항 8에 있어서, 상기 제 1 신호 발생부는 다수의 제 3 신호 발생부를 포함하되 상기 제 3 신호 발생부 각각은 상기 다수의 온도 구간 중 어느 하나의 온도 구간에서 온도에 따라 가변하는 신호를 출력하는 반도체 장치
14 14
청구항 13에 있어서, 상기 제 2 신호 발생부는 다수의 제 4 신호 발생부를 포함하되 상기 제 4 신호 발생부는 상기 다수의 온도 구간 중 어느 하나의 온도 구간에서 온도에 무관하게 일정한 신호를 출력하는 반도체 장치
15 15
청구항 14에 있어서, 상기 반도체 장치는 다수의 비교부를 더 포함하되, 상기 다수의 비교부 각각은 상기 다수의 제 3 온도 신호 발생부 중 어느 하나의 출력과 상기 다수의 제 4 신호 발생부 중 어느 하나의 출력을 비교하는 반도체 장치
16 16
청구항 15에 있어서, 상기 다수의 비교부에서 출력되는 값에 따라 온도 코드를 출력하는 디코더를 더 포함하는 반도체 장치
17 17
다수의 온도 구간별로 온도 구간 신호를 순차 출력하는 제어부;상기 온도 구간 신호에 따라 상기 다수의 온도 구간별로 온도에 따라 일정한 제 1 기준 전압을 출력하는 기준 전압 발생부; 상기 온도 구간 신호와 제 2 기준 전압에 따라 상기 다수의 온도 구간별로 온도에 따라 가변하는 온도 전압을 출력하는 온도 전압 발생부; 상기 제 1 기준 전압과 상기 온도 전압을 비교하는 비교부;구동 전압을 분배하여 다수의 분배 전압을 생성하는 전압 분배부;상기 온도 구간 신호에 따라 상기 다수의 분배 전압 중 어느 하나를 선택하여 상기 제 1 기준 전압으로 출력하는 제 1 선택부; 및상기 온도 구간 신호에 따라 상기 다수의 분배 전압 중 어느 하나를 선택하여 상기 제 2 기준 전압으로 출력하는 제 2 선택부를 포함하는 반도체 장치
18 18
삭제
19 19
삭제
20 20
삭제
21 21
청구항 17에 있어서, 상기 온도 전압 발생부는상기 온도 구간 신호와 상기 제 2 기준 전압에 따라 제어 전압을 생성하는 제어 전압 생성부 및상기 온도 구간 신호와 상기 제어 전압에 따라 상기 온도 전압을 출력하는 온도 전압 출력부를 포함하는 반도체 장치
22 22
청구항 21에 있어서, 상기 제어 전압 생성부는상기 온도 구간 신호에 따라 저항이 조절되는 제 1 가변 저항부 및상기 제 2 기준 전압에 의해 저항값이 조절되는 제 1 스위칭부를 포함하되, 상기 제어 전압은 상기 제 1 가변 저항부와 상기 제 1 스위칭부의 저항 분배에 의해 정해지는 반도체 장치
23 23
청구항 22에 있어서, 상기 온도 전압 출력부는상기 온도 구간 신호에 따라 저항이 조절되는 제 2 가변 저항부 및상기 제어 전압에 의해 저항이 조절되는 제 2 스위칭부를 포함하되, 상기 온도 전압은 상기 제 2 가변 저항부와 상기 제 2 스위칭부의 저항 분배에 의해 정해지는 반도체 장치
24 24
청구항 17에 있어서, 상기 다수의 온도 구간 신호에 따라 상기 비교부의 출력을 순차적으로 저장하는 다수의 저장부 및상기 다수의 저장부에 저장된 값에 따라 온도 코드를 출력하는 디코더를 더 포함하는 반도체 장치
25 25
입력 전압을 제공받아 측정 가능한 온도 범위를 구성하는 다수의 온도 구간별로 온도에 따라 가변하는 온도 전압을 출력하되 상기 온도 전압이 가질 수 있는 값 중 적어도 하나는 서로 다른 온도 구간에 속하는 다수의 온도 값에 대응하고, 상기 입력 전압은 구동 전압을 분배하여 생성한 다수의 분배 전압 중에서 상기 다수의 온도 구간별로 선택되는 것인 반도체 장치
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1 CN103837252 CN 중국 FAMILY
2 US09645015 US 미국 FAMILY
3 US10197453 US 미국 FAMILY
4 US10612981 US 미국 FAMILY
5 US20140146852 US 미국 FAMILY
6 US20170191878 US 미국 FAMILY
7 US20190128745 US 미국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN103837252 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN103837252 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 TW201421485 TW 대만 DOCDBFAMILY
4 TWI630619 TW 대만 DOCDBFAMILY
5 US10197453 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US10612981 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US2014146852 US 미국 DOCDBFAMILY
8 US2017191878 US 미국 DOCDBFAMILY
9 US2019128745 US 미국 DOCDBFAMILY
10 US9645015 US 미국 DOCDBFAMILY
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