요약 | 공기 중에서도 안정한, 인(phosphorus)-도핑된 그래핀을 포함하는 채널층을 이용한 전계효과 트랜지스터, 그의 제조 방법, 인-도핑된 그래핀, 및 그의 제조 방법에 관한 것이다. |
---|---|
Int. CL | C01B 31/02 (2006.01) H01L 29/78 (2006.01) |
CPC | H01L 29/78(2013.01) H01L 29/78(2013.01) H01L 29/78(2013.01) H01L 29/78(2013.01) H01L 29/78(2013.01) H01L 29/78(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020120136477 (2012.11.28) |
출원인 | 성균관대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1430140-0000 (2014.08.07) |
공개번호/일자 | 10-2014-0068683 (2014.06.09) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20140813) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2012.11.28) |
심사청구항수 | 14 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 성균관대학교산학협력단 | 대한민국 | 경기도 수원시 장안구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이효영 | 대한민국 | 경기 수원시 장안구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 특허법인엠에이피에스 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 성균관대학교산학협력단 | 경기도 수원시 장안구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.11.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0987868-36 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.08.20 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.10.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0077105-73 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2013.10.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0744078-88 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.12.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-1201848-79 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.12.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-1201849-14 |
7 | 거절결정서 Decision to Refuse a Patent |
2014.05.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0327908-99 |
8 | [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 [Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration) |
2014.06.12 | 수리 (Accepted) | 7-1-2014-0021805-45 |
9 | [명세서등 보정]보정서(재심사) Amendment to Description, etc(Reexamination) |
2014.07.09 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2014-0643814-83 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2014.07.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0643813-37 |
11 | 등록결정서 Decision to Grant Registration |
2014.07.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0485484-93 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.02.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5028829-43 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기재 상에 각각 형성된 소스 전극 및 드레인 전극; 및상기 소스 전극 및 드레인 전극과 전기적으로 연결되며, 인(phosphorous)-도핑된 그래핀을 포함하는 채널층을 포함하는, 전계효과 트랜지스터로서,상기 그래핀은 화학기상증착법에 의하여 이중층으로 형성되는 것이며,상기 인-도핑은 상기 그래핀의 이중층 사이에 생성되는 것이고,공기 중에서 안정적인, 전계효과 트랜지스터 |
2 |
2 제 1 항에 있어서, 상기 인-도핑은 트리페닐(triphenyl)기-함유 인 화합물, P4O4, H3PO4, PF3, PCl3, PBr3, PI3, PF5, PCl5, PBr5, PI5, 포스파인(phosphine, PH3), 디포스페인(diphosphane, H2PPH2), 디포스파인[diphosphine, R2PPR2, R2P(CH2)nPR2], 디포스펜(diphosphene, HP=PH), 디포스펜스(diphosphenes, R-P=P-R), 포스파인 옥사이드(phosphine oxide, R3P=O), 포스포레인(phosphorane, PR5, R3P=CR2), 포스피나이트[phosphinite, P(OR)R2], 포스포나이트[phosphonite, P(OR)2R], 포스파이트[phosphate, P(OR)3], 포스피네이트[phosphinate, R2P(RO)O], 포스포네이트[phosphonate, RP(RO)2O], 포스페이트[phosphate, P(RO)3O], 및 이들의 조합들로 이루어지는 군으로부터 선택되는 것을 전구체로서 이용하여 수행되는 것인, 전계효과 트랜지스터 |
3 |
3 삭제 |
4 |
4 제 1 항에 있어서,상기 인-도핑 함량은 0 |
5 |
5 제 1 항에 있어서,상기 소스 전극 및 드레인 전극은 각각 독립적으로 Au, Al, Ag, Be, Bi, Co, Cu, Cr, Hf, In, Mn, Mo, Mg, Ni, Nb, Pb, Pd, Pt, Rh, Re, Ru, Sb, Ta, Te, Ti, V, W, Zr, Zn, 및 이들의 조합들로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터 |
6 |
6 제 1 항에 있어서,상기 기재는 실리콘, 유리, 또는 석영을 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터 |
7 |
7 제 1 항에 있어서,상기 기재는 플렉서블(flexible) 또는 투명 플렉서블 기재를 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터 |
8 |
8 기재 상에 소스 전극 및 드레인 전극을 각각 형성하고;상기 소스 전극 및 드레인 전극과 전기적으로 연결되며, 인-도핑된 그래핀을 포함하는 채널층을 형성하는 것을 포함하는, 전계효과 트랜지스터의 제조 방법으로서,상기 그래핀은 화학기상증착법에 의하여 이중층으로 형성되는 것이며,상기 인-도핑은 상기 그래핀의 이중층 사이에 생성되는 것이고,제조된 전계효과 트랜지스터는 공기 중에서 안정적인 것인,전계효과 트랜지스터의 제조 방법 |
9 |
9 제 8 항에 있어서, 상기 인-도핑은 트리페닐(triphenyl)기-함유 인 화합물, P4O4, H3PO4, PF3, PCl3, PBr3, PI3, PF5, PCl5, PBr5, PI5, 포스파인(phosphine, PH3), 디포스페인(diphosphane, H2PPH2), 디포스파인[diphosphine, R2PPR2, R2P(CH2)nPR2], 디포스펜(diphosphene, HP=PH), 디포스펜스(diphosphenes, R-P=P-R), 포스파인 옥사이드(phosphine oxide, R3P=O), 포스포레인(phosphorane, PR5, R3P=CR2), 포스피나이트[phosphinite, P(OR)R2], 포스포나이트[phosphonite, P(OR)2R], 포스파이트[phosphate, P(OR)3], 포스피네이트[phosphinate, R2P(RO)O], 포스포네이트[phosphonate, RP(RO)2O], 포스페이트[phosphate, P(RO)3O], 및 이들의 조합들로 이루어지는 군으로부터 선택되는 것을 전구체로서 이용하여 수행되는 것인, 전계효과 트랜지스터의 제조 방법 |
