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평면 형상 변형 인식방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2014047296
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 평면 형상 변형 인식 방법이 개시된다. 상기 평면 형상 변형 인식 방법은 패턴해석회로가 복수의 휨 센서들로부터 변형 값들을 수신하는 단계, 상기 패턴해석회로가 상기 수신된 변형 값들로부터 신호 패턴들을 형성하는 단계, 상기 패턴해석회로가 형성된 신호 패턴들과 기준 패턴들의 유사성을 비교하는 단계 및 상기 패턴해석회로가 상기 비교된 기준 패턴들 중 유사성이 가장 높은 기준 패턴들을 추출하여 제스처인식회로로 전송하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06F 17/00 (2006.01) G06F 3/00 (2006.01) G06F 9/00 (2006.01) G06F 17/30 (2006.01)
CPC G06F 3/017(2013.01) G06F 3/017(2013.01)
출원번호/일자 1020100012129 (2010.02.09)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1078820-0000 (2011.10.26)
공개번호/일자 10-2011-0092614 (2011.08.18) 문서열기
공고번호/일자 (20111102) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.03.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성관 대한민국 대전광역시 유성구
2 김상식 대한민국 대전광역시 대덕구
3 이원겸 대한민국 경기도 고양시 일산서구
4 신재규 대한민국 대전광역시 유성구
5 장진혁 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한지희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** 한국지식재산센터 *층 (공익변리사 특허상담센터)(한국지식재산보호원)
2 권영규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *** (역삼동, 재승빌딩 *층)(프라임특허법률사무소)
3 윤재석 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **(서초동) *층(정석국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0088371-91
2 보정요구서
Request for Amendment		 2010.02.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0016169-46
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153304-56
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153270-92
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2010.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0862276-06
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.03.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.04.08 수리 (Accepted) 9-1-2011-0029402-90
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.04.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0199527-78
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2011-0421076-39
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.06.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0421078-20
11 등록결정서
Decision to grant		 2011.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0609676-13
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
패턴해석회로가 복수의 휨 센서들로부터 변형 값들을 수신하는 단계;상기 패턴해석회로가 상기 수신된 변형 값들로부터 신호 패턴을 형성하는 단계;상기 패턴해석회로가 상기 형성된 신호 패턴과 기준 패턴들의 유사성을 비교하는 단계; 및상기 패턴해석회로가 상기 비교된 기준 패턴들 중 유사성이 가장 높은 기준 패턴을 제스처인식회로로 전송하는 단계를 포함하고, 상기 패턴해석회로가 상기 형성된 신호패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하는 단계는,상기 형성된 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하기 위해 모든 기준 변형에 따른 상기 기준 패턴들을 획득하고, 상기 기준 패턴들에 대한 평균 패턴을 계산하고, 특이값 분해(Singular Value Decomposition)의 방법으로 상기 평균 패턴에 대한 고유 패턴을 추출하고, 상기 추출된 고유 패턴에 기초하여 상기 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하는 평면 형상 변형 인식방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 패턴해석회로가 상기 수신된 변형 값들로부터 상기 신호 패턴을 형성하는 단계는,매트릭스를 이용하여 상기 신호 패턴을 형성하는 평면 형상 변형 인식 방법
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
제 1항에 있어서, 상기 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성의 비교는 프로베니우스 놈(Frobenius norm)을 이용하여 비교하는 평면 형상 변형 인식방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 평면 형상 변형 인식 방법은,상기 제스처인식회로가 상기 전송된 기준 패턴을 기초로 하여 커맨드 신호를 생성하고 생성된 커맨드 신호를 프로세서로 출력하는 단계를 더 포함하는 평면 형상 변형 인식방법
8 8
평면 형상의 변형 값들을 센싱하여 출력하는 복수의 휨 센서들;상기 복수의 센서들로부터 출력된 변형 신호들을 수신하여 신호 패턴을 형성하고 상기 형성된 신호 패턴을 기준 패턴들과 비교하여 가장 유사한 기준 패턴을 추출하는 패턴해석회로; 및상기 패턴해석회로로부터 추출된 가장 유사한 기준 패턴을 수신하고 상기 수신한 기준 패턴들에 기초하여 프로세서로 커맨드 신호를 전송하는 제스처인식회로를 포함하고, 상기 형성된 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 비교는,상기 형성된 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하기 위해 모든 기준 변형에 따른 상기 기준 패턴들을 획득하고, 상기 기준 패턴들에 대한 평균 패턴을 계산하고, 특이값 분해(Singular Value Decomposition)의 방법으로 상기 평균 패턴에 대한 고유 패턴을 추출하고, 상기 추출된 고유 패턴에 기초하여 상기 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하는 평면 형상 변형 인식장치
9 9
제 8항에 있어서 상기 패턴해석회로는,복수의 휨 센서들로부터 변형 값들을 수신하고 상기 수신된 변형 값들로부터 신호 패턴을 형성하는 패턴 생성회로;모든 변형값 들에 따른 기준 패턴들을 생성하고 상기 생성된 기준 패턴들에 대한 평균 패턴을 계산하는 평균패턴계산회로;상기 계산된 평균 패턴으로부터 고유패턴을 추출하는 고유패턴추출회로; 및상기 추출된 고유패턴에 따라 상기 신호 패턴과 상기 기준 패턴들의 유사성을 비교하고 상기 비교에 따라 가장 유사성이 높은 기준 패턴을 제스처인식회로로 전송하는 패턴유사비교회로를 포함하는 평면 형상 변형 인식장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 KAIST 산업원천기술개발사업 미래 정보기기용 변형기반 제스쳐 센싱/반응 인터랙션 기술개발