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평면 형상 변형 인식 시스템과 이의 신호처리 방법

  • 기술번호 : KST2014047297
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 평면 형상 변형 인식 방법은 자계 생성 모듈 구동 제어부에 의하여 제어된 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하는 단계, 상기 다수의 감지 신호들을 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하는 단계, 상기 감지된 이종의 신호들의 패턴을 분석하는 단계, 기준 패턴과 분석된 패턴을 비교하는 단계, 및 상기 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06F 3/03 (2006.01) G06F 3/00 (2006.01)
CPC G06F 3/046(2013.01) G06F 3/046(2013.01) G06F 3/046(2013.01)
출원번호/일자 1020100012135 (2010.02.09)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1059953-0000 (2011.08.22)
공개번호/일자 10-2011-0092618 (2011.08.18) 문서열기
공고번호/일자 (20110829) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.03.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성관 대한민국 대전광역시 유성구
2 김상식 대한민국 대전광역시 대덕구
3 이원겸 대한민국 경기도 고양시 일산서구
4 신재규 대한민국 대전광역시 유성구
5 장진혁 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한지희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** 한국지식재산센터 *층 (공익변리사 특허상담센터)(한국지식재산보호원)
2 권영규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *** (역삼동, 재승빌딩 *층)(프라임특허법률사무소)
3 윤재석 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **(서초동) *층(정석국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0088430-97
2 보정요구서
Request for Amendment		 2010.02.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0016131-12
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153271-37
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153306-47
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2010.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0862279-32
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.05.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.06.23 수리 (Accepted) 9-1-2011-0054562-62
8 등록결정서
Decision to grant		 2011.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0464841-49
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
자계 생성 모듈 구동 제어부에 의하여 제어된 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하는 단계;상기 다수의 감지 신호들을 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하는 단계;상기 감지된 이종의 신호들의 패턴을 분석하는 단계; 기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하는 단계; 및상기 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법
2 2
다수의 자계 생성 모듈들;상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각의 동작을 제어하기 위한 자계생성모듈 구동제어회로;상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각으로부터 출력된 자계를 검출하기 위한 자기장 센서; 및상기 자기장 센서로부터 순차적으로 출력된 다수의 검출 신호들에 기초하여 자기장 패턴을 생성하고, 상기 자기장 패턴과 기준 패턴들 각각을 비교하고, 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하기 위한 프로세서를 포함하는 평면 형상 변형 인식 시스템
3 3
제2항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 다수의 검출 신호를 수신하여 시간 또는 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하여 그에 따른 자기장 패턴을 형성하는 신호 처리회로;상기 자기장 패턴을 기준 패턴과 비교하여 해석하고, 해석결과에 상응하는 해석 신호를 출력하는 패턴 해석회로; 및상기 해석신호에 응답하여 사용자의 행위 또는 제스처를 인식하고 인식된 행위에 따른 인식 신호를 출력하는 제스처 인식회로를 포함하는 평면 형상 변형 인식 시스템
4 4
평면 형상 변형 인식 시스템에 있어서,자계를 생성하기 위한 다수의 자계 생성 모듈들;상기 각 자계 생성 모듈에 의하여 생성된 자계를 검출하여 그에 따른 검출 신호를 출력하기 위한 자기장 센서; 및상기 자기장 센서로부터 출력된 검출 신호로부터 상기 자계의 패턴을 분석하고, 분석 결과에 기초하여 상기 평면 형상의 변형을 인식하고, 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력하기 위한 프로세서를 포함하는 평면 형상의 변형 인식 시스템
5 5
제4항에 있어서,상기 시스템이 디스플레이 시스템인 경우, 상기 디스플레이 시스템은,이미지를 디스플레이할 수 있는 디스플레이 패널; 및상기 디스플레이 채널로 동작 전원을 공급할 수 있는 전원 공급 장치를 더 포함하고,상기 전원 공급 장치는 상기 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 상기 동작 전원을 공급하거나 차단하는 평면 형상 변형 인식 시스템
6 6
프로그램을 저장하기 위한 메모리; 및상기 메모리에 저장된 상기 프로그램을 실행시기 위한 프로세서를 포함하며,상기 프로세서는,다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하고, 상기 수신된 감지 신호들의 패턴을 분석하고, 기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하여 해석하고, 상기 비교 해석 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고, 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 평면 형상 변형 인식 시스템
지정국 정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 KAIST 산업원천기술개발사업 미래 정보기기용 변형기반 제스쳐 센싱/반응 인터랙션 기술개발