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전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스 및 이를 이용하여 나노입자를 검출하기 위한 시스템

  • 기술번호 : KST2015137244
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 의하면 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스로서, 전기적으로 전도성의 물질로 이루어진 필름;및 상기 필름 상에 형성되고, 상기 전자기파 및 상기 전도성 물질에 따라 결정되는 토마스 페르미 차폐 길이와 표피 깊이 사이의 폭을 갖는 나노갭을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스 및 이를 이용한 나노입자 검출을 위한 시스템이 제공된다. 금속, 플라즈몬, 구멍, 전기장, 집속, 증폭
Int. CL B82B 3/00 (2017.01.01) B82Y 35/00 (2017.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020080107948 (2008.10.31)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1069607-0000 (2011.09.27)
공개번호/일자 10-2010-0048677 (2010.05.11) 문서열기
공고번호/일자 (20111005) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.10.31)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김대식 대한민국 서울특별시 관악구
2 박형렬 대한민국 서울특별시 관악구
3 서민아 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인세신 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 *** (가산동, 월드메르디앙벤처센터II)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.10.31 수리 (Accepted) 1-1-2008-0759469-68
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.11.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0513795-30
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.01.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0022953-63
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.01.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0022954-19
5 등록결정서
Decision to grant		 2011.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0410255-05
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스로서, 전기적으로 전도성의 물질로 이루어진 필름;및 상기 필름 상에 형성되고, 상기 전자기파 및 상기 전도성 물질에 따라 결정되는 토마스 페르미 차폐 길이와 표피 깊이 사이의 폭을 갖는 나노갭을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
2 2
제1항에 있어서, 상기 전자기파는 테라파 내지 원적외선 영역의 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
3 3
제2항에 있어서, 상기 전자기파는 단일 사이클 테라헤르쯔 펄스인 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
4 4
제1항에 있어서, 상기 전도성의 물질은 금속 또는 탄소나노튜브인 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
5 5
제4항에 있어서, 상기 금속은 금인 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
6 6
제1항에 있어서, 상기 나노갭의 형상은 직사각형 또는 슬릿형인 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
7 7
제1항에 있어서, 상기 필름은 상기 나노갭 폭의 2배의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
8 8
제1항에 있어서, 상기 나노갭은 상기 전자기파의 공명 파장의 1/2의 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
9 9
제1항에 있어서, 테라헤르쯔 비선형성 유도, 천문학의 소 테라헤르쯔 신호 검출, 나노-입자 검출 또는 표면 증폭 라만 산란을 위한 발진대로서 이용되는 것을 특징으로 하는 전자기파의 전기장 집속을 위한 나노갭 디바이스
10 10
나노입자 검출을 위한 장치로서, 전자기파를 발생시키기 위한 전자기파 원; 전기적으로 전도성의 물질로 이루어진 필름; 상기 필름 상에 형성되고, 상기 전자기파 및 상기 전도성 물질에 따라 결정되는 토마스 페르미 차폐 길이와 표피 깊이 사이의 폭을 갖는 나노갭;및 상기 나노갭을 통해 투과된 상기 전자기파를 측정하는 측정 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
11 11
제10항에 있어서, 상기 전자기파는 테라파 내지 원적외선 영역의 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 전자기파는 단일 사이클 테라헤르쯔 펄스인 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
13 13
제10항에 있어서, 상기 전도성의 물질은 금속 또는 탄소나노튜브인 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
14 14
제13항에 있어서, 상기 금속은 금인 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
15 15
제10항에 있어서, 상기 나노갭의 형상은 직사각형또는 슬릿형인 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
16 16
제10항에 있어서, 상기 필름은 상기 나노갭 폭의 2배의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
17 17
제10항에 있어서, 상기 나노갭은 상기 전자기파의 공명 파장의 1/2의 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
18 18
제10항에 있어서, 상기 측정 수단은 일렉트로-옵틱 샘플링을 이용하여 상기 투과 전자기파를 측정하는 것을 특징으로 하는 나노입자 검출을 위한 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02344418 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02344418 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP24507707 JP 일본 FAMILY
4 US08710444 US 미국 FAMILY
5 US20110220799 US 미국 FAMILY
6 WO2010050637 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2344418 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2344418 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP2344418 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 JP2012507707 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 US2011220799 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US8710444 US 미국 DOCDBFAMILY
7 WO2010050637 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교 기초과학연구사업 광학에너지 집속 연구