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RF 신호를 이용한 구부림 센서 및 이를 이용한 구부림 측정 방법

  • 기술번호 : KST2014013616
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 RF 변조된 광신호를 생성하는 광원부; 서로 이격되며 상기 광원부의 광신호를 반사하는 기준 광섬유격자 및 센싱 광섬유격자를 구비하고, 양 방향으로 구부려지는 변형부; 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호에 파장에 따른 분산을 제공하는 광섬유 스풀; 및 상기 광섬유 스풀로부터 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호를 수신하고, 수신된 광신호들을 전기신호로 변환하는 광 검출부를 포함하되, 상기 광 검출부에 의해 변환된 전기신호의 세기는 상기 변형부의 곡률에 대응되는 구부림 센서 및 이를 이용한 구부림 측정 방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 구부림 센서는 저손실의 광섬유를 이용하여 장거리 전송이 가능하므로 분포형 센서에 유용하게 사용될 수 있으며, 변조하는 RF 신호의 주파수를 바꿈으로서 측정감도와 측정범위를 자유로이 조절할 수 있는 이점이 있다. 외팔보, 캔틸레버, 구부림 센서, 광섬유격자
Int. CL G01J 1/28 (2006.01) G02B 6/00 (2006.01)
CPC G01B 11/165(2013.01) G01B 11/165(2013.01) G01B 11/165(2013.01) G01B 11/165(2013.01) G01B 11/165(2013.01) G01B 11/165(2013.01)
출원번호/일자 1020080067021 (2008.07.10)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0963169-0000 (2010.06.04)
공개번호/일자 10-2010-0006704 (2010.01.21) 문서열기
공고번호/일자 (20100615) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.07.10)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이관일 대한민국 서울특별시 송파구
2 이상배 대한민국 서울특별시 노원구
3 이주한 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.07.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0497490-49
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.03.18 수리 (Accepted) 9-1-2009-0018920-12
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
5 등록결정서
Decision to grant
2010.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0234440-26
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
RF 변조된 광신호를 생성하는 광원부; 서로 이격되며 상기 광원부의 광신호를 반사하는 기준 광섬유격자 및 센싱 광섬유격자를 구비하고, 양 방향으로 구부려지는 변형부; 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호에 파장에 따른 분산을 제공하는 광섬유 스풀; 및 상기 광섬유 스풀로부터 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호를 수신하고, 수신된 광신호들을 전기신호로 변환하는 광 검출부를 포함하되, 상기 광 검출부에 의해 변환된 전기신호의 세기는 상기 변형부의 곡률에 대응되는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
2 2
제 1항에 있어서, 상기 기준 광섬유격자 및 상기 센싱 광섬유격자는 상기 광원부의 광신호 중 서로 상이한 파장의 광신호를 반사하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
3 3
제 1항에 있어서, 상기 변형부는, 한쪽 끝이 고정되며, 다른 쪽 끝이 양 방향으로 구부려지는 금속판; 상기 금속판의 상기 한쪽 끝에 인접하여 위치하는 기준 광섬유격자; 및 상기 금속판의 상기 한쪽 끝으로부터 이격되어 위치하는 센싱 광섬유격자를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
4 4
제 1항에 있어서, 상기 변형부는, 한쪽 끝이 고정되며, 다른 쪽 끝이 양 방향으로 구부려지는 금속판; 상기 금속판의 상기 한쪽 끝으로부터 이격되어 위치하며, 상기 금속판의 한쪽 면에 형성된 기준 광섬유격자; 및 상기 금속판의 상기 한쪽 끝으로부터 이격되어 위치하며, 상기 금속판의 다른쪽 면에 형성된 센싱 광섬유격자를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
5 5
제 1항에 있어서, 상기 광섬유 스풀은, 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호에 서로 상이한 분산값을 제공하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
6 6
제 1항에 있어서, 상기 광원부는, 반도체 광 증폭기(Semiconductor Optical Amplifier), 반사형 반도체 광 증폭기(Reflective Semiconductor Optical Amplifier) 또는 광신호가 출력되는 면이 무반사 코팅된 패브리-패롯 레이저(Fabry-Perot laser)를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
7 7
제 1항에 있어서, 상기 광원부는, 광신호를 생성하는 광대역광원을 포함하며, 상기 광대역 광원의 공급전류를 변조하여 RF 변조된 광신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
8 8
제 7항에 있어서, 상기 광원부는, 상기 광대역 광원에 RF 신호를 제공하는 전압 제어 오실레이터(Voltage Controlled Oscillator; VCO) 또는 RF 발생기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
9 9
제 1항에 있어서, 상기 광원부는, 광신호를 생성하는 광대역 광원; 및 상기 광대역 광원의 광신호를 RF 변조하는 외부 광변조기를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 센서
10 10
RF 변조된 광신호를, 서로 이격된 기준 광섬유격자 및 센싱 광섬유격자를 구비하며 양 방향으로 구부려지는 변형부에 전송하는 단계; 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 각각에 파장에 따른 분산을 제공하는 단계; 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호를 전기신호로 변환하는 단계; 및 변환된 전기신호로부터 상기 변형부의 곡률을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 측정 방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 파장에 따른 분산을 제공하는 단계는, 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 및 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호에 서로 상이한 분산값을 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 측정 방법
12 12
제 10항에 있어서, 상기 변형부의 곡률을 산출하는 단계는, 변환된 전기신호의 세기로부터, 상기 기준 광섬유격자에 의해 반사된 광신호와 상기 센싱 광섬유격자에 의해 반사된 광신호 사이의 파장 간격을 산출하는 단계; 상기 단계에서 산출된 파장 간격으로부터 상기 센싱 광섬유격자에 인가된 스트레인 값을 산출하는 단계; 및 상기 센싱 광섬유격자에 인가된 스트레인 값으로부터 상기 변형부의 곡률을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구부림 측정 방법
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패밀리정보가 없습니다
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