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지연셀을 이용한 아날로그-디지털 변환기 및아날로그-디지털 변환 방법

  • 기술번호 : KST2015140952
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 아날로그 입력 신호를 N비트 디지털 신호-여기서 N은 양의 정수임-로 변환하는 아날로그-디지털 변환기는 복수의 서로 다른 기준 전압을 생성하는 기준 전압 발생부와, 상기 아날로그 입력 신호의 크기와 상기 복수의 기준 전압들 각각의 크기와의 차이를 입력되는 클럭의 지연 시간 차이로 변환시키는 지연부와, 상기 클럭의 지연 시간 차이를 검출하여 검출 신호를 생성하는 위상 검출기와, 상기 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 코드 생성부를 포함한다. 비교기를 사용하지 않고 지연 셀을 이용하여 아날로그-디지털 변환 동작을 수행함으로써 아날로그-디지털 변환기의 전력 소모 및 칩면적을 크게 줄일 수 있다. ADC, 아날로그-디지털 변환, 지연셀, 지연, 위상 검출기
Int. CL H03M 1/50 (2006.01.01) H03M 1/36 (2006.01.01) H03M 1/12 (2006.01.01) H03M 1/00 (2006.01.01)
CPC H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01) H03M 1/502(2013.01)
출원번호/일자 1020070128534 (2007.12.11)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0929399-0000 (2009.11.24)
공개번호/일자 10-2009-0061507 (2009.06.16) 문서열기
공고번호/일자 (20091202) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.12.11)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유창식 대한민국 서울 성동구
2 조준기 대한민국 서울시 성동구
3 박재우 대한민국 서울시 성동구
4 신성철 대한민국 서울시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.11 수리 (Accepted) 1-1-2007-0890961-71
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2007.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0913276-98
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0503713-23
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.12.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.01.16 수리 (Accepted) 9-1-2009-0005424-84
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0184780-14
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.06.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0393069-69
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.06.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0393077-24
10 등록결정서
Decision to grant
2009.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0472195-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
아날로그 입력 신호를 N비트 디지털 신호-여기서 N은 양의 정수임-로 변환하는 아날로그-디지털 변환기에 있어서, 복수의 서로 다른 기준 전압을 생성하는 기준 전압 발생부; 클럭을 입력받아 상기 아날로그 입력 신호에 따라 상기 클럭을 제1 지연 시간만큼 지연시키는 제1 지연셀과, 상기 클럭을 입력받아 상기 복수의 기준 전압들 중 하나의 기준 전압에 따라 상기 클럭을 제2 지연 시간만큼 지연시키는 제2 지연셀을 이용하여 상기 아날로그 입력 신호의 크기와 상기 복수의 기준 전압들 각각의 크기와의 차이를 입력되는 클럭의 지연 시간 차이로 변환시키는 지연부; 상기 제1 지연 셀로부터 출력되는 상기 제1 지연 시간만큼 지연된 클럭과 상기 제2 지연 셀로부터 출력되는 상기 제2 지연 시간만큼 지연된 클럭의 지연 시간의 차이를 검출하여 액티브 상태 또는 비액티브 상태를 가지는 검출 신호를 생성하는 위상 검출기; 및 상기 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 코드 생성부를 포함하는 아날로그-디지털 변환기
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 지연부는 상기 제1 지연 셀 및 상기 제2 지연 셀이 한 쌍으로 구성된 지연 셀들의 쌍-여기서 지연 셀들의 쌍의 개수는 (-1)개 임-을 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 지연 셀은 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간이 감소하고, 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 작아지면 상기 입력되는 클럭의 제1 지연 시간이 증가되며, 상기 제2 지연 셀은 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간이 감소하고, 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 작아지면 상기 입력되는 클럭의 제2 지연 시간이 증가되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
5 5
제1항에 있어서, 상기 제1 지연 셀은 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 소정 값보다 작은 영역에서는 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간이 감소하고, 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 상기 소정값보다 큰 영역에서는 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간이 증가하며, 상기 제2 지연 셀은 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 상기 소정 값보다 작은 영역에서는 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간이 감소하고, 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 상기 소정값보다 큰 영역에서는 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간이 증가하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서, 상기 위상 검출부는 상기 아날로그 입력 신호에 따라서 제1 지연된 클럭이 상기 복수의 기준 전압들 중 하나에 따라서 제2 지연된 클럭보다 위상이 앞서는 경우에는 상기 액티브 상태를 가지는 검출 신호를 출력하고, 상기 아날로그 입력 신호에 따라서 제 1 지연된 클럭이 상기 복수의 기준 전압들 중 하나에 따라서 제2 지연된 클럭보다 위상이 늦는 경우에는 상기 비액티브 상태를 가지는 검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
