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전자 장치 및 제어 방법

  • 기술번호 : KST2022004079
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전자 장치 및 제어 방법이 개시된다. 전자 장치는 카메라, 카메라 플래시, 오브젝트의 자연광 이미지 및 뎁스 이미지를 촬영하도록 카메라를 제어하고, 인공 조명을 포함하는 오브젝트의 인공광 이미지를 촬영하도록 카메라 및 카메라 플래시를 제어하는 프로세서를 포함하고, 프로세서는 뎁스 이미지로부터 거리 정보를 획득하고 뎁스 마스크 이미지를 생성하며, 자연광 이미지로부터 클러스터 마스크 이미지를 생성하고, 인공광 이미지의 조도에서 자연광 이미지의 조도를 제거한 플래시 이미지를 획득하며, 거리 정보, 뎁스 마스크 이미지, 클러스터 마스크 이미지 및 플래시 이미지에 기초하여 최적화 파라미터를 획득하고, 획득된 최적화 파라미터에 기초하여 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보를 획득한다.
Int. CL G06T 15/50 (2006.01.01) G06T 7/514 (2017.01.01) G06T 7/00 (2017.01.01) H04N 13/254 (2018.01.01) H04N 13/271 (2018.01.01)
CPC G06T 15/50(2013.01) G06T 7/514(2013.01) G06T 7/97(2013.01) H04N 13/254(2013.01) H04N 13/271(2013.01) G06T 2207/20024(2013.01)
출원번호/일자 1020200130867 (2020.10.12)
출원인 삼성전자주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0048109 (2022.04.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김민혁 대전광역시 유성구
2 이주호 대전광역시 유성구
3 구현진 대전광역시 유성구
4 강다현 대전광역시 유성구
5 하현호 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정홍식 대한민국 서울시 서초구 강남대로 *** 신덕빌딩 *층(나우특허법률사무소)
2 김태헌 대한민국 서울시 서초구 강남대로 *** 신덕빌딩 *층(나우특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.10.12 수리 (Accepted) 1-1-2020-1070400-31
2 보정요구서
Request for Amendment
2020.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0151984-64
3 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2020.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2020-1094452-56
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
카메라;카메라 플래시;오브젝트의 자연광 이미지 및 뎁스 이미지를 촬영하도록 상기 카메라를 제어하고, 인공 조명을 포함하는 상기 오브젝트의 인공광 이미지를 촬영하도록 상기 카메라 및 상기 카메라 플래시를 제어하는 프로세서;를 포함하고,상기 프로세서는,상기 뎁스 이미지로부터 거리 정보를 획득하고 뎁스 마스크 이미지를 생성하며,상기 자연광 이미지로부터 클러스터 마스크 이미지를 생성하고,상기 인공광 이미지의 조도에서 상기 자연광 이미지의 조도를 제거한 플래시 이미지를 획득하며,상기 거리 정보, 뎁스 마스크 이미지, 클러스터 마스크 이미지 및 플래시 이미지에 기초하여 최적화 파라미터를 획득하고,상기 획득된 최적화 파라미터에 기초하여 상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보를 획득하는, 전자 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 획득된 상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보에 기초하여 3차원 오브젝트를 포함하는 이미지를 디스플레이하는 디스플레이;를 더 포함하는 전자 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 프로세서는,상기 뎁스 마스크 이미지, 클러스터 마스크 이미지 및 플래시 이미지를 기 설정된 크기로 다운 샘플링한 복수의 이미지를 포함하는 이미지 피라미드를 생성하는, 전자 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 프로세서는,상기 생성된 이미지 피라미드 중 가장 작은 이미지에서 제1 최적화 파라미터를 획득하고, 상기 획득된 제1 최적화 파라미터에 기초하여 다음 크기의 이미지에서 제2 최적화 파라미터를 획득하며, 획득된 제n-1 최적화 파라미터에 기초하여 가장 큰 이미지에서 상기 최적화 파라미터를 획득하는, 전자 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 프로세서는,상기 거리 정보에 기초하여 상기 뎁스 이미지 중 거리 정보를 포함하는 픽셀은 1로 설정하고 거리 정보가 없는 픽셀은 0으로 설정하여 상기 뎁스 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 프로세서는,상기 자연광 이미지를 필터링하여 슈퍼 픽셀을 식별하고, 상기 식별된 슈퍼 픽셀에 기초하여 상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 프로세서는,상기 슈퍼 픽셀을 