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간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치

  • 기술번호 : KST2015117383
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치를 공개한다. 본 발명은 채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 신호의 오류 정정 방법에 있어서, 복수개의 신호가 수신되는 단계, 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 상기 통계적 분석에 따라 계산되는 단계, 상기 제1 신호의 값이 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 고려되는 대수 우도비를 이용하여 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별되는 단계, 및 값이 판별된 상기 제1 신호가 누적되고, 누적된 복수개의 상기 제1 신호의 값이 저밀도 패리티 검사 부호에 의해 정정되는 단계를 포함한다. 따라서, 수신된 데이터의 값을 간섭의 영향을 미리 고려하여 연판정한 후, 저밀도 패리터 검사를 수행하므로 데이터를 정확하게 복구 할 수 있다.
Int. CL G06F 11/10 (2006.01) G11C 29/42 (2006.01)
CPC G11C 29/42(2013.01) G11C 29/42(2013.01) G11C 29/42(2013.01)
출원번호/일자 1020120060605 (2012.06.05)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1428849-0000 (2014.08.04)
공개번호/일자 10-2013-0136866 (2013.12.13) 문서열기
공고번호/일자 (20140925) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.05)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 하정석 대한민국 대전광역시 유성구
2 김대성 대한민국 대전광역시 유성구
3 최진호 오스트레일리아 ** Mayals Avenue, Black

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 다해 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***, *층(삼성동,고운빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.06.05 수리 (Accepted) 1-1-2012-0450689-10
2 보정요구서
Request for Amendment		 2012.06.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0075101-49
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2012.06.19 수리 (Accepted) 1-1-2012-0486371-95
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.05.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.06.05 수리 (Accepted) 9-1-2013-0042438-52
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.07.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0498606-36
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2013-0857005-36
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0857007-27
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2014.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0059945-14
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2014.03.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0255003-26
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.03.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-0255002-81
13 등록결정서
Decision to grant		 2014.07.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0481063-92
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 신호의 오류 정정 방법에 있어서, 복수개의 신호가 수신되는 단계; 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 상기 통계적 분석에 따라 계산되는 단계; 상기 제1 신호의 값이 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별되는 단계; 및 값이 판별된 상기 제1 신호가 누적되고, 누적된 복수개의 상기 제1 신호의 값이 저밀도 패리티 검사 부호에 의해 정정되는 단계; 를 포함하며, 상기 대수 우도 비는 상기 복수개의 신호가 양자화되고, 양자화된 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 각 비트별 우도 값인 조건부 확률이 계산되고, 상기 각 비트별 조건부 확률을 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 오류 정정 방법
2 2
삭제
3 3
제1 항에 있어서, 상기 대수 우도비는수학식(여기서 t는 신호 내에서 몇 번째 비트에 대한 LLR값을 구할 것인지를 나타내는 지수이고, St,0와 St,1은 각각 t에 해당하는 비트가 0, 1인 심벌들의 집합을 의미하고, Pr 은 조건부 함수이며, xk 는 상기 제1 신호의 원본 신호이며, dk, dk+1 은 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 양자화 값이고, v는 상기 복수개의 신호가 가질수 있는 양자화 값을 나타낸다
4 4
제3 항에 있어서, 상기 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별되는 단계는 복수개의 신호 각각이 가질 수 있는 양자화 값이 4개인 경우, 상기 대수 우도 비 테이블 상의 16개의 경우의 수 조합 중 하나에 대응하여 상기 제1 신호의 값이 판별되는 것을 특징으로 하는 오류 정정 방법
