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엑스선 씨티에서의 링 아티팩트 제거방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014035552
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 엑스선 CT의 단면영상에서 발생하는 링 아티팩트를 효과적으로 제거하여 단면영상의 화질을 손상시키지 않고 단면영상의 정확도를 향상시킬 수 있는 엑스선 CT에서의 링 아티팩트 제거방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 엑스선 CT에서의 링 아티팩트 제거방법은 엑스선 디텍터를 통하여 획득한 다수의 투영데이터로부터 사이노그램을 구성하는 단계와, 상기 사이노그램으로부터 상기 엑스선 디텍터의 감지소자별로 지배 화소값수를 계산하는 단계와, 상기 지배 화소값수에 따라 상기 감지소자가 I형 결함소자인지 판단하는 단계와, 상기 감지소자가 I형 결함소자인 경우 상기 I형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하는 단계와, 상기 I형 결함소자의 화소값이 보정된 사이노그램에서 합곡선 오차를 계산하는 단계와, 상기 합곡선의 오차에 따라 상기 감지소자가 II형 결함소자인지 판단하는 단계와, 상기 감지소자가 II형 결함소자인 경우 상기 II형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하는 단계를 포함한다.
Int. CL A61B 6/03 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC A61B 6/5258(2013.01) A61B 6/5258(2013.01) A61B 6/5258(2013.01)
출원번호/일자 1020100045187 (2010.05.14)
출원인 경희대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1146006-0000 (2012.05.07)
공개번호/일자 10-2011-0125696 (2011.11.22) 문서열기
공고번호/일자 (20120515) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.05.14)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 기흥구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이수열 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 엠디캄룰하산 방글라데시 방글라데시 다카-***

대리인

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번호 이름 국적 주소
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최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 경기도 용인시 기흥구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.05.14 수리 (Accepted) 1-1-2010-0309542-75
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.07.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0388832-77
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.08.08 수리 (Accepted) 1-1-2011-0608785-77
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.08.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0608762-27
5 등록결정서
Decision to grant		 2012.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0157954-11
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2015-5029677-09
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164254-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
엑스선 디텍터를 통하여 획득한 다수의 투영데이터로부터 사이노그램(P(n, j))을 구성하는 단계와, 상기 사이노그램(P(n, j))으로부터 상기 엑스선 디텍터의 감지소자별로 지배 화소값수를 계산하는 단계와, 상기 지배 화소값수에 따라 상기 감지소자가 I형 결함소자인지 판단하는 단계와, 상기 감지소자가 I형 결함소자인 경우 상기 I형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하는 단계와, 상기 I형 결함소자의 화소값이 보정된 사이노그램(P''(n, j))을 회전각도(n) 방향으로 합하여 얻은 합곡선(y''(j))과 상기 합곡선(y''(j))을 평활화(smoothing)시켜 만든 합곡선(ys''(j)) 사이의 차로 합곡선 오차(e(j)=y''(j)-ys''(j))를 계산하는 단계와, 상기 합곡선 오차(e(j))의 크기가 상기 엑스선 디텍터에 설정된 문턱치보다 클 경우에 상기 감지소자를 II형 결함소자로 판단하는 단계와, 상기 감지소자가 II형 결함소자인 경우 상기 II형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하는 단계를 포함하는 엑스선 씨티(CT)에서의 링 아티팩트 제거방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 지배 화소값수를 계산하는 단계는,상기 사이노그램(P(n, j))의 세로축 크기(N)와 가로축 크기(J)를 구하는 단계와, 상기 엑스선 디텍터 감지소자의 소자번호(j0)를 1로 초기화하는 단계와, 상기 지배 화소값수의 변수(k)를 0으로 초기화하는 단계와, 선택된 소자번호(j0)에서의 전체 회전각도의 투영데이터로 이루어진 사이노그램(P(n, j0))의 히스토그램(h(m))을 구하는 단계와, 상기 히스토그램(h(m))을 내림차순으로 정렬한 히스토그램(hs(ms))을 구하는 단계와, 상기 지배 화소값수의 변수(k)를 1 만큼 증가시키는 단계와,상기 정렬한 히스토그램(hs(ms))에 대한 누적 빈도수(S)를 구하는 단계와, 상기 누적 빈도수(S)가 0
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 감지소자가 I형 결함소자인지 판단하는 단계는, 상기 지배 화소값수를 고역통과필터에 통과시킨 필터통과신호가 음의 문턱치보다 작을 때 상기 I형 결함소자로 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 CT에서의 링 아티팩트 제거방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 필터통과신호가 음의 문턱치보다 작은 값이 연속적으로 다수개가 출현할 경우 상기 다수개의 개수만큼 필터통과신호를 분리한 후 상기 I형 결함소자로 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 CT에서의 링 아티팩트 제거방법
5 5
엑스선 디텍터를 통하여 획득한 다수의 투영데이터로부터 사이노그램(P(n, j))을 구성하고, 상기 사이노그램(P(n, j))으로부터 상기 엑스선 디텍터의 감지소자별로 지배 화소값수를 계산하고, 상기 지배 화소값수에 따라 상기 감지소자가 I형 결함소자인지 판단하고, 상기 감지소자가 I형 결함소자인 경우 상기 I형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하고, 상기 I형 결함소자의 화소값이 보정된 사이노그램(P''(n, j))을 회전각도(n) 방향으로 합하여 얻은 합곡선(y''(j))과 상기 합곡선(y''(j))을 평활화(smoothing)시켜 만든 합곡선(ys''(j)) 사이의 차로 합곡선 오차(e(j)=y''(j)-ys''(j))를 계산하고, 상기 합곡선 오차(e(j))의 크기가 상기 엑스선 디텍터에 설정된 문턱치보다 클 경우에 상기 감지소자를 II형 결함소자로 판단하고, 상기 감지소자가 II형 결함소자인 경우 상기 II형 결함소자로부터 획득한 화소값을 보정하는 제어부를 포함하는 엑스선 씨티(CT)에서의 링 아티팩트 제거장치
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.