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아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 탄소나노튜브 에미터를갖는 스위칭 수단 및 그 스위칭 수단의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014032966
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 아몰퍼스 셀레늄을 이용한 이미지 센서에 관한 것으로, 특히 상기 이미지 센서를 구성하는 스위칭 수단을 탄소나노튜브 에미터를 갖도록 제조함으로써 제조공정을 단순화하고, 전류 노이즈를 최소화할 수 있으며, 스위칭 소자(트랜지스터)를 통한 전류제어로 안정적인 전류를 공급할 수 있는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 탄소나노튜브 에미터를 갖는 스위칭 수단 및 그 스위칭 수단의 제조방법을 제공한다. 아몰퍼스 셀레늄, 이미지 센서, 탄소나노튜브
Int. CL H01L 27/146 (2011.01) B82Y 20/00 (2011.01) B82B 3/00 (2011.01)
CPC H01L 31/0272(2013.01) H01L 31/0272(2013.01) H01L 31/0272(2013.01) H01L 31/0272(2013.01) H01L 31/0272(2013.01)
출원번호/일자 1020080039608 (2008.04.28)
출원인 경희대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1002455-0000 (2010.12.13)
공개번호/일자 10-2009-0113727 (2009.11.02) 문서열기
공고번호/일자 (20101217) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.04.28)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 기흥구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박규창 대한민국 서울 광진구
2 장 진 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세중 대한민국 서울시 강남구 테헤란로 ***, **** (역삼동. 성지하이츠 Ⅱ)(해오름국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 월드빔솔루션 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.04.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0306535-82
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0470895-50
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.01.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0025995-07
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0180993-16
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.04.20 수리 (Accepted) 1-1-2010-0251545-18
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0327266-90
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0327264-09
8 등록결정서
Decision to grant
2010.09.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0404299-72
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2015-5029677-09
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164254-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
진공을 통한 전계방출효과를 이용하여 전하를 공급하는 스위칭 수단에 있어서, 실리콘 기판에 p형 또는 n형 도펀트를 주입하여 형성한 소오스 전극 및 드레인 전극과; 상기 소오스 전극과 드레인 전극 사이에 형성한 제1절연층 및 그 제1절연층 상부에 형성된 제1게이트 전극과; 상기 실리콘 기판 상부에 형성된 드레인 전극의 상부에 직접 형성된 탄소나노튜브 에미터와; 상기 탄소나노튜브가 노출되며 제1게이트 전극이 함침되도록 도포된 제2절연층과; 상기 제2절연층 상부에 형성된 제2게이트 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는, 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 탄소나노튜브 에미터를 갖는 스위칭 수단
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 제1절연층 및 상기 제2절연층은 실리콘 산화물 및 실리콘 질화물 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 탄소나노튜브 에미터를 갖는 스위칭 수단
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 제2절연층은, 탄소나노튜브의 높이에 맞춰 무기 절연물 또는 유무기 복합물을 이용하여 형성된 평탄화층과; 상기 평탄화층 상부에 형성되는 절연층으로 구성되는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 탄소나노튜브 에미터를 갖는 스위칭 수단
5 5
진공을 통한 전계방출효과를 이용하여 전하를 공급하는 스위칭 수단의 제조방법에 있어서, 실리콘 기판 상부에 n형 도펀트 또는 p형 도펀트를 주입하여 소오스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계와; 상기 소오스 전극과 드레인 전극 사이에 제1절연층을 형성하고, 상기 제1절연층 상부에 제1게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 드레인 전극 상부에 에미터로 사용될 탄소나노튜브를 성장시키는 단계와; 상기 탄소나노튜브가 성장한 기판 상부에 탄소나토튜브가 노출되도록 제2절연층을 형성하여 평탄화하는 단계와; 상기 평탄화된 제2절연층 상부에 제2게이트 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 탄소나노튜브를 성장시키는 방법은, 상기 실리콘 기판 상부에 촉매 금속층을 형성하는 단계와; 상기 촉매 금속층 상부에 감광성 레지스트 층을 형성하고 리소그라피 공정에 의해 드레인 전극 상부에 탄소나노튜브 성장부들을 형성하고 나머지 부분의 감광성 레지스트와 촉매 금속층을 제거하는 단계와; 상기 드레인 전극 상부에 탄소나노튜브 성장부에 탄소나노튜브를 성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 촉매 금속층은, 니켈(Ni), 철(Fe) 또는 코발트(Co)와 같은 전이 금속 중 어느 하나이거나, 코발트-니켈, 코발트-철, 니켈-철 또는 코발트-니켈-철이 합성된 합금 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
8 8
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 촉매 금속층은, 열증착(thermal evaporation)법, 스퍼터링(sputtering)법, 전자빔증착(electron beam evaporation)법, 및 화학기상 증착법 중 어느 한 방법을 이용하여 10 내지 100nm의 두께로 형성한 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 탄소나노튜브 성장부의 형성방법은, 상기 감광성 레지스트를 100 ~ 250 oC 의 온도로 소결하는 단계와; 상기 소결된 감광성 레지스트를 UV와 마스크를 이용하여 필요한 형태의 패턴 노광 과정을 수행하고 이를 현상하며, 탄소나노튜브가 형성될 위치의 패턴 이외 부분의 감광성 레지스터를 제거하는 단계와; 상기 패턴 부분의 소결된 감광성 레지스트와 촉매 금속층을 기판의 온도를 200 ~ 800 oC 에서 1 ~ 600분간 용융하여 탄소나노튜브 형성을 위한 씨앗(seed)인 전자방출 소자 성장부를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
10 10
제 5 항에 있어서, 상기 제2절연층을 형성하는 단계는, 상기 탄소나노튜브 에미터의 높이에 따라 평평하게 형성되는 평탄화층을 형성하는 단계와; 상기 평탄화층 상부에 절연물질을 도포하여 절연층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 평탄화층은, 무기 절연재 또는 유무기 복합재를 이용하여 용액법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
12 12
제 5 항에 있어서, 상기 제1 절연층 및 상기 제2 절연층은, 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물을 이용하여 화학기상증착법 또는 프린팅법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 아몰퍼스 셀레늄 이미지 센서의 스위칭 수단 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 서울특별시 / 서울특별시 국민대학교 산학협력단 / 경희대학교 서울시 산학연 협력사업(기술기반구축사업) /서울시 산학연 협력사업 나노공정 기술 및 장비 개발 산학연 혁신클러스터/ 나노기반 차세대 방사선 진단기 연구단