요약 | 본 발명은 간섭계의 비선형 오차가 최소화되도록 파장판을 재정렬함으로써 비선형 오차를 보상하기 위한 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법에 관한 것이다. 이를 달성하기 위한 수단으로, 제 1 편광광선분할기를 포함하며 더블패스방식의 간섭부를 통해 입사된 빛을 간섭시켜 주고, 간섭된 빛을 제 2, 3 편광광선분할기 및 반파장판과 사분파장판이 조합된 신호검출부를 통해 간섭신호를 얻는 간섭계의 비선형 오차 보상방법에 있어서, 제 1, 2, 3 편광광선분할기의 광학적 특성을 측정하여 행렬형태로 얻는 제1단계; 반파장판 및 사분파장판의 회전행렬을 구하는 제 2 단계; 제 1, 2, 3 편광광선분할기의 행렬과, 반파장판 및 사분파장판의 회전행렬을 이용하여 비선형오차를 구하는 제 3 단계; 반파장판 및 사분파장판의 각 회전각에 대한 비선형오차로부터 반파장판 및 사분파장판의 최소 각도정렬값을 계산하는 제 4 단계; 및 최소 각도정렬값만큼 반파장판 및 사분파장판을 최소 각도정렬값으로 보상하여 회전시켜 주는 제 5 단계;를 포함하여 이루어진 것이 특징이다. 본 발명에 의하면 비선형 오차 보상을 통해 높은 분해능 및 정확도를 갖는 간섭계 구성이 가능하다. 호모다인 간섭계, 광학간섭계, 비선형 오차보상, 파장판 정렬 |
---|---|
Int. CL | G02B 27/10 (2006.01) G02B 27/52 (2006.01) |
CPC | G02B 27/283(2013.01) G02B 27/283(2013.01) G02B 27/283(2013.01) G02B 27/283(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020080027914 (2008.03.26) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-0898327-0000 (2009.05.12) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20090520) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2008.03.26) |
심사청구항수 | 6 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 안정호 | 대한민국 | 대전 유성구 |
2 | 김재완 | 대한민국 | 대전 유성구 |
3 | 김종안 | 대한민국 | 대전 유성구 |
4 | 김수현 | 대한민국 | 대전 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김문종 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스) |
2 | 손은진 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2008.03.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0219275-97 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2009.01.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2009.02.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0008758-32 |
4 | 등록결정서 Decision to grant |
2009.04.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0182348-56 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 제 1 편광광선분할기(PBS1)를 포함하며 더블패스방식의 간섭부(100)를 통해 입사된 빛을 간섭시켜 주고, 상기 간섭된 빛을 제 2, 3 편광광선분할기(PBS2, PBS3) 및 반파장판(HWP)과 사분파장판(QWP)이 조합된 신호검출부(200)를 통해 간섭신호를 얻는 간섭계의 비선형 오차 보상방법에 있어서, 상기 제 1, 2, 3 편광광선분할기(PBS1)의 광학적 특성을 측정하여 행렬형태로 얻는 제 1 단계(S100); 상기 반파장판(HWP) 및 상기 사분파장판(QWP)의 회전행렬을 구하는 제 2 단계(S200); 상기 제 1, 2, 3 편광광선분할기(PBS1, PBS2, PBS3)의 행렬과, 상기 반파장판(HWP) 및 상기 사분파장판(QWP)의 회전행렬을 이용하여 비선형오차를 구하는 제 3 단계(S300); 상기 반파장판(HWP) 및 상기 사분파장판(QWP)의 각 회전각에 대한 비선형오차로부터 상기 반파장판(HWP) 및 상기 사분파장판(QWP)의 최소 각도정렬값을 계산하는 제 4 단계(S400); 및 상기 최소 각도정렬값만큼 상기 반파장판(HWP) 및 상기 사분파장판(QWP)을 상기 최소 각도정렬값으로 보상하여 회전시켜 주는 제 5 단계(S500);를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
2 |
2 제 1 항에 있어서, 상기 각 편광광선분할기(PBS1,PBS2,PBS3)의 광학적 특성은, 광원(30')으로부터 발생되어 회전하는 제 1 편광기(10)를 투과한 빛이 광선분할기(NPBS)로부터 반사된 빛을 측정하는 제 1 측정수단(M1)과; 상기 광선분할기(NPBS)로부터 투과된 빛을 측정대상인 상기 제 1, 2, 3 편광광선분할기(PBS1,PBS2,PBS3)로부터 반사된 빛을 측정하는 제 2 측정수단(M2)과; 상기 제 1, 2, 3 편광광선분할기(PBS1,PBS2,PBS3)로부터 투과된 빛을 회전하는 제 2 편광기(20)를 투과한 빛을 측정하는 제 3 측정수단(M3);으로부터 측정된 편광비율을 이용하여 얻은 투과 및 반사에 따른 존스행렬인 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
3 |
