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반도체 장치

  • 기술번호 : KST2020003995
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 장치가 제공된다. 상기 반도체 장치는 제1 영역에, 제1 방향으로 연장되는 제1 게이트 구조체, 제1 게이트 구조체를 관통하고, 제1 방향으로의 제1 폭과 제2 방향으로의 제1 높이를 갖는 제1 활성 패턴으로, 제1 폭은 제1 높이보다 작은 제1 활성 패턴, 제1 활성 패턴과 연결되는 제1 소스/드레인 영역, 제2 영역에, 제3 방향으로 연장되는 제2 게이트 구조체, 제2 게이트 구조체를 관통하고, 제3 방향으로의 제2 폭과 제4 방향으로의 제2 높이를 갖는 제2 활성 패턴으로, 제2 높이는 제1 높이와 다른 제2 활성 패턴, 및 제2 활성 패턴과 연결되는 제2 소스/드레인 영역을 포함한다.
Int. CL H01L 21/8238 (2006.01.01) H01L 29/423 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190002767 (2019.01.09)
출원인 삼성전자주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0040164 (2020.04.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020180120068   |   2018.10.08
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김문현 경기도 화성시 노작로
2 박병국 서울시 관악구
3 조근휘 서울특별시 송파구
4 김시현 서울시 관악구
5 이기태 서울시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.01.09 수리 (Accepted) 1-1-2019-0027687-71
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 영역에, 제1 방향으로 연장되는 제1 게이트 구조체;상기 제1 게이트 구조체를 관통하고, 상기 제1 방향으로의 제1 폭과 제2 방향으로의 제1 높이를 갖는 제1 활성 패턴으로, 상기 제1 폭은 상기 제1 높이보다 작은 제1 활성 패턴;상기 제1 활성 패턴과 연결되는 제1 소스/드레인 영역;제2 영역에, 제3 방향으로 연장되는 제2 게이트 구조체;상기 제2 게이트 구조체를 관통하고, 상기 제3 방향으로의 제2 폭과 제4 방향으로의 제2 높이를 갖는 제2 활성 패턴으로, 상기 제2 높이는 상기 제1 높이와 다른 제2 활성 패턴; 및상기 제2 활성 패턴과 연결되는 제2 소스/드레인 영역을 포함하는 반도체 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제2 게이트 구조체와 상기 제2 소스/드레인 영역 사이에 배치되고, 상기 제2 소스/드레인 영역과 동일한 물질을 포함하는 제1 스페이서를 더 포함하는 반도체 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제1 게이트 구조체는 상기 제1 활성 패턴의 둘레를 감싸는 제1 게이트 절연막과 상기 제1 게이트 절연막 상의 제1 게이트 전극을 포함하고,상기 제2 게이트 구조체는 상기 제2 활성 패턴의 둘레를 감싸는 제2 게이트 절연막과 상기 제2 게이트 절연막 상의 제2 게이트 전극을 포함하는 반도체 장치
4 4
제 1항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제2 방향으로 이격되고, 상기 제1 게이트 구조체를 관통하는 제3 활성 패턴; 및상기 제2 활성 패턴과 상기 제4 방향으로 이격되고, 상기 제2 게이트 구조체를 관통하는 제4 활성 패턴을 더 포함하는 반도체 장치
5 5
제 1항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제1 방향으로 이격되고, 상기 제1 게이트 구조체를 관통하는 제5 활성 패턴을 더 포함하는 반도체 장치
6 6
제 1항에 있어서, 상기 제1 소스/드레인 영역과 이격되고, 상기 제1 활성 패턴과 연결되는 제3 소스/드레인 영역을 더 포함하고,상기 제1 소스/드레인 영역의 상기 제2 방향으로의 제1 두께는 상기 제3 소스/드레인 영역의 상기 제2 방향으로의 제2 두께와 다른 반도체 장치
7 7
제 6항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제2 방향으로 이격되고, 상기 제1 게이트 구조체를 관통하는 제3 활성 패턴을 더 포함하고,상기 제1 소스/드레인 영역은 상기 제1 활성 패턴 및 상기 제3 활성 패턴과 접촉하고, 상기 제3 소스/드레인 영역은 상기 제1 활성 패턴과 접촉하고 상기 제3 활성 패턴과 비접촉하는 반도체 장치
8 8
