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비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015080341
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치 및 방법에 관한 것으로, 상세하게는 부호화 처리 지연 시간을 줄이기 위해 각 행렬의 원소가 순환 행렬로 정의되는 비이진 값을 가지며, 하위 삼각형 행렬을 포함하는 6개의 부분 행렬로 구성되는 패리티 검사 행렬을 사용하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법에 따르면, 패리티 검사 행렬을 각 행렬의 원소가 순환 행렬로 정의되는 비이진 값을 가지는 복수의 부분 행렬로 구성하고 정보 비트들을 벡터 단위로 병렬화하여 입력 벡터를 생성한다. 그런 다음에 상기 복수의 부분 행렬에 기초하여 생성된 복수의 중간 벡터로부터 첫 번째 패리티 벡터를 생성하고 생성된 첫 번째 패리티 벡터와 상기 생성된 복수의 중간 벡터에 기초하여 두 번째 패리티 벡터를 생성하여 부호화한다. 이 때, 시분할 공유 구조에 의해 입력 값에 따라 상기 첫 번째 패리티 벡터를 얻기 위한 중간 벡터 중 어느 하나가 생성되거나 두 번째 패리티 벡터가 생성된다. 오류정정부호, LDPC, 비균일, 비이진, 벡터, 순환행렬, 패리티검사행렬
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC H03M 13/1134(2013.01) H03M 13/1134(2013.01) H03M 13/1134(2013.01) H03M 13/1134(2013.01)
출원번호/일자 1020040109020 (2004.12.20)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0678521-0000 (2007.01.29)
공개번호/일자 10-2006-0070323 (2006.06.23) 문서열기
공고번호/일자 (20070202) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.12.20)
심사청구항수 22

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박형준 대한민국 대전광역시 유성구
2 송봉섭 대한민국 대전광역시 동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2004.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2004-0601072-93
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.04.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2006.05.16 수리 (Accepted) 9-1-2006-0032313-33
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0362384-53
5 의견서
Written Opinion		 2006.08.25 수리 (Accepted) 1-1-2006-0608959-52
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2006.08.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0608961-44
7 등록결정서
Decision to grant		 2007.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0050079-93
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
패리티 검사 행렬―여기서, 패리티 검사 행렬은 원소 중에 1의 개수가 적고 행과 열에 들어가는 일의 개수가 일정하지 않은 행렬로 복수의 부분 행렬로 구성됨―을 이용하여 정보 비트를 부호화하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치에 있어서, 입력되는 정보 비트를 병렬화하여 입력 벡터를 생성하는 입력비트 병렬화기; 상기 복수의 부분 행렬에 기초하여 생성된 복수의 중간 벡터로부터 첫 번째 패리티 벡터를 생성하는 p1 벡터 연산기; 상기 생성된 첫 번째 패리티 벡터와 복수의 중간 벡터에 기초하여 두 번째 패리티 벡터를 생성하되, 시분할 공유 구조에 의해 상기 복수의 중간 벡터 중 제1 중간 벡터 또는 상기 두 번째 패리티 벡터를 생성하는 t 벡터 연산기; 및 상기 생성된 첫 번째 및 두 번째 패리티 벡터에 기초하여 상기 입력 벡터들을 부호화하는 제1 선택기 를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 복수의 부분행렬은, 행 또는 열의 크기가 1이 아닌 A 및 T 행렬―여기서, T 행렬은 하위 삼각형 행렬임―, 행 또는 열의 크기가 1인 B, C, D 및 E 행렬을 포함하며, 순환 행렬로 정의되는 비이진 값으로부터 각 행렬의 원소가 이루어지는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 복수의 중간 벡터는 상기 A, T, B, C, D 및 E 행렬에 기초하여 각각 생성된 a, t, b, c, d 및 e 벡터를 포함하며, 상기 제1 중간 벡터는 t 벡터인 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
4 4
제3항에 있어서, 상기 t 벡터 연산기는, 상기 a 벡터가 입력되면 상기 t 벡터를 생성하고, 상기 a 벡터와 b 벡터의 합이 입력되면 상기 두 번째 패리티 벡터를 생성하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 A 행렬의 행 단위로 각 행의 0이 아닌 원소의 위치에 해당하는 상기 입력 벡터들을 원소 값만큼 순환 누적시켜 a 벡터를 생성하는 a 벡터 연산기; 상기 T 행렬의 대각 원소 값만큼 상기 a 벡터를 역순환시킨 값과 이전 t 벡터를 대각 원소 아래에 있는 T 행렬의 원소 값만큼 순환 이동시킨 값을 누적하여 t 벡터를 생성하고, 상기 생성된 a 벡터와 상기 b 벡터에 기초하여 두 번째 패리티 벡터를 생성하는 t 벡터 연산기; 상기 t 벡터를 상기 E 행렬의 원소 값만큼 순환 누적하여 e 벡터를 생성하는 e 벡터 연산기; 상기 입력 벡터들을 상기 C 행렬의 원소 값만큼 순환 누적하여 c 벡터를 생성하는 c 벡터 연산기; 및 상기 B 행렬의 0이 아닌 원소의 위치에서 첫 번째 패리티 벡터를 원소 값만큼 순환 이동시켜 b 벡터를 생성하는 b 벡터 연산기 를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 a 벡터 연산기의 동작 시점으로부터 소정 지연 시간 후에 상기 t 벡터 연산기가 동작하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
