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소실점 검출 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015136769
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 소실점 검출 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 소실점 검출 방법은 복수의 픽셀을 갖는 이미지로부터 엣지 (edge) 픽셀 및 비-엣지 픽셀을 검출하는 단계, 엣지 픽셀에 대한 허프 변환 (Hough transform) 을 수행하여 복수의 직선을 검출하는 단계, 엣지 픽셀에 대해 직선의 기울기에 기초한 패턴과 패턴 매칭을 수행하는 단계, 패턴 매칭 결과에 기초하여 직선의 강도를 계산하는 단계 및 직선의 강도에 기초하여 이미지에서의 소실점을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하여, 직선에 기여하는 엣지 픽셀을 보다 명확히 선별하고, 직선 상에 존재하는 엣지 픽셀뿐만 아니라 비-엣지 픽셀에도 점수를 부여하는 방식으로 새로운 정의의 직선의 강도를 제공하여, 보다 정확하게 소실점을 검출할 수 있다.
Int. CL G06T 7/00 (2006.01)
CPC G06T 7/00(2013.01)
출원번호/일자 1020140025230 (2014.03.03)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1569165-0000 (2015.11.09)
공개번호/일자 10-2015-0103605 (2015.09.11) 문서열기
공고번호/일자 (20151113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.03)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김항태 대한민국 서울특별시 양천구
2 김태정 대한민국 서울특별시 송파구
3 송원석 대한민국 서울특별시 관악구
4 최두섭 대한민국 서울특별시 관악구
5 김보은 대한민국 서울특별시 광진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세일 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교 산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2014-0209936-86
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.03.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.05.04 수리 (Accepted) 9-1-2015-0029289-64
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.05.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0318050-54
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.07.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0679268-75
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-0679248-62
9 등록결정서
Decision to grant
2015.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0745661-34
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 픽셀을 갖는 이미지로부터 엣지 (edge) 픽셀 및 비-엣지 픽셀을 검출하는 단계;상기 엣지 픽셀에 대한 허프 변환 (Hough transform) 을 수행하여 복수의 직선을 검출하는 단계;상기 엣지 픽셀에 대해 상기 직선의 기울기에 기초한 패턴과 패턴 매칭을 수행하는 단계; 상기 패턴 매칭 결과에 기초하여 상기 직선의 강도를 계산하는 단계; 및상기 직선의 강도에 기초하여 상기 이미지에서의 소실점을 검출하는 단계를 포함하고,상기 패턴 매칭을 수행하는 단계는 상기 패턴 매칭의 대상인 상기 엣지 픽셀을 중점으로 하고, 상기 패턴의 크기와 동일한 크기의 패치를 상기 패턴과 픽셀 단위로 매칭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 엣지 픽셀은 1의 값을 갖고,상기 비-엣지 픽셀은 0의 값을 갖고,상기 패턴 중 상기 직선에 해당하는 부분은 1의 값을 갖고, 상기 패턴 중 상기 직선에 해당하지 않는 부분은 상기 직선으로부터 상기 직선의 기울기에 수직하는 방향으로 멀어질 수록 감소하는 값을 갖는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 패턴 매칭을 수행하는 단계는 다음의 수학식을 사용하여 패턴 매칭 값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 패턴 매칭을 수행하는 단계는 상기 패턴 매칭 값이 패턴 매칭 임계값 이상인 경우 상기 패턴 매칭의 대상인 상기 엣지 픽셀을 유지하고, 상기 패턴 매칭 값이 상기 패턴 매칭 임계값 미만인 경우 상기 패턴 매칭의 대상인 상기 엣지 픽셀을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