3 제 2 항에 있어서, 상기 존스행렬은, 반사(R) 및 투과(T)에 따라 다음의 [수학식 8] 에 따르는 행렬인 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
4 |
4 제 1 항에 있어서, 상기 사분파장판(QWP) 및 상기 반파장판(HWP)의 회전행렬은 각각 다음의 [수학식 9] 및 [수학식 10]을 따르는 존스행렬이고, 여기서, 는 각도 정렬오차인 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
5 |
5 제 1 항에 있어서, 상기 간섭계는 호모다인 간섭광학계, 상변위간섭광학계 또는 헤테로다인 간섭광학계인 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
6 |
6 제 1 항에 있어서, 상기 최소 각도정렬값은 에 따라 계산되고, 여기서, Enonlinear는 비선형오차를, ψQWP1은 기준팔(reference arm)의 사분파장판의 회전각도를, ψQWP2는 측정팔(measurement arm)의 사분파장파의 회전각도를, ψQWP3은 검출부의 사분파장판의 회전각도를, 그리고 ψHWP 는 검출부의 반파장판의 회전각도를 각각 나타내는 것을 특징으로 하는 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
---|
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
공개전문 정보가 없습니다 |
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특허 등록번호 | 10-0898327-0000 |
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표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20080326 출원 번호 : 1020080027914 공고 연월일 : 20090520 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20090429 청구범위의 항수 : 6 유별 : G02B 27/10 발명의 명칭 : 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 존속기간(예정)만료일 : 20140513 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 139,500 원 | 2009년 05월 12일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 172,000 원 | 2012년 05월 08일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 172,000 원 | 2013년 04월 29일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2008.03.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0219275-97 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2009.01.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2009.02.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0008758-32 |
4 | 등록결정서 | 2009.04.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0182348-56 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술번호 | KST2014012358 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한국과학기술원 |
기술명 | 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법 |
기술개요 |
본 발명은 간섭계의 비선형 오차가 최소화되도록 파장판을 재정렬함으로써 비선형 오차를 보상하기 위한 파장판의 각도 정렬을 통한 간섭계의 비선형 오차 보상방법에 관한 것이다. 이를 달성하기 위한 수단으로, 제 1 편광광선분할기를 포함하며 더블패스방식의 간섭부를 통해 입사된 빛을 간섭시켜 주고, 간섭된 빛을 제 2, 3 편광광선분할기 및 반파장판과 사분파장판이 조합된 신호검출부를 통해 간섭신호를 얻는 간섭계의 비선형 오차 보상방법에 있어서, 제 1, 2, 3 편광광선분할기의 광학적 특성을 측정하여 행렬형태로 얻는 제1단계; 반파장판 및 사분파장판의 회전행렬을 구하는 제 2 단계; 제 1, 2, 3 편광광선분할기의 행렬과, 반파장판 및 사분파장판의 회전행렬을 이용하여 비선형오차를 구하는 제 3 단계; 반파장판 및 사분파장판의 각 회전각에 대한 비선형오차로부터 반파장판 및 사분파장판의 최소 각도정렬값을 계산하는 제 4 단계; 및 최소 각도정렬값만큼 반파장판 및 사분파장판을 최소 각도정렬값으로 보상하여 회전시켜 주는 제 5 단계;를 포함하여 이루어진 것이 특징이다. 본 발명에 의하면 비선형 오차 보상을 통해 높은 분해능 및 정확도를 갖는 간섭계 구성이 가능하다. 호모다인 간섭계, 광학간섭계, 비선형 오차보상, 파장판 정렬 |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | LCD, PDP, 바이오기술 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345095793 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A1808 |
연구과제명 | 카이스트가치제조기계사업단 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | 기타 |
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