맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

에스아이엠디 씨피유 아키텍쳐를 활용한 레코드 스캔 방법 및 이러한 방법을 사용하는 장치

  • 기술번호 : KST2014041685
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 에스아이엠디 씨피유 아키텍쳐를 활용한 레코드 스캔 방법 및 이러한 방법을 사용하는 장치가 개시되어 있다. SIMD(Single Instruction Multiple Data) 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법은 다차원 레코드에 포함된 차원 중 적어도 하나의 차원을 SIMD 레지스터에 기록하는 단계, SIMD 레지스터에 기록된 다차원 레코드에 포함된 차원 중 적어도 하나의 차원에 SIMD 연산을 수행하는 단계를 포함할 수 있다. 따라서, 기존의 시스템의 변화없이 다차원 속성을 갖는 레코드 스캔을 수행시 레코드의 스캔 속도를 향상 시킬 수 있고 또한 SIMD 연산시 SIMD 레지스터와 명령어들의 조합을 통해 조건 분기의 수를 줄여 분기 예측 오류를 감소시키므로 다차원 레코드 스캔 성능을 향상 시킬 수 있다.
Int. CL G06F 15/80 (2006.01) G06F 17/00 (2006.01) G06F 9/06 (2006.01)
CPC G06F 9/3887(2013.01) G06F 9/3887(2013.01)
출원번호/일자 1020100099403 (2010.10.12)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1202481-0000 (2012.11.12)
공개번호/일자 10-2012-0037755 (2012.04.20) 문서열기
공고번호/일자 (20121116) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.10.12)
심사청구항수 11

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이상원 대한민국 경기도 군포시
2 조성룡 대한민국 경기도 수원시 장안구
3 한환수 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 경기도 수원시 장안구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.10.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0658690-10
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.08.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.09.20 수리 (Accepted) 9-1-2011-0077414-07
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090770-53
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.05.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0303808-01
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.07.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0559943-91
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2012-0559935-25
10 등록결정서
Decision to grant		 2012.11.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0674072-05
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
SIMD(Single Instruction Multiple Data) 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법에 있어서,상기 다차원 레코드에 포함된 차원의 수를 검사하는 단계;상기 다차원 레코드에 포함된 차원을 벡터화하여 상기 SIMD 레지스터에 기록하는 단계; 및상기 SIMD 레지스터에 기록된 상기 다차원 레코드에 포함된 차원 중 적어도 하나의 차원에 SIMD 연산을 수행하는 단계를 포함하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법은,상기 SIMD 연산을 통해 산출된 결과값과 소정의 기준값을 비교 연산하는 단계를 더 포함하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 비교 연산은, 상기 산출된 결과값이 상기 소정의 기준값보다 큰지 여부를 산출하는 GT(Greater than)연산;상기 산출된 결과값이 상기 소정의 기준값보다 크거나 같은지 여부를 산출하는 GE(Greater than equal)연산; 및상기 산출된 결과값이 상기 소정의 기준값과 같은지 여부를 산출하는 EQ(equal)연산 중 적어도 하나 인 것을 특징으로 하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법은,상기 비교 연산을 수행한 결과값을 기초로 분기 구조화를 수행하는 단계를 더 포함하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 분기 구조화는, 상기 SIMD 연산을 통해 산출된 결과값과 소정의 기준값을 비교 연산한 비교 연산 결과로서 제1 데이터 및 제2 데이터가 산출된 경우,상기 제1 데이터에 포함된 모든 속성이 상기 제2 데이터에 포함된 모든 속성보다 비교 우위인 경우, L(Left);상기 제1 데이터에 포함된 모든 속성이 상기 제2 데이터에 포함된 모든 속성보다 비교 우위인 경우, R(Right);상기 제1 데이터 에 포함된 속성과 상기 제2 데이터에 포함된 속성을 비교한 경우, 상기 제1 데이터가 상기 제2 데이터보다 비교 우위인 속성의 개수와 상기 제2 데이터가 상기 제1 데이터보다 비교 우위인 속성의 개수가 동일한 경우, N(Not clear);및상기 제1 데이터에 포함된 속성과 상기 제2 데이터에 포함된 속성을 비교한 경우, 상기 제1 데이터에 포함된 속성 중 적어도 하나의 속성은 상기 제1 데이터 속성이 비교우위이고 상기 제1 데이터에 포함된 속성 중 적어도 하나의 속성은 상기 제2 데이터의 속성이 비교우위인 경우에 있어서 상기 N(Not clear)으로 분기구조화 되지 않는 경우, I(Incompatible)로 분기하는 것을 특징으로 하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서, 상기 SIMD 레지스터에 기록된 상기 다차원 레코드에 포함된 차원 중 적어도 하나의 차원에 SIMD 연산을 수행하는 단계는,상기 SIMD 레지스터에 기록된 상기 다차원 레코드를 소정의 기준치와 비교하는 단계; 및 상기 비교하는 단계를 통해 산출된 결과값을 스칼라 값으로 표현하기 위한 마스크 연산 단계를 포함하는 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔 방법
8 8
SIMD(Single Instruction Multiple Data) 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치에 있어서, 상기 다차원 레코드를 입력받고 입력받은 다차원 레코드를 조건 검사하여 벡터 로딩하는 입력부; 및상기 입력부에서 입력받은 상기 다차원 레코드에 포함된 차원 중 적어도 하나의 차원에 대해 SIMD 연산을 수행하는 연산부를 포함하는 SIMD 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치는, 상기 연산부에서 다차원 레코드에 포함된 적어도 하나의 차원을 SIMD 연산한 값을 출력하는 출력부를 더 포함하는 SIMD 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치
10 10
제8항에 있어서, 상기 SIMD 레지스터를 이용한 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치는, 상기 입력부에 입력되는 상기 다차원 레코드가 기록된 저장부를 더 포함하는 SIMD 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치
11 11
삭제
12 12
제8항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 SIMD 연산을 수행 후, 비교 연산 및 분기구조화 중 적어도 하나를 수행하는 것을 특징으로 하는 SIMD 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치
13 13
제8항에 있어서, 상기 연산부는,SIMD 레지스터를 포함하고, 상기 SIMD 레지스터를 이용하여 SIMD 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 SIMD 레지스터를 이용하여 다차원 레코드 스캔을 수행하는 다차원 레코드 스캔 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.