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입자 계수를 위한 센싱 장치 및 이를 제조하는 방법

  • 기술번호 : KST2021007567
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 입자 계수를 위한 센싱 장치가 제공된다. 상기 장치는 채널을 형성하는 트랜치를 포함하는 기판, 트랜치의 측면 각각에 배치되는 한 쌍의 전극, 한쌍의 전극과 전기적으로 연결되고, 기판의 일면 상에 배치되는 배선 및 채널을 커버하도록 기판에 대향하여 배치되는 캡 층을 포함한다.
Int. CL G01N 15/10 (2006.01.01) B01L 3/00 (2006.01.01)
CPC G01N 15/1031(2013.01) B01L 3/502761(2013.01) B01L 2200/0647(2013.01) B01L 2200/10(2013.01)
출원번호/일자 1020190157594 (2019.11.29)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0067706 (2021.06.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임부택 대전광역시 서구
2 이태재 충청북도 청주시 서원구
3 노길선 대전광역시 서구
4 김경민 대전광역시 유성구
5 서창호 대전광역시 서구
6 김태현 대전광역시 유성구
7 박남수 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인인벤싱크 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층 (역삼동, 아레나빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-1238268-71
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2019.12.02 수리 (Accepted) 1-1-2019-1239986-13
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
채널을 형성하는 트랜치를 포함하는 기판;상기 트랜치의 측면 각각에 배치되는 한 쌍의 전극;상기 한 쌍의 전극과 전기적으로 연결되고, 상기 기판의 일면 상에 배치되는 배선; 및상기 채널을 커버하도록 상기 기판에 대향하여 배치되는 캡 층을 포함하는, 입자 계수를 위한 센싱 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 기판은 무기물로 이루어진, 입자 계수를 위한 센싱 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 기판은 실리콘 기판이고, 상기 기판은 절연막으로 코팅된, 입자 계수를 위한 센싱 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 한 쌍의 전극은 구리 또는 텅스텐으로 이루어진, 입자 계수를 위한 센싱 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 기판은 유체 시료를 주입하기 위한 인렛, 및 상기 유체 시료를 배출하기 위한 아웃렛을 포함하고,상기 채널은 상기 인렛 및 상기 아웃렛과 유체로 연통되는, 입자 계수를 위한 센싱 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 기판은 유체의 흐름을 제어하기 위한 흐름 제어 유체를 주입하기 위한 추가 인렛을 더 포함하는, 입자 계수를 위한 센싱 장치
7 7
유체를 유동시키기 위한 채널과 전극이 배치되는 한 쌍의 비아를 가지는 기판;상기 한 쌍의 비아에 배치되는 한 쌍의 전극;상기 한 쌍의 전극과 전기적으로 연결되고, 상기 기판의 일면 상에 배치되는 배선; 및상기 채널을 커버하도록 상기 기판의 다른 면 상에 배치되는 캡 층을 포함하는, 입자 계수를 위한 센싱 장치
8 8
기판에 트랜치를 형성하는 단계;상기 기판의 트랜치를 금속으로 채우는 단계;상기 기판의 표면에 형성된 금속을 제거하는 단계;상기 금속과 전기적으로 연결되는 배선을 형성하는 단계; 상기 트랜치 내의 금속이 한 쌍의 전극을 형성하고, 상기 한 쌍의 전극 사이가 채널을 형성하도록, 상기 금속을 에칭하는 단계; 및상기 채널을 덮도록 캡층을 상기 기판 상에 배치하는 단계를 포함하는, 입자 계수를 위한 센싱 장치의 제조 방법
9 9
기판에 두 개의 트랜치를 형성하는 단계;상기 기판의 두 개의 트랜치를 금속으로 채우는 단계;상기 기판의 일면에 형성된 금속을 제거하는 단계;상기 두 개의 트랜치가 두 개의 비아가 되도록, 상기 기판의 반대면에서 상기 채워진 금속을 노출하게 상기 기판의 반대면을 처리하는 단계;채널이 형성되도록 상기 두 개의 비아 사이의 기판 중 일부를 에칭으로 제거하는 단계;상기 채널의 반대편에 상기 금속과 전기적으로 연결되는 배선을 형성하는 단계; 상기 채널을 덮도록 캡층을 상기 기판 상에 배치하는 단계를 포함하는, 입자 계수를 위한 센싱 장치의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 나노종합기술원 나노 소재기술개발사업 나노 실리콘 기반 센서 표준공정 플랫폼 및 회로 기술개발(5/6)