맞춤기술찾기

이전대상기술

강유전체 기반의 데이터 저장 패턴을 포함하는 3차원 플래시 메모리의 동작 방법

  • 기술번호 : KST2023006029
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 강유전체 기반의 데이터 저장 패턴을 포함하는 3차원 플래시 메모리의 동작 방법이 개시된다. 일 실시예에 따르면, 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법은, ISPP(Incremental Step Pulse Programming) 방식에서 전압 펄스가 증가되는 슬로프(Slope)에 기초하여, 워드 라인들 중 프로그램 동작의 대상이 되는 대상 메모리 셀에 대응하는 선택된 워드 라인에 인가될 프로그램 전압의 값을 조절하는 단계; 조절된 값의 프로그램 전압을 선택된 워드 라인에 인가하는 단계; 워드 라인들 중 선택된 워드 라인을 제외한 비선택된 워드 라인들 각각에 패스 전압을 인가하는 단계; 및 조절된 값의 프로그램 전압이 선택된 워드 라인에 인가되고 패스 전압이 비선택된 워드 라인들 각각에 인가됨에 응답하여, 대상 메모리 셀에 대한 프로그램 동작을 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G11C 16/10 (2006.01.01) G11C 16/08 (2006.01.01) G11C 11/22 (2006.01.01) H10B 43/27 (2023.01.01)
CPC G11C 16/10(2013.01) G11C 16/08(2013.01) G11C 11/221(2013.01) H10B 43/27(2013.01)
출원번호/일자 1020220017915 (2022.02.11)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0121269 (2023.08.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.02.11)
심사청구항수 6

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 송윤흡 서울특별시 성동구
2 최선준 서울특별시 성동구
3 심재민 서울특별시 성동구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.02.11 수리 (Accepted) 1-1-2022-0154100-32
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상 수평 방향으로 연장 형성된 채 수직 방향으로 이격되며 적층된 워드 라인들; 및 상기 워드 라인들을 관통하며 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 수직 채널 구조체들-상기 수직 채널 구조체들 각각은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 수직 채널 패턴 및 상기 수직 채널 패턴의 외측벽을 덮으며 형성되는 강유전체 기반의 데이터 저장 패턴을 포함하고, 상기 데이터 저장 패턴 및 상기 수직 채널 패턴은 상기 워드 라인들에 대응하는 메모리 셀들을 구성함-을 포함하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법에 있어서, ISPP(Incremental Step Pulse Programming) 방식을 적용하여, 상기 워드 라인들 중 상기 프로그램 동작의 대상이 되는 대상 메모리 셀에 대응하는 선택된 워드 라인에 인가될 프로그램 전압의 값을 조절하는 단계; 상기 조절된 값의 프로그램 전압을 상기 선택된 워드 라인에 인가하는 단계; 상기 워드 라인들 중 상기 선택된 워드 라인을 제외한 비선택된 워드 라인들 각각에 패스 전압을 인가하는 단계; 및 상기 조절된 값의 프로그램 전압이 상기 선택된 워드 라인에 인가되고 상기 패스 전압이 상기 비선택된 워드 라인들 각각에 인가됨에 응답하여, 상기 대상 메모리 셀에 대한 상기 프로그램 동작을 수행하는 단계를 포함하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 조절하는 단계는, 상기 ISPP 방식에서 전압 펄스가 증가되는 슬로프(Slope)에 기초하여, 상기 워드 라인들 중 상기 프로그램 동작의 대상이 되는 대상 메모리 셀에 대응하는 선택된 워드 라인에 인가될 프로그램 전압의 값을 조절하는 단계인 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 조절하는 단계는, 상기 프로그램 전압의 값을 복수의 값들로 조절함으로써, 상기 3차원 플래시 메모리의 다치화를 구현하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 대상 메모리 셀을 포함하는 선택된 수직 채널 구조체의 수직 채널 패턴이 N 타입인 경우, 상기 조절하는 단계는, 상기 프로그램 전압의 값을 양의 값으로 조절하는 단계인 것을 특징으로 하고, 상기 패스 전압을 인가하는 단계는, 양의 값의 패스 전압을 인가하는 단계인 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
5 5
제1항에 있어서,상기 대상 메모리 셀을 포함하는 선택된 수직 채널 구조체의 수직 채널 패턴이 P 타입인 경우, 상기 조절하는 단계는, 상기 프로그램 전압의 값을 음의 값으로 조절하는 단계인 것을 특징으로 하고, 상기 패스 전압을 인가하는 단계는, 음의 값의 패스 전압을 인가하는 단계인 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
6 6
제1항에 있어서,상기 패스 전압을 인가하는 단계는, 상기 대상 메모리 셀이 상기 프로그램 동작으로 인해 갖게 되는 프로그램 상태의 안정성에 기초하여 상기 패스 전압의 값을 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.