| 1 |
1
유리 기판;상기 유리 기판 상에 대향 적층된 한 쌍의 전극층;상기 유리 기판 상에 적층된 칼슘층;상기 칼슘층 상에 적층된 투습 및 투산소성 기판;상기 투습 및 투산소성 기판 상에 적층되는 측정 대상 유기전자소자 보호층; 및상기 측정 대상 유기전자소자 보호층의 외곽을 따라서 도포된 실링재를 포함하며,상기 전극층의 일 말단은 상기 칼슘층에 매립되고, 다른 말단은 외부 저항측정장치에 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서, 상기 전극층은 Ag 물질층 또는 Au 물질층인 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 장치
|
| 3 |
3
제1항에 있어서, 상기 칼슘층의 적층 두께는 50nm 내지 500nm인 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 장치
|
| 4 |
4
제1항에 있어서, 상기 투습 및 투산소성 기판은 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리스티렌, 폴리에테르술폰 및 폴리카보네이트로 이루어진 군으로부터 선택된 플라스틱 또는 이를 이용한 합성수지 기판인 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 장치
|
| 5 |
5
제1항에 있어서, 상기 실링재는 UV 경화성 에폭시 수지인 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 장치
|
| 6 |
6
제1항 내지 제5항 중의 어느 한 항에 따른 장치의 상기 투습 및 투산소성 기판 상에 측정 대상 유기전자소자 보호층을 적층하는 단계;상기 장치의 상기 전극층의 일 말단에 상기 외부 저항측정장치를 통하여 전압을 인가하면서 경시적 저항값 변화량을 측정하는 단계;상기 측정된 저항값을 하기 수학식 1에 대입하여 상기 칼슘층의 경시적 높이 변화량을 측정하는 단계; 및상기 칼슘층의 높이 변화량을 하기 수학식 2 및 수학식 3에 대입하여 상기 측정 대상 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율을 측정하는 단계를 포함하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 방법:<수학식 1><수학식 2><수학식 3>상기 수학식 1 내지 3에서,Δh는 칼슘층의 높이 변화량 (반응한 칼슘층의 높이)이고, R은 칼슘층의 저항값이고, Ri는 칼슘층의 초기 저항값이고, hi는 칼슘층의 초기 높이 (증착된 칼슘의 높이)이고, M(H2O)는 수분의 분자량이고, M(Ca)는 칼슘의 분자량이고, M(O2)는 산소의 분자량이고, δ는 칼슘의 밀도이고, Δhr은 경과된 시간이다
|
| 7 |
7
제6항에 있어서, 상기 외부 저항측정장치를 통한 전압 인가 범위는 0
|
| 8 |
8
제6항에 있어서, 상기 투습 및 투산소성 기판 자체에 대한 경시적 저항값 변화량과, 유리 기판에 대한 경시적 저항값 변화량을 기준값으로 하여 상기 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 방법
|
| 9 |
9
제6항에 있어서, 상기 유기전자소자는 유기발광소자, 유기박막트랜지스터 및 유기커패시터로 이루어진 군으로부터 선택된 것임을 특징으로 하는 유기전자소자 보호층의 투습율 및 투산소율 측정 방법
|