8 8
제1항에 있어서, 상기 위상 검출부는 상기 제1 지연 셀로부터 출력되는 상기 제1 지연 시간만큼 지연된 클럭을 입력 단자로 제공받고, 상기 제2 지연 셀로부터 출력되는 상기 제2 지연 시간만큼 지연된 클럭을 클럭 단자로 제공받아 출력 단자를 통하여 상기 검출 신호를 출력하는 D-플립플롭을 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
9 9
제1항에 있어서, 상기 코드 생성부는 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라서 하위비트로부터 ‘1’의 코드값이 하나씩 증가하는 온도계 코드 형태를 가지는 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
10 10
제9항에 있어서, 상기 코드 생성부는 상기 검출 신호의 에러를 보정하는 에러 보상부; 및 상기 에러 보상부로부터 출력되는 복수의 출력 중에 하나만‘1’이 되는 코드값을 입력받아 인코딩하여 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 디지털 신호를 생성하는 인코더를 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
11 11
제10항에 있어서, 상기 에러 보상부는 3-입력 AND 게이트를 이용하여 구현하여 상기 검출 신호의 에러를 보상하여 상기 에러 보상부의 복수의 출력 중에 하나만‘1’이 되는 코드값을 생성하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
12 12
제10항에 있어서, 상기 인코더는 팻-트리 인코더(fat tree encoder)인 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
13 13
제1항에 있어서, 상기 기준 전압 발생부는 상기 아날로그 입력 신호의 범위를 등분하도록 저항열로 구성된 저항 래더를 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기
14 14
아날로그 입력 신호를 N비트 디지털 신호-여기서 N은 양의 정수임-로 변환하는 아날로그-디지털 변환 방법에 있어서, 복수의 서로 다른 기준 전압을 생성하는 단계; 클럭을 입력받아 상기 아날로그 입력 신호에 따라 상기 클럭을 제1 지연 시간만큼 지연시키며, 상기 클럭을 입력받아 상기 복수의 기준 전압들 중 하나의 기준 전압에 따라 상기 클럭을 제2 지연 시간만큼 지연시키는 것을 이용하여 상기 아날로그 입력 신호의 크기와 상기 복수의 기준 전압들 각각의 크기와의 차이를 입력되는 클럭의 지연 시간 차이로 변환시키는 단계; 상기 제1 지연 시간만큼 지연된 클럭과 상기 제2 지연 시간만큼 지연된 클럭의 지연 시간의 차이를 검출하여 액티브 상태 또는 비액티브 상태를 가지는 검출 신호를 생성하는 단계; 및 상기 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 단계를 포함하는 아날로그-디지털 변환 방법
15 15
삭제
16 16
제14항에 있어서, 상기 클럭을 입력받아 상기 아날로그 입력 신호에 따라 상기 클럭을 제1 지연 시간만큼 지연시키는 것은 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간이 감소시키고 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 작아지면 상기 입력되는 클럭의 제1 지연 시간이 증가시키며, 상기 클럭을 입력받아 상기 복수의 기준 전압들 중 하나의 기준 전압에 따라 상기 클럭을 제2 지연 시간만큼 지연시키는 것은 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간을 감소시키고 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 작아지면 상기 입력되는 클럭의 제2 지연 시간을 증가시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환 방법
17 17
제14항에 있어서, 상기 클럭을 입력받아 상기 아날로그 입력 신호에 따라 상기 클럭을 제1 지연 시간만큼 지연시키는 것은 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 소정 값보다 작은 영역에서는 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간을 감소시키고 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 상기 소정값보다 큰 영역에서는 상기 아날로그 입력 신호의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 1 지연 시간을 증가시키며, 상기 클럭을 입력받아 상기 복수의 기준 전압들 중 하나의 기준 전압에 따라 상기 클럭을 제2 지연 시간만큼 지연시키는 것은 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 상기 소정 값보다 작은 영역에서는 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간을 감소시키고 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 상기 소정값보다 큰 영역에서는 상기 복수의 기준 전압 중 하나의 크기가 증가하면 상기 입력되는 클럭의 제 2 지연 시간을 증가시키는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환 방법
18 18
삭제
19 19
제14항에 있어서, 상기 제1 지연 시간만큼 지연된 클럭과 상기 제2 지연 시간만큼 지연된 클럭의 지연 시간의 차이를 검출하여 액티브 상태 또는 비액티브 상태를 가지는 검출 신호를 생성하는 단계는 상기 아날로그 입력 신호에 따라서 제1 지연된 클럭이 상기 복수의 기준 전압들 중 하나에 따라서 제2 지연된 클럭보다 위상이 앞서는 경우에는 상기 액티브 상태를 가지는 검출 신호를 출력하고, 상기 아날로그 입력 신호에 따라서 제 1 지연된 클럭이 상기 복수의 기준 전압들 중 하나에 따라서 제2 지연된 클럭보다 위상이 늦는 경우에는 상기 비액티브 상태를 가지는 검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환 방법
20 20
제14항에 있어서, 상기 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 단계는 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라서 하위비트로부터 ‘1’의 코드값이 하나씩 증가하는 온도계 코드 형태를 가지는 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환 방법
21 21
제20항에 있어서, 상기 검출 신호를 입력받아 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 상기 N비트 디지털 신호로 변환하는 단계는 상기 검출 신호의 에러를 보상하여 하나만‘1’이 되는 코드값을 가지는 복수의 출력 신호를 생성하는 단계; 및 상기 복수의 출력 신호를 인코딩하여 상기 아날로그 입력 신호가 증가함에 따라 증가되는 디지털 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.