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피검사자의 안구로부터 전안부 이미지를 획득하는 이미지획득부;기 획득된 피검사자들의 각막의 병변 위치 및 원인을 분석한 임상 정보가 저장된 데이터베이스를 기초로 머신러닝에 의해 상기 전안부 이미지와의 컨벌루션 레이어(Convolution Layer)를 적용하여 상기 전안부 이미지에서 상기 각막의 병변 위치 및 원인에 관한 특징 정보를 추출하는 특징추출부; 및상기 특징 정보를 이용하여 상기 전안부 이미지에서 상기 각막의 위치를 확인하고 상기 각막의 위치로부터 상기 각막의 병변 위치 및 원인을 분석 및 판단하는 결과판단부를 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 특징추출부는,복수의 컨벌루션 레이어, 풀링 레이어, 활성 함수 또는 relu 중 적어도 어느 하나의 네트워크가 적층된 레스넷을 포함하고,상기 레스넷은,상기 전안부 이미지로부터 의심 영역을 추출하는 다채널 특징 맵이 포함된 상기 특징 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 특징추출부는,상기 특징 정보 및 상기 임상 정보 중 병변 위치를 나타내는 병변 위치 데이터와의 컨벌루션을 통해 상기 의심 영역보다 정밀한 병변 영역을 산출하는 병변 집중 모듈을 더 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 특징추출부는,상기 전안부 이미지의 영역에 존재하는 슬릿빔(slit beam)의 이미지를 조절하는 세극등 조절 모듈을 더 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 4 항에 있어서,상기 세극등 조절 모듈은,상기 전안부 이미지로부터 세극등 부분을 제외시켜 상기 전안부 이미지에 포함된 상기 각막 또는 상기 각막의 병변 위치를 학습시키는 것을 특징으로 하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 4 항에 있어서,상기 세극등 조절 모듈은,상기 전안부 이미지와 기 수집된 세극등 영역 마스크에 컨벌루션 레이어(Convolution Layer)를 적용시킨 후, 상기 슬릿빔(slit beam) 부분에 대한 가중치를 적용하여 마스킹 비율을 조절하는 것을 특징으로 하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 결과판단부는,상기 특징추출부에서 출력된 3차원 특징 벡터와,상기 3차원 특징 벡터에 풀리 커넥티드 레이어(Fully Connected Layer)를 적용시켜 산출된 2차원 특징 벡터에 해당되는 예측 벡터를 상기 풀리 커넥티드 레이어(Fully Connected Layer)에 재입력하여 상기 각막의 병변 원인을 산출하는 것을 특징으로 하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 시스템
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이미지획득부에서 전안부 이미지를 피검사자의 안구로부터 획득하는 단계;상기 전안부 이미지와 기 획득된 피검사자들의 각막의 병변 위치 및 원인을 분석한 임상 정보가 저장된 데이터베이스와 컨벌루션 레이어(Convolution Layer)를 적용하는 특징추출부를 통해 상기 전안부 이미지에서 상기 각막의 병변 위치 및 원인에 관한 특징 정보를 추출하는 단계; 및상기 특징 정보를 이용하여 상기 전안부 이미지에서 상기 각막의 위치를 확인하고 결과판단부에서 상기 각막의 병변에 대한 위치 및 원인을 분석 및 판단하는 단계를 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 8 항에 있어서,상기 특징 정보를 추출하는 단계는,복수의 컨벌루션 레이어, 풀링 레이어, 활성 함수 또는 relu 중 적어도 어느 하나의 네트워크가 적층된 레스넷으로 상기 전안부 이미지로부터 의심 영역을 추출하는 다채널 특징 맵이 포함된 상기 특징 정보를 추출하는 단계를 더 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 9 항에 있어서,상기 특징 정보를 상기 병변 집중 모듈로 추출하는 단계는,상기 특징 정보 및 상기 임상 정보 중 병변 위치를 나타내는 병변 위치 데이터와의 컨벌루션을 통해 상기 의심 영역보다 정밀한 병변 영역을 추출하는 단계를 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 8 항에 있어서,상기 특징추출부의 세극등 조절 모듈을 통해 상기 전안부 이미지의 영역에 존재하는 슬릿빔(slit beam) 이미지를 조절하는 단계를 더 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 11 항에 있어서,상기 세극등 조절 모듈에서 상기 전안부 이미지와 기 수집된 세극등 영역 마스크에 컨벌루션 레이어(Convolution Layer)를 적용하는 단계; 및상기 슬릿빔(slit beam) 부분에 대한 가중치를 적용하여 마스킹 비율을 조절하는 단계를 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 8 항에 있어서,상기 각막의 병변에 대한 위치 및 원인을 분석 및 판단하는 단계는,상기 특징추출부에서 3차원 특징 벡터를 출력하는 단계;상기 3차원 특징 벡터에 풀리 커넥티드 레이어(Fully Connected Layer)를 적용시켜 산출된 2차원 특징 벡터에 해당되는 예측 벡터를 출력하는 단계; 및상기 결과판단부에서 상기 특징 벡터와 상기 예측 벡터를 상기 풀리 커넥티드 레이어(Fully Connected Layer)에 재입력하는 단계를 포함하는 전안부 이미지를 이용한 각막 병변 분석 방법
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제 8 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 따른 방법을 실행하는 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 저장 장치
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