5 5
채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기를 상기 통계적 분석에 따라 계산하고, 상기 제1 신호의 값을 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별하는 연판정 정보 추출부; 및 상기 연판정 정보 추출부로부터 값이 판정된 복수개의 제1 신호를 수신하고, 수신된 복수개의 제1 신호를 저밀도 패리티 검사 부호를 이용하여 정정하는 오류 정정부; 를 포함포하며, 상기 연판정 정보 추출부는 상기 복수개의 신호를 양자화하고, 양자화된 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 각 비트별 우도 값인 조건부 확률을 계산하고, 상기 각 비트별 조건부 확률을 이용하여 상기 대수 우도비를 설정하는 것을 특징으로 하는 오류 정정 회로
6 6
삭제
7 7
제5 항에 있어서, 상기 대수 우도비는수학식(여기서 t는 신호 내에서 몇 번째 비트에 대한 LLR값을 구할 것인지를 나타내는 지수이고, St,0와 St,1은 각각 t에 해당하는 비트가 0, 1인 심벌들의 집합을 의미하고, Pr 은 조건부 함수이며, xk 는 상기 제1 신호의 원본 신호이며, dk, dk+1 은 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 양자화 값이고, v는 상기 복수개의 신호가 가질수 있는 양자화 값을 나타낸다
8 8
제7 항에 있어서, 상기 연판정 정보 추출부는 복수개의 신호 각각이 가질 수 있는 양자화 값이 4개인 경우, 상기 대수 우도 비 테이블 상의 16개의 경우의 수 조합 중 하나에 대응하여 상기 제1 신호의 값을 판별하는 것을 특징으로 하는 오류 정정 회로
9 9
채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 변조되어 전송되는 변조 신호를 수신하는 수신부; 및 상기 수신부로부터 변조 신호를 수신하고 복조하여, 복수개의 신호를 생성하고, 오류 정정 회로를 포함하여 상기 복수개의 신호의 값을 판정 및 정정하는 복조부; 를 포함하고, 상기 오류 정정 회로는 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기를 상기 통계적 분석에 따라 계산하고, 상기 제1 신호의 값을 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별하는 연판정 정보 추출부; 및 상기 연판정 정보 추출부로부터 값이 판정된 복수개의 제1 신호를 수신하고, 수신된 복수개의 제1 신호를 저밀도 패리터 검사 부호를 이용하여 정정하는 오류 정정부; 를 포함하며, 상기 연판정 정보 추출부는 상기 복수개의 신호를 양자화하고, 양자화된 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 각 비트별 우도 값인 조건부 확률을 계산하고, 상기 각 비트별 조건부 확률을 이용하여 상기 대수 우도비를 설정하는 것을 특징으로 하는 수신 장치
10 10
제9 항에 있어서, 상기 대수 우도비는 수학식(여기서 t는 신호 내에서 몇 번째 비트에 대한 LLR값을 구할 것인지를 나타내는 지수이고, St,0와 St,1은 각각 t에 해당하는 비트가 0, 1인 심벌들의 집합을 의미하고, Pr 은 조건부 함수이며, xk 는 상기 제1 신호의 원본 신호이며, dk, dk+1 은 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 양자화 값이고, v는 상기 복수개의 신호가 가질수 있는 양자화 값을 나타낸다
11 11
복수개의 메모리를 저장하는 메모리 셀 어레이; 상기 메모리셀 어레이에 기록 및 독출되는 데이터를 래치하는 페이지 버퍼;상기 기록 시에 상기 데이터로부터 오류를 정정 및 검출하기 위한 오류 정정 부호를 발생시키고, 상기 독출 시에 상기 데이터와 상기 오류 정정 부호로부터 상기 데이터의 오류를 정정 및 검출하는 오류 정정 회로;상기 메모리 셀에 상기 데이터를 기록 및 독출하기 위한 제어신호를 출력하고 어드레스를 디코드하며, 상기 페이지 버퍼로부터의 데이터의 입력/출력을 제어하는 어드레스 디코딩 및 제어 회로; 및상기 어드레스 디코딩 및 제어 회로에서 제공되는 어드레스 정보에 응답하여 동작하는 Y-게이팅 회로를 포함하고,상기 오류 정정 회로는 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기를 통계적 분석에 따라 계산하고, 상기 제1 신호의 값을 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별하는 연판정 정보 추출부; 및 상기 연판정 정보 추출부로부터 값이 판정된 복수개의 제1 신호를 수신하고, 수신된 복수개의 제1 신호를 저밀도 패리터 검사 부호를 이용하여 정정하는 오류 정정부; 를 포함하며, 상기 연판정 정보 추출부는 상기 복수개의 신호를 양자화하고, 양자화된 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 각 비트별 우도 값인 조건부 확률을 계산하고, 상기 각 비트별 조건부 확률을 이용하여 상기 대수 우도비를 설정하는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치
12 12
삭제
13 13
제11 항에 있어서, 상기 대수 우도비는수학식(여기서 t는 신호 내에서 몇 번째 비트에 대한 LLR값을 구할 것인지를 나타내는 지수이고, St,0와 St,1은 각각 t에 해당하는 비트가 0, 1인 심벌들의 집합을 의미하고, Pr 은 조건부 함수이며, xk 는 상기 제1 신호의 원본 신호이며, dk, dk+1 은 상기 제1 신호 및 상기 제2 신호의 양자화 값이고, v는 상기 복수개의 신호가 가질수 있는 양자화 값을 나타낸다
14 14
제11 항에 있어서, 상기 연판정 정보 추출부는 상기 플래시 메모리 장치가 MLC(Multi-Level Cell) 플래시 메모리 장치이면, 상기 대수 우도 비 테이블 상의 16개의 경우의 수 조합 중 하나에 대응하여 상기 제1 신호의 값을 판별하는 것을 특징으로 하는 플래시 메모리 장치
15 15
청구항 제11항, 제13항, 제14항 중 어느 한 항에 따른 적어도 하나의 플래시 메모리 장치; 상기 적어도 하나의 메모리 장치 각각에 대응하여 구비되어 상기 플래시 메모리 장치로 입출력되는 데이터를 버퍼링하는 적어도 하나의 버퍼; 및 상기 적어도 하나의 버퍼로 입출력되는 데이터를 기설정된 인터페이스에 대응하여 변환하는 입출력 제어부를 포함하는 솔리드스테이트 드라이브
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 지식경제기술혁신사업 대용량 MLC SSD 핵심 기술 개발