10 |
10 삭제 |
11 |
11 제 8 항에 있어서,상기 인-도핑 함량은 0 |
12 |
12 제 8 항에 있어서,상기 소스 전극 및 드레인 전극은 각각 독립적으로 Au, Al, Ag, Be, Bi, Co, Cu, Cr, Hf, In, Mn, Mo, Mg, Ni, Nb, Pb, Pd, Pt, Rh, Re, Ru, Sb, Ta, Te, Ti, V, W, Zr, Zn, 및 이들의 조합들로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터의 제조 방법 |
13 |
13 제 8 항에 있어서,상기 기재는 실리콘, 유리, 또는 석영을 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터의 제조 방법 |
14 |
14 제 8 항에 있어서,상기 기재는 플렉서블 또는 투명 플렉서블 기재를 포함하는 것인, 전계효과 트랜지스터의 제조 방법 |
15 |
15 그래핀에 기체 상태, 액체 상태, 또는 용매에 용해된 상태의 인 화합물을 포함하는 전구체를 주입하는 단계; 및상기 그래핀을 가열하여 인-도핑하는 단계를 포함하는, 인-도핑된 그래핀의 제조 방법으로서,상기 그래핀은 화학기상증착법에 의하여 이중층으로 형성되는 것이며,상기 인 화합물은 트리페닐(triphenyl)기-함유 인 화합물, P4O4, H3PO4, PF3, PCl3, PBr3, PI3, PF5, PCl5, PBr5, PI5, 포스파인(phosphine, PH3), 디포스페인(diphosphane, H2PPH2), 디포스파인[diphosphine, R2PPR2, R2P(CH2)nPR2], 디포스펜(diphosphene, HP=PH), 디포스펜스(diphosphenes, R-P=P-R), 포스파인 옥사이드(phosphine oxide, R3P=O), 포스포레인(phosphorane, PR5, R3P=CR2), 포스피나이트[phosphinite, P(OR)R2], 포스포나이트[phosphonite, P(OR)2R], 포스파이트[phosphate, P(OR)3], 포스피네이트[phosphinate, R2P(RO)O], 포스포네이트[phosphonate, RP(RO)2O], 포스페이트[phosphate, P(RO)3O], 및 이들의 조합들로 이루어지는 군으로부터 선택되는 것을 포함하는 것이고, 상기 인-도핑은 상기 그래핀의 이중층 사이에 생성되는 것인,인-도핑된 그래핀의 제조 방법 |
16 |
16 삭제 |
17 |
17 삭제 |
18 |
18 제 15 항에 따른 인-도핑된 그래핀의 제조 방법에 의하여 제조되며,상기 그래핀은 이중층으로 형성된 것이고,상기 인-도핑은 상기 그래핀의 이중층 사이에 생성되는 것인, 인-도핑된 그래핀 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US09012889 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US20140145148 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2014145148 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US9012889 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 교육과학기술부 | 성균관대학교 산학협력단 | 창의적연구지원사업 3단계1/3(7/9) | 기능성 분자메모리 연구단 |
특허 등록번호 | 10-1430140-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20121128 출원 번호 : 1020120136477 공고 연월일 : 20140813 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20140716 청구범위의 항수 : 14 유별 : H01L 29/78 발명의 명칭 : 인-도핑된 그래핀을 이용한 전계효과 트랜지스터, 그의 제조 방법, 인-도핑된 그래핀, 및 그의 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : 20190808 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 성균관대학교산학협력단 경기도 수원시 장안구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 295,500 원 | 2014년 08월 08일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 243,600 원 | 2017년 07월 03일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 174,000 원 | 2018년 08월 08일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.11.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0987868-36 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.08.20 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2013.10.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0077105-73 |
4 | 의견제출통지서 | 2013.10.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0744078-88 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.12.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-1201848-79 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.12.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-1201849-14 |
7 | 거절결정서 | 2014.05.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0327908-99 |
8 | [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 | 2014.06.12 | 수리 (Accepted) | 7-1-2014-0021805-45 |
9 | [명세서등 보정]보정서(재심사) | 2014.07.09 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2014-0643814-83 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2014.07.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0643813-37 |
11 | 등록결정서 | 2014.07.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0485484-93 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.02.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5028829-43 |
기술번호 | KST2015003708 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 성균관대학교 |
기술명 | 공기중에서도 안정한 n형 그래핀 반도체 소재 및 소자 |
기술개요 |
공기 중에서도 안정한, 인(phosphorus)-도핑된 그래핀을 포함하는 채널층을 이용한 전계효과 트랜지스터, 그의 제조 방법, 인-도핑된 그래핀, 및 그의 제조 방법에 관한 것이다. |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 상보형 회로 그래핀 소자 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345167986 |
---|---|
세부과제번호 | 2006-0050684 |
연구과제명 | 기능성 분자메모리 연구단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 성균관대학교(자연과학캠퍼스) |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 200604~201502 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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