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스켈치 검출 회로

  • 기술번호 : KST2014047763
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 스켈치 회로가 제공된다. 스켈치 검출 회로는 입력 차동 신호의 크기와 기준 차동 신호의 크기를 비교하는 비교기를 포함한다. 스켈치 검출 회로는 PMOS의 크기가 NMOS의 크기보다 큰, 즉 라이징 타임이 폴링 타임보다 짧은 인버터를 이용하여 입력 차동 신호의 극성이 변경되는 경우가 스켈치 판정되지 않도록 비교기의 출력을 변경한다.
Int. CL H04L 25/02 (2006.01.01) H04J 3/06 (2006.01.01) H04L 25/49 (2006.01.01)
CPC H04L 25/0272(2013.01) H04L 25/0272(2013.01) H04L 25/0272(2013.01) H04L 25/0272(2013.01)
출원번호/일자 1020100137606 (2010.12.29)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1146816-0000 (2012.05.09)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120521) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유창식 대한민국 서울특별시 성동구
2 전민기 대한민국 서울특별시 성동구
3 김욱 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2010-0870876-12
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0091835-33
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0057410-84
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2012-0259518-41
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.03.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0259520-33
7 등록결정서
Decision to grant		 2012.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0247856-89
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 입력 신호, 제2 입력 신호, 제1 기준 신호 및 제2 기준 신호를 입력 받아, 입력 차동 신호의 크기(상기 입력 차등 신호의 크기는 상기 제1 입력 신호 및 상기 제2 입력 신호의 차의 절대값으로 정의됨)와 기준 차동 신호의 크기(상기 기준 차등 신호의 크기는 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호의 차의 절대값으로 정의됨)에 대한 비교 결과를 출력하는 비교기;상기 비교기의 출력과 연결되고, 라이징 타임(rising time)이 폴링 타임(falling time)보다 짧은 제1 인버터;상기 제1 인버터의 출력의 변화를 둔감(insensitive)시키는 RC 필터; 및상기 RC 필터의 출력을 반전시켜 출력하는 제2 인버터를 포함하고,상기 비교기는NOR 게이트;상기 NOR 게이트의 입력에 연결되고, 제1 입력 신호가 제2 입력 신호보다 큰 경우에 대한 상기 비교 결과를 획득하기 위한 제1 DDA(Differential Difference Amplifier); 및상기 NOR 게이트의 다른 입력에 연결되고, 제1 입력 신호가 제2 입력 신호보다 작은 경우에 대한 상기 비교 결과를 획득하기 위한 제2 DDA를 포함하는 스켈치 검출 회로
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 DDA는상기 제1 입력 신호, 상기 제2 입력 신호, 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 입력 받아 상기 비교 결과의 기초가 되는 두 출력을 생성하는 제1 증폭기; 및상기 제1 증폭기의 두 출력을 입력 받아, 상기 NOR 게이트에 대해 풀 스윙하는 하나의 디지털 출력을 생성하는 제2 증폭기를 포함하는 스켈치 검출 회로
4 4
