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전자기 유도를 이용한 그래핀 품질 평가 장치 및 그래핀 품질 평가 방법

  • 기술번호 : KST2019024044
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 그래핀 품질 평가 장치는 그래핀(graphene)에 근접하여 배치되는 적어도 하나의 전자석, 전자석에서 변경되는 세기를 가지는 자기장을 생성하도록 전자석에 변경되는 크기를 가지는 전기 신호를 제공하는 구동부, 전자석에서 생성되는 자기장에 의해 그래핀에 유도된 유도 전압을 측정하는 유도 전압 측정부, 및 유도 전압에 기초하여 그래핀의 품질을 평가하는 품질 평가부를 포함한다. 이에 따라, 그래핀 품질 평가 장치는 그래핀의 구조적 결함을 정량화하여 품질을 평가할 수 있다.
Int. CL G01N 27/49 (2006.01.01) G01R 33/381 (2006.01.01) G01R 15/12 (2006.01.01) G01N 35/00 (2006.01.01)
CPC G01N 27/49(2013.01) G01N 27/49(2013.01) G01N 27/49(2013.01) G01N 27/49(2013.01)
출원번호/일자 1020160103780 (2016.08.16)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1782385-0000 (2017.09.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170927) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.08.16)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김택수 대한민국 대전광역시 유성구
2 강수민 대한민국 대전광역시 유성구
3 윤태식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박영우 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.08.16 수리 (Accepted) 1-1-2016-0793380-67
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.04.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0375703-10
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0077909-74
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.07.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0645241-82
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.07.05 수리 (Accepted) 1-1-2017-0645242-27
7 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2017.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-0670141-01
8 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2017.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2017-0736941-35
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2017.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0548895-69
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0800017-19
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2017.08.18 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2017-0800016-63
12 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2017.09.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0656122-51
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
그래핀(graphene)에 근접하여 배치되는 적어도 하나의 전자석;상기 전자석에서 시간에 따라 변경되는 세기를 가지는 자기장을 생성하도록 상기 전자석에 시간에 따라 변경되는 크기를 가지는 전기 신호를 제공하는 구동부;상기 전자석에서 생성되는 상기 시간에 따라 변경되는 세기를 가지는 자기장에 의해 평가 대상인 상기 그래핀에 유도된 유도 전압을 측정하는 유도 전압 측정부; 및상기 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 품질을 평가하는 품질 평가부를 포함하고,상기 적어도 하나의 전자석은, 상기 그래핀과 같거나 상기 그래핀보다 큰 크기를 가지는 대형 전자석; 및 상기 그래핀보다 작은 크기를 가지는 소형 전자석을 포함하고,상기 품질 평가부는 상기 대형 전자석에 의해 상기 그래핀의 전체에서 유도된 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 전체적인 구조적 결함을 정량화하고, 상기 소형 전자석에 의해 상기 그래핀의 일부에서 유도된 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 국부적인 구조적 결함을 정량화하는 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 그래핀의 복수의 위치들에서의 상기 국부적인 구조적 결함을 정량화하도록 상기 소형 전자석의 위치가 이동되는 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 유도 전압 측정부는,디지털 멀티미터(Digital Multi-Meter; DMM)인 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 장치
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구동부가, 그래핀(graphene)에 근접하여 배치되는 적어도 하나의 전자석에서 시간에 따라 변경되는 세기를 가지는 자기장이 생성되도록, 상기 전자석에 시간에 따라 변경되는 크기를 가지는 전기 신호를 제공하는 단계;유도 전압 측정부가 상기 전자석에서 생성되는 상기 시간에 따라 변경되는 세기를 가지는 자기장에 의해 평가 대상인 상기 그래핀에 유도된 유도 전압을 측정하는 단계; 및품질 평가부가 상기 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 품질을 평가하는 단계를 포함하고,상기 적어도 하나의 전자석은, 상기 그래핀과 같거나 상기 그래핀보다 큰 크기를 가지는 대형 전자석; 및 상기 그래핀보다 작은 크기를 가지는 소형 전자석을 포함하고,상기 그래핀의 품질을 평가하는 단계는, 상기 대형 전자석에 의해 상기 그래핀의 전체에서 유도된 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 전체적인 구조적 결함을 정량화하는 단계; 및 상기 소형 전자석에 의해 상기 그래핀의 일부에서 유도된 유도 전압에 기초하여 상기 그래핀의 국부적인 구조적 결함을 정량화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 방법
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제 7 항에 있어서,상기 그래핀의 복수의 위치들에서의 상기 국부적인 구조적 결함을 정량화하도록 상기 소형 전자석의 위치를 이동하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 방법
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제 7 항에 있어서, 상기 유도 전압을 측정하는 단계는,디지털 멀티미터(Digital Multi-Meter; DMM)를 이용하여 상기 유도 전압을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 그래핀 품질 평가 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한국전자통신연구원 그래핀 소재 부품 기술개발사업 그래핀 소재의 OLED 투명전극과 박막봉지 적용을 위한 기판 사이즈 5.5세대 이상의 그래핀 필름 및 OLED 소자/패널 기초 및 응용 기술 개발
2 미래창조과학부 한국과학기술원 이공분야기초연구사업 (KAIST) 고성능 웨어러블 플랫폼 공정 및 설계