요약 | 본 발명은 행 및 열로 배열된 복수의 자화반전소자와, 복수의 자화반전소자의 하부에 형성되어 열 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 비트라인과, 복수의 자화반전소자의 상부에 형성되어 행 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 비트라인을 구비하는 자성 메모리를 구동할 때, 문제점이 발생하지 않게 하는 자성 메모리의 동작방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 정보의 기록은 비트라인과 워드라인을 통해 자화반전소자에 전류를 인가하여 스핀 전달 토크(Spin-Transfer Torque, STT) 현상에 의한 전자 주입으로 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 이루어진다. 그리고 정보의 소거는 자화반전소자의 외부에서 인가되는 자장에 의해 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 이루어진다. |
---|---|
Int. CL | G11C 11/16 (2006.01.01) G11C 11/15 (2006.01.01) H01L 43/08 (2006.01.01) H01L 27/22 (2006.01.01) |
CPC | G11C 11/1675(2013.01) G11C 11/1675(2013.01) G11C 11/1675(2013.01) G11C 11/1675(2013.01) G11C 11/1675(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020090050279 (2009.06.08) |
출원인 | 한양대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1048351-0000 (2011.07.05) |
공개번호/일자 | 10-2010-0131604 (2010.12.16) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20110714) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2009.06.08) |
심사청구항수 | 6 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 송윤흡 | 대한민국 | 경기도 성남시 분당구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 송경근 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 서초대로**길 ** (방배동) 기산빌딩 *층(엠앤케이홀딩스주식회사) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2009.06.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0343724-51 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2010.11.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2010.12.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2010-0075573-66 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.01.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0050348-08 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.03.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0223666-78 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.03.28 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0223699-74 |
7 | 등록결정서 Decision to grant |
2011.06.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0359311-22 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 행 및 열로 배열된 복수의 자화반전소자와, 상기 복수의 자화반전소자의 하부에 형성되어 열 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 비트라인과, 상기 복수의 자화반전소자의 상부에 형성되어 행 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 워드라인을 구비하는 자성 메모리의 동작방법으로, 정보의 기록은 상기 비트라인과 워드라인을 통해 상기 자화반전소자에 전류를 인가하여 스핀 전달 토크(Spin-Transfer Torque, STT) 현상에 의한 전자 주입으로 상기 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 자화반전소자 단위로 이루어지고, 정보의 소거는 상기 자화반전소자의 외부에서 인가되는 자장에 의해 상기 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 동일한 행에 배열되어 있는 자화반전소자로 이루어진 페이지 단위로 이루어지며, 상기 비트라인과 워드라인 사이에는 상기 자화반전소자와 연결된 스위칭 소자로서 다이오드가 구비되어 있고, 상기 정보의 기록은, 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자와 연결된 워드라인에 제1기록전압을 인가하고, 상기 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자와 연결된 비트라인의 일단에는 제2기록전압을 인가하며, 상기 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자와 연결되지 않은 비트라인에 제3기록전압을 인가하되, 상기 제3기록전압은 상기 제1기록전압보다 크고 상기 제1기록전압은 상기 제2기록전압보다 크게 되도록 전압을 인가하고, 상기 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자와 연결된 비트라인의 타단에는 제1기록전압보다 큰 제4기록전압을 인가하며, 상기 제2기록전압이 인가되는 비트라인 일단과 상기 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자 사이의 저항값이 상기 제4기록전압이 인가되는 비트라인 타단과 상기 정보를 기록하고자 하는 자화반전소자 사이의 저항값보다 작은 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 삭제 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 제1항에 있어서, 상기 다이오드는 상기 비트라인과 자화반전소자 사이에 상기 워드라인에서 상기 비트라인 방향이 순방향이 되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
6 |
6 제5항에 있어서, 상기 비트라인은 활성 N+ 영역으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
7 |
7 삭제 |
8 |
8 삭제 |
9 |
9 제1항에 있어서, 상기 정보의 소거는, 정보를 소거하고자 하는 페이지에 연결된 워드라인에 제1소거전압을 인가하고, 모든 비트라인에 제2소거전압을 인가하되, 상기 제2소거전압은 상기 제1소거전압보다 크게 되도록 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
10 |
10 제1항, 제5항, 제6항 또는 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자화반전소자는 강자성체로 이루어진 고정층; 상기 고정층의 일측에 형성되며, 절연체로 이루어진 절연층; 및 상기 고정층과의 사이에 상기 절연층이 배치되도록 상기 절연층의 일측에 형성되며, 강자성체로 이루어진 자유층;을 포함하는 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
11 |
11 제10항에 있어서, 상기 고정층의 자화는 상기 고정층의 상면과 평행한 방향이고, 상기 자유층의 자화는 상기 자유층의 상면과 평행한 방향으로 배열된 것을 특징으로 하는 자성 메모리의 동작방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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국가 R&D 정보가 없습니다. |
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특허 등록번호 | 10-1048351-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20090608 출원 번호 : 1020090050279 공고 연월일 : 20110714 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20110629 청구범위의 항수 : 6 유별 : G11C 11/15 발명의 명칭 : 자성 메모리의 동작방법 존속기간(예정)만료일 : 20160706 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 139,500 원 | 2011년 07월 05일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 120,400 원 | 2014년 05월 28일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 120,400 원 | 2015년 06월 30일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2009.06.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0343724-51 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2010.11.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2010.12.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2010-0075573-66 |
4 | 의견제출통지서 | 2011.01.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0050348-08 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.03.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0223666-78 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.03.28 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0223699-74 |
7 | 등록결정서 | 2011.06.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0359311-22 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
기술번호 | KST2014041928 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한양대학교 |
기술명 | 자성 메모리의 동작방법 |
기술개요 |
본 발명은 행 및 열로 배열된 복수의 자화반전소자와, 복수의 자화반전소자의 하부에 형성되어 열 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 비트라인과, 복수의 자화반전소자의 상부에 형성되어 행 방향으로 배열된 자화반전소자를 연결시키는 비트라인을 구비하는 자성 메모리를 구동할 때, 문제점이 발생하지 않게 하는 자성 메모리의 동작방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 정보의 기록은 비트라인과 워드라인을 통해 자화반전소자에 전류를 인가하여 스핀 전달 토크(Spin-Transfer Torque, STT) 현상에 의한 전자 주입으로 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 이루어진다. 그리고 정보의 소거는 자화반전소자의 외부에서 인가되는 자장에 의해 자화반전소자의 자화를 반전시킴으로써 이루어진다. |
개발상태 | 기술개발진행중 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 플래시 메모리 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345096913 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A1612 |
연구과제명 | 수요지향적정보기술전문인력양성사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 한양대학교 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기타 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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