독립된 클러스터로 설정하고, 각 클러스터를 나타내는 노드와 복수의 클러스터가 인접한 영역의 평균 색 거리를 나타내는 에지를 포함하는 클러스터 간의 가중치 그래프를 생성하며, 클러스터 간의 인접한 길이에 기초하여 인접한 클러스터 각각에 포함된 슈퍼 픽셀 간의 평균 색상 값의 차이에 가중치를 적용한 에지 가중치를 획득하고, 상기 클러스터의 평균 색상 값을 획득하며, 상기 획득된 평균 색상 값의 거리가 기 설정된 색상 임계 값 이하이고 상기 에지 가중치가 기 설정된 가중치 임계 값 이하일 때 클러스터를 합병하여 상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 최적화 파라미터는,뎁스 변화, 법선 벡터의 변화 각도, 디퓨즈 알베도(diffuse albedo), 각 클러스터 당 스페큘러 알베도(specular albedo), 거칠기 정보를 포함하는, 전자 장치
9 9
제8항에 있어서,상기 프로세서는,상기 뎁스 변화, 법선 벡터의 변화 각도에 기초하여 상기 3차원 지형 정보를 획득하는, 전자 장치
10 10
제8항에 있어서,상기 프로세서는,상기 디퓨즈 알베도, 각 클러스터 당 스페큘러 알베도 및 거칠기 정보에 기초하여 상기 표면 반사 정보를 획득하는, 전자 장치
11 11
오브젝트의 자연광 이미지 및 뎁스 이미지를 촬영하는 단계;인공 조명을 포함하는 상기 오브젝트의 인공광 이미지를 촬영하는 단계;상기 뎁스 이미지로부터 거리 정보를 획득하고 뎁스 마스크 이미지를 생성하는 단계;상기 자연광 이미지로부터 클러스터 마스크 이미지를 생성하는 단계;상기 인공광 이미지의 조도에서 상기 자연광 이미지의 조도를 제거한 플래시 이미지를 획득하는 단계;상기 거리 정보, 뎁스 마스크 이미지, 클러스터 마스크 이미지 및 플래시 이미지에 기초하여 최적화 파라미터를 획득하는 단계;상기 획득된 최적화 파라미터에 기초하여 상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보를 획득하는 단계;를 포함하는 전자 장치의 제어 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 획득된 상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보에 기초하여 3차원 오브젝트를 포함하는 이미지를 디스플레이하는 단계;를 더 포함하는 전자 장치의 제어 방법
13 13
제11항에 있어서,상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계는,상기 뎁스 마스크 이미지, 클러스터 마스크 이미지 및 플래시 이미지를 기 설정된 크기로 다운 샘플링한 복수의 이미지를 포함하는 이미지 피라미드를 생성하는, 전자 장치의 제어 방법
14 14
제13항에 있어서,상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계는,상기 생성된 이미지 피라미드 중 가장 작은 이미지에서 제1 최적화 파라미터를 획득하고, 상기 획득된 제1 최적화 파라미터에 기초하여 다음 크기의 이미지에서 제2 최적화 파라미터를 획득하며, 획득된 제n-1 최적화 파라미터에 기초하여 가장 큰 이미지에서 상기 최적화 파라미터를 획득하는, 전자 장치의 제어 방법
15 15
제11항에 있어서,상기 뎁스 마스크 이미지를 생성하는 단계는,상기 거리 정보에 기초하여 상기 뎁스 이미지 중 거리 정보를 포함하는 픽셀은 1로 설정하고 거리 정보가 없는 픽셀은 0으로 설정하여 상기 뎁스 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치의 제어 방법
16 16
제11항에 있어서,상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는 단계는,상기 자연광 이미지를 필터링하여 슈퍼 픽셀을 식별하고, 상기 식별된 슈퍼 픽셀에 기초하여 상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치의 제어 방법
17 17
제16항에 있어서,상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는 단계는,상기 슈퍼 픽셀을 독립된 클러스터로 설정하고, 각 클러스터를 나타내는 노드와 복수의 클러스터가 인접한 영역의 평균 색 거리를 나타내는 에지를 포함하는 클러스터 간의 가중치 그래프를 생성하며, 클러스터 간의 인접한 길이에 기초하여 인접한 클러스터 각각에 포함된 슈퍼 픽셀 간의 평균 색상 값의 차이에 가중치를 적용한 에지 가중치를 획득하고, 상기 클러스터의 평균 색상 값을 획득하며, 상기 획득된 평균 색상 값의 거리가 기 설정된 색상 임계 값 이하이고 상기 에지 가중치가 기 설정된 가중치 임계 값 이하일 때 클러스터를 합병하여 상기 클러스터 마스크 이미지를 생성하는, 전자 장치의 제어 방법
18 18
제11항에 있어서,상기 최적화 파라미터는,뎁스 변화, 법선 벡터의 변화 각도, 디퓨즈 알베도(diffuse albedo), 각 클러스터 당 스페큘러 알베도(specular albedo), 거칠기 정보를 포함하는, 전자 장치의 제어 방법
19 19
제18항에 있어서,상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보를 획득하는 단계는,상기 뎁스 변화, 법선 벡터의 변화 각도에 기초하여 상기 3차원 지형 정보를 획득하는, 전자 장치의 제어 방법
20 20
제18항에 있어서,상기 오브젝트의 3차원 지형 정보 및 표면 반사 정보를 획득하는 단계는,상기 디퓨즈 알베도, 각 클러스터 당 스페큘러 알베도 및 거칠기 정보에 기초하여 상기 표면 반사 정보를 획득하는, 전자 장치의 제어 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.