7 7
제5항에 있어서, 상기 A 행렬을 저장하고 있는 A 행렬 메모리; 및 상기 하위 삼각형 행렬인 상기 T 행렬을 저장하고 있는 T 행렬 메모리 를 더 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 A 행렬 메모리 및 T 행렬 메모리 각각은, 상기 A 행렬 및 T 행렬 각각으로부터 행의 무게값―여기서, 행의 무게값은 행 단위의 0이 아닌 원소의 수임―을 저장하고 있는 제1 메모리; 및 상기 A 행렬 및 T 행렬 각각으로부터 행 단위의 0이 아닌 원소의 열의 위치와 순환 값을 저장하고 있는 제2 메모리 를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
9 9
제7항에 있어서, 상기 입력 벡터를 32비트 부분 벡터 단위로 저장하는 입력 벡터 버퍼부; 상기 a 벡터를 저장하는 a 벡터 버퍼부; 및 상기 t 벡터와 두 번째 패리티 벡터를 저장하는 t/p2 벡터 버퍼부 를 더 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 a 벡터 또는 상기 a 벡터와 b 벡터의 합을 상기 t 벡터의 입력으로 선택하는 제2 선택기 를 더 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
11 11
제2항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,상기 순환 행렬은 32×32 크기의 행렬인 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 장치
12 12
패리티 검사 행렬―여기서, 패리티 검사 행렬은 원소 중에 1의 개수가 적고 행과 열에 들어가는 일의 개수가 일정하지 않은 행렬임―을 이용하여 정보 비트를 부호화하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법에 있어서, a) 상기 패리티 검사 행렬을 각 행렬의 원소가 순환 행렬로 정의되는 비이진 값을 가지는 복수의 부분 행렬로 구성하는 단계; b) 상기 정보 비트들을 벡터 단위로 병렬화하여 입력 벡터를 생성하는 단계; c) 상기 복수의 부분 행렬에 기초하여 생성된 복수의 중간 벡터로부터 첫 번째 패리티 벡터를 생성하는 단계; d) 상기 생성된 첫 번째 패리티 벡터와 상기 생성된 복수의 중간 벡터에 기초하여 두 번째 패리티 벡터를 생성하는 단계; 및 e) 생성된 첫 번째 및 두 번째 패리티 벡터에 기초하여 상기 입력 비트들을 부호화하는 단계 를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
13 13
제12항에 있어서, 상기 복수의 부분 행렬은 행 또는 열의 크기가 1이 아닌 A 및 T 행렬―여기서, T 행렬은 하위 삼각형 행렬임―, 행 또는 열의 크기가 1인 B, C, D 및 E 행렬을 포함하며, 상기 복수의 중간 벡터는 A, T, B, C, D 및 E 행렬에 기초하여 각각 생성된 a, t, b, c, d 및 e 벡터를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
14 14
제13항에 있어서, 상기 c)단계는, 상기 A 행렬과 상기 입력 벡터로부터 a 벡터를 생성하는 단계; 상기 생성된 a 벡터와 상기 T 행렬로부터 t 벡터를 생성하는 단계; 상기 생성된 t 벡터와 상기 E 행렬로부터 e 벡터를 생성하는 단계; 상기 입력 벡터와 상기 C 행렬로부터 c 벡터를 생성하는 단계; 및 상기 e 벡터와 c 벡터의 합과 상기 순환 행렬의 역행렬과의 곱으로부터 첫 번째 패리티 벡터를 생성하는 단계 를 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
15 15
제14항에 있어서, 상기 d)단계는, 상기 생성된 첫 번째 패리티 벡터와 상기 B 행렬로부터 생성된 b 벡터와 상기 a 벡터의 합으로부터 두 번째 패리티 벡터를 생성하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
16 16
제15항에 있어서, 시분할 공유 구조에 의해 입력되는 벡터 값에 따라 상기 t 벡터 또는 두 번째 패리티 벡터가 생성되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
17 17
제14항에 있어서, 상기 a 벡터와 t 벡터는 소정의 시작 지연을 갖고 동시에 처리되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
18 18
제14항에 있어서, 상기 병렬화된 입력 벡터를 32비트 벡터 단위로 저장하는 단계; 및 상기 생성된 a 벡터 및 t 벡터를 저장하는 단계 를 더 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
19 19
제14항에 있어서, 상기 A 벡터 및 상기 T 벡터에 기초하여 행의 무게 값―여기서, 행의 무게값은 행 단위의 0이 아닌 원수의 수임―을 저장하는 단계; 및 상기 행 단위의 0이 아닌 원소의 열의 위치와 순환 값을 저장하는 단계 를 더 포함하는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
20 20
제19항에 있어서, 상기 저장된 행의 무게 값을 읽고 상기 무게 값만큼의 회수만큼 열의 위치와 순환 값을 읽어 상기 a 벡터, t 벡터 및 두 번째 패리티 벡터가 생성되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
21 21
제14항에 있어서, 상기 a 벡터는 상기 A 행렬의 행 단위로 각 행의 0이 아닌 원소의 위치에 해당하는 상기 입력 벡터들을 원소 값만큼 순환 누적시켜 생성되고, 상기 t 벡터는 상기 T 행렬의 대각 원소 값만큼 상기 a 벡터를 역순환시킨 값과 이전 t 벡터를 대각 원소 아래에 있는 T 행렬의 원소 값만큼 순환 이동시킨 값을 누적하여 생성되며, 상기 e 벡터는 상기 t 벡터를 상기 E 행렬의 원소 값만큼 순환 누적하여 생성되고, 상기 c 벡터는 상기 입력 벡터들을 상기 C 행렬의 원소 값만큼 순환 누적하여 생성되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
22 22
제15항에 있어서, 상기 b 벡터는 상기 B 행렬의 0이 아닌 원소의 위치에서 첫 번째 패리티 벡터를 원소 값만큼 순환 이동시켜 생성되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
23 22
제15항에 있어서, 상기 b 벡터는 상기 B 행렬의 0이 아닌 원소의 위치에서 첫 번째 패리티 벡터를 원소 값만큼 순환 이동시켜 생성되는 비균일 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법
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