제 1항에 있어서, 상기 제2 폭은 상기 제2 높이보다 큰 반도체 장치
9 9
제 8항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴 상에서, 상기 제1 게이트 구조체를 관통하는 제3 활성 패턴;상기 제2 활성 패턴 상에서, 상기 제2 게이트 구조체를 관통하는 제4 활성 패턴; 및상기 제4 활성 패턴 상에서, 상기 제2 게이트 구조체를 관통하는 제7 활성 패턴을 더 포함하는 반도체 장치
10 10
제 9항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴의 하면과 상기 제7 활성 패턴의 상면 사이의 제3 거리는 상기 제2 활성 패턴의 하면과 상기 제4 활성 패턴의 상면 사이의 제4 거리와 동일한 반도체 장치
11 11
제 1항에 있어서, 상기 제2 폭은 상기 제2 높이보다 작고, 상기 제2 높이는 상기 제1 높이보다 작은 반도체 장치
12 12
제1 및 제2 영역을 포함하는 기판;상기 제1 영역에, 제1 방향으로 연장되는 제1 게이트 구조체;상기 제1 게이트 구조체와 교차되고, 상기 제1 방향으로의 제1 폭과 제2 방향으로의 제1 높이를 갖는 제1 활성 패턴으로, 상기 제1 폭은 상기 제1 높이보다 작은 제1 활성 패턴;상기 제1 활성 패턴과 연결되는 제1 소스/드레인 영역;상기 제2 영역에, 제3 방향으로 연장되는 제2 게이트 구조체;상기 제2 게이트 구조체를 관통하고, 상기 제3 방향으로의 제2 폭과 제4 방향으로의 제2 높이를 갖는 제2 활성 패턴으로, 상기 제2 폭은 상기 제2 높이보다 작고, 상기 제2 높이는 상기 제1 높이보다 작은 제2 활성 패턴; 및상기 제2 활성 패턴과 연결되는 제2 소스/드레인 영역을 포함하는 반도체 장치
13 13
제 12항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴은 상기 기판으로부터 상기 제2 방향으로 돌출된 반도체 장치
14 14
제 13항에 있어서, 상기 제1 게이트 구조체는 상기 제1 활성 패턴의 측벽을 따라 형성되는 제1 게이트 절연막과, 상기 제1 게이트 절연막 상의 제1 게이트 전극을 포함하고,상기 제2 게이트 구조체는 상기 제2 활성 패턴의 둘레를 감싸는 제2 게이트 절연막과 상기 제2 게이트 절연막 상의 제2 게이트 전극을 포함하는 반도체 장치
15 15
제 13항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴은 교대로 적층된 제1 및 제2 반도체 패턴을 포함하는 반도체 장치
16 16
제 15항에 있어서, 상기 제2 반도체 패턴은 상기 제1 소스/드레인 영역과 동일한 물질을 포함하는 반도체 장치
17 17
제 15항에 있어서, 상기 제1 반도체 패턴의 상기 제2 방향으로의 제3 높이는 상기 제2 활성 패턴의 상기 제2 높이와 동일한 반도체 장치
18 18
제 15항에 있어서, 상기 제2 활성 패턴과 상기 제4 방향으로 이격되고, 상기 제2 게이트 구조체를 관통하는 제3 활성 패턴을 더 포함하고,상기 제2 반도체 패턴의 상기 제2 방향으로의 제4 높이는 상기 제2 활성 패턴과 상기 제3 활성 패턴의 상기 제4 방향으로의 제2 거리와 동일한 반도체 장치
19 19
제 12항에 있어서, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제1 방향으로 이격되고, 상기 제1 게이트 구조체와 교차되는 제4 활성 패턴을 더 포함하는 반도체 장치
20 20
기판 상에 제1 방향으로 연장되고, 제2 방향으로의 제1 폭과 제3 방향으로의 제1 높이를 갖는 제1 및 제2 활성 패턴으로서, 상기 제1 및 제2 활성 패턴은 상기 제3 방향으로 제1 거리만큼 이격되는 제1 및 제2 활성 패턴;상기 제2 방향으로 연장되고, 상기 제1 및 제2 활성 패턴과 교차하는 제1 게이트 구조체로서, 상기 제1 게이트 구조체는 상기 기판과 상기 제1 활성 패턴 사이에, 상기 제1 활성 패턴과 상기 제2 활성 패턴 사이에, 상기 제2 활성 패턴 상에 형성되는 제1 게이트 구조체;상기 제1 및 제2 활성 패턴과 연결되는 제1 소스/드레인 영역; 및상기 제1 소스/드레인 영역과 연결되고, 상기 제3 방향으로 연장되는 제1 소스/드레인 컨택을 포함하고, 상기 제1 폭은 상기 제1 높이보다 작은 반도체 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20200111781 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN111312801 CN 중국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 총괄주관 : 한국반도체연구조합 / 세부주관 : 성균관대학교 산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업 5 nm 급 이하 차세대 Logic 소자 원천요소기술개발