제3항에 있어서,상기 제1 증폭기는상기 제1 입력 신호 및 상기 제2 입력 신호를 입력으로 하는 제1 차동 증폭기; 및상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 입력으로 하는 제2 차동 증폭기를 포함하고,상기 제1 입력 신호에 대한 드레인(drain)과 상기 제1 기준 신호에 대한 드레인이 서로 연결되고, 상기 제2 입력 신호에 대한 드레인과 상기 제2 기준 신호에 대한 드레인이 서로 연결된 스켈치 검출 회로
5 5
제3항에 있어서,상기 제2 증폭기는상기 제1 증폭기의 두 출력의 차를 증폭하는 제3 차동 증폭기;각 소스(source)가 상기 제3 차동 증폭기의 각 드레인에 연결된 전류 거울(current mirror)들; 및상기 전류 거울들의 각 드레인과 연결된 최종 전류 거울을 포함하는 스켈치 검출 회로
6 6
제1항에 있어서,상기 제2 DDA는상기 제1 입력 신호, 상기 제2 입력 신호, 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 입력 받아 상기 비교 결과의 기초가 되는 두 출력을 생성하는 제3 증폭기; 및상기 제3 증폭기의 두 출력을 입력 받아, 상기 NOR 게이트에 대해 풀 스윙(full)하는 하나의 디지털 출력을 생성하는 제4 증폭기를 포함하는 스켈치 검출 회로
7 7
제6항에 있어서,상기 제3 증폭기는상기 제1 입력 신호 및 상기 제2 입력 신호를 입력으로 하는 제4 차동 증폭기; 및상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 입력으로 하는 제5 차동 증폭기를 포함하고,상기 제1 입력 신호에 대한 드레인(drain)과 상기 제2 기준 신호에 대한 드레인이 서로 연결되고, 상기 제2 입력 신호에 대한 드레인과 상기 제1 기준 신호에 대한 드레인이 서로 연결된 스켈치 검출 회로
8 8
제6항에 있어서,상기 제4 증폭기는상기 제3 증폭기의 두 출력의 차를 증폭하는 제6 차동 증폭기;각 소스(source)가 상기 제6 차동 증폭기의 각 드레인에 연결된 전류 거울(current mirror)들; 및상기 전류 거울들의 각 드레인과 연결된 최종 전류 거울을 포함하는 스켈치 검출 회로
9 9
제1항에 있어서,상기 제1 인버터는각 게이트(gate)가 상기 비교기의 출력과 연결된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터를 포함하고,상기 PMOS 트랜지스터는 상기 NMOS 트랜지스터보다 10배 이상 큰 스켈치 검출 회로
10 10
제1 입력 신호, 제2 입력 신호, 제1 기준 신호 및 제2 기준 신호를 입력 받는 단계;비교기를 이용하여, 입력 차동 신호의 크기(상기 입력 차등 신호의 크기는 상기 제1 입력 신호 및 상기 제2 입력 신호의 차의 절대값으로 정의됨)와 기준 차동 신호의 크기(상기 기준 차등 신호의 크기는 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호의 차의 절대값으로 정의됨)에 대한 비교 결과를 출력하는 단계;라이징 타임이 폴링 타임보다 짧은 제1 인버터를 이용하여 상기 비교 결과에 대한 출력을 조절하는 단계;RC 필터를 이용하여 상기 제1 인버터의 출력의 변화를 둔감시키는 단계; 및제2 인버터를 이용하여 상기 RC 필터의 출력이 반전된 디지털 신호를 출력하는 단계를 포함하고,상기 비교 결과를 출력하는 단계는상기 제1 입력 신호가 상기 제2 입력 신호보다 큰 경우와 상기 제1 입력 신호가 상기 제2 입력 신호보다 작은 경우를 구분하여 입력 차동 신호의 크기와 기준 차동 신호의 크기를 비교하는 단계;상기 크기 비교 결과들을 NOR 게이트에 대해 풀스윙하는 디지털 신호들로 출력하는 단계; 및상기 디지털 신호들을 입력으로 하는 NOR 게이트를 이용하여 상기 비교 결과를 출력하는 단계를 포함하는 스켈치 검출 방법
11 11
삭제
12 12
제10항에 있어서,상기 비교 결과에 대한 출력을 조절하는 단계는각 게이트가 상기 비교기의 출력과 연결된 PMOS 트랜지스터 및 NMOS 트랜지스터를 포함하고 상기 PMOS 트랜지스터는 상기 NMOS 트랜지스터보다 10배 이상 큰 상기 제1 인버터를 이용하여 상기 비교 결과에 대한 출력을 조절하는 단계를 포함하는 스켈치 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산학협력단 기술혁신사업(산업원천기술개발사업) 대용량 MLC SSD 핵심기술 개발