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평면 형상 변형 인식 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015115421
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 복수의 센서 유닛들로 나뉘는 센서 어레이를 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법이 개시된다. 상기 평면 형상 변형 인식 방법은 상기 복수의 센서 유닛들 각각의 센싱 값을 측정하는 단계, 상기 측정된 각각의 센싱 값을 각각의 위상 값으로 변환시키는 단계, 상기 변환된 각각의 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들 중 어느 하나와 나머지 센서 유닛들 사이에 각각의 상대적인 위상 값을 계산하는 단계, 및 상기 계산된 각각의 상대적인 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들 각각의 절대적인 좌표를 계산하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06F 3/03 (2006.01)
CPC G06F 3/0416(2013.01) G06F 3/0416(2013.01) G06F 3/0416(2013.01)
출원번호/일자 1020110071785 (2011.07.20)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0082320 (2012.07.23) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020110003727   |   2011.01.13
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.07.20)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성관 대한민국 대전광역시 유성구
2 김상식 대한민국 대전광역시 대덕구
3 이원겸 대한민국 경기도 고양시 일산서구
4 안우진 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한지희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** 한국지식재산센터 *층 (공익변리사 특허상담센터)(한국지식재산보호원)
2 권영규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *** (역삼동, 재승빌딩 *층)(프라임특허법률사무소)
3 윤재석 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **(서초동) *층(정석국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2011-0558480-40
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0496746-38
3 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2012.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0702060-59
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 센서 유닛들로 나뉘는 센서 어레이를 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법에 있어서,상기 복수의 센서 유닛들 각각의 센싱 값을 측정하는 단계;상기 측정된 각각의 센싱 값을 각각의 위상 값으로 변환시키는 단계;상기 변환된 각각의 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들 중 어느 하나와 나머지 센서 유닛들 사이에 각각의 상대적인 위상 값을 계산하는 단계; 및 상기 계산된 각각의 상대적인 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들 각각의 절대적인 좌표를 계산하는 단계를 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 평면 형상 변형 인식 방법은,상기 계산된 절대적인 좌표에 따라 상기 복수의 센서 유닛들을 제스쳐로 인식하는 단계를 더 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 복수의 센서 유닛들 중 어느 하나는,상기 복수의 센서 유닛들 중 에지 유닛인 평면 형상 변형 인식 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 각각의 위상 값으로 변환시키는 단계는,상기 각각의 센싱 값과 상기 각각의 위상 값을 매핑하는 매핑 테이블(mapping table)을 이용하여 상기 측정된 각각의 센싱 값을 상기 각각의 위상 값으로 변환시키는 평면 형상 변형 인식 방법
5 5
복수의 센서 유닛들로 나뉘는 센서 어레이;상기 복수의 센서 유닛들 각각으로 센싱된 각각의 센싱 값을 수신하여 상기 센싱된 각각의 센싱 값을 각각의 위상 값으로 변환시키는 위상 변환 회로; 및상기 변환된 각각의 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들의 절대적인 좌표를 계산하는 위상 결정 회로를 포함하는 평면 형상 변형 인식 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 평면 변형 인식 장치는,상기 센싱된 각각의 센싱 값을 상기 각각의 위상 값으로 변환시키기 위해 상기 각각의 센싱 값과 상기 각각의 위상 값을 매핑하는 매핑 테이블(mapping table)을 저장하는 버퍼를 더 포함하는 평면 형상 변형 인식 장치
7 7
제5항에 있어서, 상기 위상 변환 회로는,상기 복수의 센서 유닛들 중 어느 하나와 나머지 센서 유닛들 사이에 각각의 상대적인 위상 값을 계산하며, 상기 계산된 각각의 상대적인 위상 값에 따라 상기 복수의 센서 유닛들 각각의 절대적인 좌표를 계산하는 평면 형상 변형 인식 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 KAIST 산업원천기술개발사업 미래 정보기기용 변형기반 제스쳐 센싱/반응 인터랙션 기술개발