6 6
제1항에 있어서,상기 패턴 매칭을 수행하는 단계는 다중 크기 패턴 매칭을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 다중 크기 패턴 매칭을 수행하는 단계는 상대적으로 큰 패턴에 대한 패턴 매칭을 수행한 후, 상대적으로 작은 패턴에 대한 패턴 매칭을 수행하는 단계인 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 패턴 매칭의 결과에 기초하여 상기 직선 상에 존재하는 상기 비-엣지 픽셀에 점수를 부여하는 단계를 더 포함하고,상기 직선의 강도를 계산하는 단계는 상기 직선 상에 존재하는 상기 엣지 픽셀의 값 및 상기 비-엣지 픽셀의 값에 기초하여 상기 직선의 강도를 계산하는 단계인 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 비-엣지 픽셀에 점수를 부여하는 단계는,상기 직선 상에 존재하는 연속하는 상기 엣지 픽셀에 의해 정의되는 직선 세그먼트를 검출하는 단계; 및서로 이웃하는 상기 직선 세그먼트 사이에 존재하는 상기 비-엣지 픽셀에 의해 정의되는 갭 (gap) 을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 비-엣지 픽셀에 점수를 부여하는 단계는,다음의 수학식을 사용하여 상기 서로 이웃하는 상기 직선 세그먼트 사이에 존재하는 상기 비-엣지 픽셀에 점수를 부여하는 단계; 및상기 비-엣지 픽셀의 점수를 상기 비-엣지 픽셀의 값으로 대체하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 직선의 강도는 상기 직선 상에 존재하는 상기 엣지 픽셀의 값과 상기 비-엣지 픽셀의 값의 합인 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
12 12
제8항에 있어서,상기 소실점을 검출하는 단계는,상기 직선의 교점을 검출하는 단계; 상기 교점을 지나는 상기 직선의 강도의 합을 상기 교점의 점수로 계산하는 단계; 및상기 교점의 점수에 기초하여 소실점을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 방법
13 13
복수의 픽셀을 갖는 이미지로부터 엣지 픽셀 및 비-엣지 픽셀을 검출하는 픽셀 검출부;상기 엣지 픽셀에 대한 허프 변환을 수행하여 복수의 직선을 검출하는 직선 검출부;상기 엣지 픽셀에 대해 상기 직선의 기울기에 기초한 패턴과 패턴 매칭을 수행하는 패턴 매칭부; 상기 패턴 매칭의 결과에 기초하여 상기 직선의 강도를 계산하는 직선 강도 계산부; 및상기 직선의 강도에 기초하여 상기 이미지에서의 소실점을 검출하는 소실점 검출부를 포함하고,상기 패턴 매칭부는 상기 패턴 매칭의 대상인 상기 엣지 픽셀을 중점으로 하고, 상기 패턴의 크기와 동일한 크기의 패치를 상기 패턴과 픽셀 단위로 매칭하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 장치
14 14
삭제
15 15
제13항에 있어서,상기 패턴 매칭부는 다중 크기 패턴 매칭을 수행하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 장치
16 16
제13항에 있어서,상기 패턴 매칭의 결과에 기초하여 상기 직선 상에 존재하는 상기 비-엣지 픽셀에 점수를 부여하는 픽셀 점수 계산부를 더 포함하고,상기 직선 강도 계산부는 상기 직선 상에 존재하는 상기 엣지 픽셀의 값 및 상기 비-엣지 픽셀의 값에 기초하여 상기 직선의 강도를 계산하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 장치
17 17
제16항에 있어서,상기 픽셀 점수 계산부는 상기 직선 상에 존재하는 연속하는 상기 엣지 픽셀에 의해 정의되는 직선 세그먼트를 검출하고, 서로 이웃하는 상기 직선 세그먼트 사이에 존재하는 상기 비-엣지 픽셀에 의해 정의되는 갭을 검출하고,상기 비-엣지 픽셀에 대한 점수는 상기 직선 세그먼트의 길이 및 상기 갭의 길이에 기초하여 부여되는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 장치
18 18
제16항에 있어서,상기 소실점 검출부는 상기 직선의 교점을 검출하고, 상기 교점을 지나는 상기 직선의 강도의 합을 상기 교점의 점수로 계산하고, 상기 교점의 점수에 기초하여 소실점을 검출하는 것을 특징으로 하는, 소실점 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교 일반 연구자 지원사업 2D 3D 영상변화 위한 영상의 기하학적 구조 분류