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개별 나노입자 특성 검출 장치 및 개별 나노입자 특성 검출 방법

  • 기술번호 : KST2022004074
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개별 나노입자 특성 검출 장치가 개시된다. 상기 장치는, 내부에 유체가 공급되기 위한 공간이 형성되는 베이스부; 상기 베이스부의 양 끝단에 설치되는 복수 개의 전극; 상기 복수 개의 전극에 전기 신호를 인가하는 전원인가부; 상기 유체를 촬영하여 상기 유체 내 나노입자에 대한 영상을 생성하는 촬상부; 및 상기 영상에서 측정된 개별 나노입자의 운동량을 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 적어도 하나를 검출하는 물리량 검출부;를 포함할 수 있다.
Int. CL G01N 15/10 (2006.01.01) G01N 15/00 (2017.01.01)
CPC G01N 15/1031(2013.01) B01L 3/50273(2013.01) G01N 2015/0038(2013.01) B01L 2400/043(2013.01)
출원번호/일자 1020200129939 (2020.10.08)
출원인 경북대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0047420 (2022.04.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.10.08)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경북대학교 산학협력단 대한민국 대구광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박홍식 대구시 수성구
2 노효웅 대구광역시 북구
3 이준영 대구광역시 서구
4 백문창 대구광역시 수성구
5 이창주 대구광역시 달서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***(역삼동), *층(케이에스고려국제특허법률사무소)
2 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.10.08 수리 (Accepted) 1-1-2020-1064182-86
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.07.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2021.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0032734-55
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.02.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0138867-03
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.04.01 1-1-2022-0353021-91
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.04.01 수리 (Accepted) 1-1-2022-0353020-45
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
내부에 유체가 공급되기 위한 공간이 형성되는 베이스부;상기 베이스부의 양 끝단에 설치되는 복수 개의 전극;상기 복수 개의 전극에 전기 신호를 인가하는 전원인가부;상기 유체를 촬영하여 상기 유체 내 나노입자에 대한 영상을 생성하는 촬상부; 및상기 영상에서 측정된 개별 나노입자의 운동량을 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 적어도 하나를 검출하는 물리량 검출부;를 포함하는 개별 나노입자 특성 검출 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 물리량 검출부는, 상기 전극에 인가되는 전기장과 상기 운동량을 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 하나 이상을 검출할 수 있는 개별 나노입자 특성 검출 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 물리량 검출부는, 상기 나노입자의 변위를 측정하여 상기 나노입자의 크기를 검출하거나,상기 측정된 나노입자의 변위 및 상기 나노입자의 속도와 상기 전극에 인가되는 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 제타전위를 검출하거나,상기 측정된 나노입자의 변위 및 상기 나노입자의 가속도와 상기 전극에 인가되는 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 질량 또는 밀도를 검출하는 개별 나노입자 특성 검출 장치
4 4
제3항에 있어서, 상기 전원인가부는 상기 전극에 다양한 파형을 가지는 전기 신호 중 어느 하나를 인가하여 상기 나노입자가 기설정된 범위 내에서 반복하여 이동하도록 제어하고,상기 촬상부는, 기설정된 시간 이상의 상기 나노입자에 대한 영상을 생성하는 개별 나노입자 특성 검출 장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 다양한 파형을 가지는 전기 신호는 상기 개별 나노입자의 이동 범위를 제한할 수 있는 전기 신호인 개별 나노입자 특성 검출 장치
6 6
제4항에 있어서, 상기 다양한 파형을 가지는 전기 신호는 삼각파, 펄스파, 톱니파 중 어느 하나인 개별 나노입자 특성 검출 장치
7 7
제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 베이스부는, 일면에 멀티 채널 마이크로플루이드 칩(multi-channel microfluidic chip)이 설치되고,상기 물리량 검출부는, 상기 전극에 인가되는 전류 및 상기 멀티 채널 마이크로플루이드 칩의 길이 변화에 따른 유체 저항값 변화율을 이용하여 상기 전기장의 크기를 측정하는 개별 나노입자 특성 검출 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 멀티 채널 마이크로플루이드 칩은, 적어도 2개의 길이가 상이한 채널을 포함하는 개별 나노입자 특성 검출 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 적어도 2개의 길이가 상이한 채널들은, 동일한 단면적을 가지도록 제공되는 개별 나노입자 특성 검출 장치
10 10
제1항에 따른 개별 나노입자 특성 검출 장치를 이용하여 개별 나노입자의 특성을 검출하는 방법에 있어서,상기 복수 개의 전극에 전기 신호를 인가하는 단계;상기 유체를 촬영하여 기설정된 시간 이상의 상기 유체 내 나노입자에 대한 영상을 생성하는 단계;상기 영상에서 상기 나노입자의 변위를 측정하는 단계; 상기 측정된 변위와 상기 전극에 인가되는 전압을 이용하여 상기 나노입자에 가해지는 전기장의 크기를 산출하는 단계; 및상기 나노입자의 변위 및 상기 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 적어도 하나를 검출하는 단계;를 포함하는 개별 나노입자 특성 검출 방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 나노입자의 변위 및 상기 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 적어도 하나를 검출하는 단계;는, 상기 나노입자의 변위를 이용하여 상기 나노입자의 크기를 검출하고, 상기 나노입자의 변위 및 상기 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 제타전위를 검출하는 단계;를 포함하는 개별 나노입자 특성 검출 방법
12 12
제10항 또는 제11항에 있어서,상기 전기 신호를 인가하는 단계는,상기 복수 개의 전극에 상기 개별 나노입자의 이동 범위를 제한할 수 있는 다양한 파형을 가지는 전기 신호 중 어느 하나를 인가하는 개별 나노입자 특성 검출 방법
13 13
제12항에 있어서, 상기 다양한 파형을 가지는 전기 신호는 삼각파, 펄스파, 톱니파 중 어느 하나인 개별 나노입자 특성 검출 방법
14 14
제12항에 있어서, 상기 나노입자의 변위 및 상기 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 물리량 중 적어도 하나를 검출하는 단계;는, 상기 나노입자의 변위 및 상기 나노입자의 가속도와 상기 전극에 인가되는 전기장의 크기를 이용하여 상기 나노입자의 질량 또는 밀도를 검출하는 단계;를 포함하는 개별 나노입자 특성 검출 방법
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