| 1 |
1
스트로브 신호를 지연시켜 지연된 스트로브 신호를 생성하는 가변 지연 회로;상기 지연된 스트로브 신호에 동기해 데이터를 샘플링하는 수신 회로;상기 지연된 스트로브 신호의 위상을 90도 쉬프트해 쉬프트된 스트로브 신호를 생성하는 위상 쉬프트 회로;데이터와 상기 쉬프트된 스트로브 신호 간의 위상을 비교하기 위한 위상 비교 회로; 및상기 위상 비교 회로의 위상 비교 결과에 응답해 상기 가변 지연 회로의 지연값을 조절하는 지연 조절 회로를 포함하는 데이터 수신 회로
|
| 2 |
2
제 1항에 있어서,상기 위상 비교 회로는상기 데이터에 동기해 상기 쉬프트된 스트로브 신호를 샘플링해 상기 위상 비교 결과를 생성하는데이터 수신 회로
|
| 3 |
3
제 2항에 있어서,상기 지연 조절 회로는상기 위상 비교 결과와 상기 지연된 스트로브 신호를 이용해 상기 가변 지연 회로의 지연값을 늘리거나 줄이는데이터 수신 회로
|
| 4 |
4
제 3항에 있어서,상기 위상 비교 회로는 상기 데이터의 라이징 에지에서 상기 쉬프트된 스트로브 신호를 샘플링하고,상기 지연 조절 회로는 상기 지연된 스트로브 신호가 하이 레벨인 경우에, 상기 위상 비교 결과가 하이 레벨이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 늘리고 상기 위상 비교 결과가 로우 레벨이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 줄이고,상기 지연된 스트로브 신호가 로우 레벨인 경우에, 상기 위상 비교 결과가 로우 레벨이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 늘리고 상기 위상 비교 결과가 하이 레벨이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 늘이는데이터 수신 회로
|
| 5 |
5
제 4항에 있어서,상기 지연 조절 회로는상기 데이터의 라이징 에지로부터 일정시간이 지난 이후에 상기 가변 지연 회로의 지연값을 업데이트하는데이터 수신 회로
|
| 6 |
6
제 2항에 있어서,상기 위상 비교 회로는D 단자에 상기 쉬프트된 스트로브 신호를 입력받고, 클럭 단자에 상기 데이터를 입력받고, Q 단자로 상기 위상 비교 결과를 출력하는 D 플립플롭을 포함하는데이터 수신 회로
|
| 7 |
7
스트로브 신호를 지연시켜 지연된 스트로브 신호를 생성하는 가변 지연 회로;상기 지연된 스트로브 신호에 동기해 데이터를 샘플링하는 수신 회로;상기 지연된 스트로브 신호의 2배의 주파수를 가지는 고주파 스트로브 신호를 생성하는 주파수 체배기 회로;상기 데이터에 동기해 상기 고주파 스트로브 신호를 샘플링하는 샘플링 회로; 및상기 샘플링 회로의 샘플링 결과에 응답해 상기 가변 지연 회로의 지연값을 조절하는 지연 조절 회로를 포함하는 데이터 수신 회로
|
| 8 |
8
제 7항에 있어서,상기 주파수 체배기 회로는상기 지연된 스트로브 신호의 위상을 90도 쉬프트해 쉬프트된 스트로브 신호를 생성하는 위상 쉬프트 회로; 및상기 지연된 스트로브 신호와 상기 쉬프트된 스트로브 신호를 입력받아 상기 고주파 스트로브 신호를 출력하는 XOR 게이트를 포함하는데이터 수신 회로
|
| 9 |
9
제 7항에 있어서,상기 샘플링 회로는상기 데이터의 라이징 에지와 폴링 에지에서 상기 고주파 스트로브 신호를 샘플링하는데이터 수신 회로
|
| 10 |
10
제 9항에 있어서,상기 지연 조절 회로는상기 샘플링 회로의 샘플링 결과가 하이 이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 줄이고,상기 샘플링 회로의 샘플링 결과가 로우이면 상기 가변 지연 회로의 지연값을 늘리는데이터 수신 회로
|
| 11 |
11
제 9항에 있어서,상기 샘플링 회로는D 단자에 상기 고주파 스트로브 신호를 입력받고, 클럭 단자에 상기 데이터를 입력받고, Q 단자로 상기 샘플링 결과를 출력하는 듀얼 엣지 타입 D 플립 플롭을 포함하는데이터 수신 회로
|
| 12 |
12
제 10항에 있어서,상기 지연 조절 회로는상기 데이터의 라이징 에지와 폴링 에지로부터 일정 시간이 지난 이후에 상기 가변 지연 회로의 지연값을 업데이트하는데이터 수신 회로
|
