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멀티 레벨 메모리 장치 및 그의 데이터 센싱 방법

  • 기술번호 : KST2015114804
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 메모리 셀에 흐르는 넓은 범위의 전류를 효율적으로 정확하게 검출할 수 있는 저항성 메모리 장치를 제공할 수 있다. 본 발명의 저항성 메모리 장치는, 상이한 크기의 전류를 통과시키는 적어도 두개 이상의 전류 경로; 상기 적어도 두개 이상의 전류 경로와 전기적으로 선택적으로 연결되는 저항성 메모리 셀; 및 상기 저항성 메모리 셀에 흐르는 셀 전류를 복제하는 셀 전류 복제부를 포함한다.
Int. CL G11C 7/10 (2006.01) G11C 8/10 (2006.01) G11C 13/00 (2006.01)
CPC G11C 13/003(2013.01) G11C 13/003(2013.01) G11C 13/003(2013.01) G11C 13/003(2013.01)
출원번호/일자 1020120073759 (2012.07.06)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0006544 (2014.01.16) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.05.02)
심사청구항수 28

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 류승탁 대한민국 대전 유성구
2 권지욱 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 이노 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 ***, *층 (서초동, 신한국빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 경기도 이천시
2 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.07.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-0541415-30
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2012-5270171-92
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2015-5055330-26
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0425434-93
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.05.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0340073-79
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2018-0583170-30
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.06.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0583171-86
12 등록결정서
Decision to grant
2018.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0566320-96
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
상이한 크기의 전류를 통과시키는 적어도 두개 이상의 전류 경로;상기 적어도 두개 이상의 전류 경로와 전기적으로 선택적으로 연결되는 메모리 셀; 및상기 메모리 셀에 흐르는 셀 전류를 복제하는 셀 전류 복제부;상기 셀 전류 복제부를 흐르는 셀복제전류와 비교복제전류를 비교하는 비교수단;상기 비교수단으로부터 출력되는 비교신호를 변환하여 출력하는 데이터 출력부;상기 데이터 출력부로부터 출력되는 비교신호를 이용하여 비교전류를 출력하는 비교전류출력부; 및상기 비교전류를 복제하여 상기 비교복제전류를 출력하는 비교전류 복제부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 셀 전류 복제부는, 상기 적어도 두개 이상의 전류 경로와 전류 미러 타입으로 결합되는 멀티 레벨 메모리 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 적어도 두개 이상의 전류 경로는,상기 셀 전류의 제1 범위를 통과시킬 수 있는 제1 전류 구동부; 및상기 셀 전류의 제1 범위를 벗어난 제2 범위를 통과시킬 수 있는 제2 전류 구동부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 셀 전류 복제부는 상기 제1 전류 구동부와 동일한 크기의 전류를 통과시킬 수 있는 멀티 레벨 메모리 장치
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서, 상기 비교수단은,상기 셀복제전류와 상기 비교복제전류를 이용하여 상기 셀복제전류가 흐르는 경로 상의 제1 노드와 상기 비교복제전류가 흐르는 경로 상의 제2 노드 사이의 전위차를 증폭시키는 제1 비교부; 및상기 제1 노드 및 상기 제2 노드를 입력으로 하여 비교하는 제2 비교부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
7 7
제6항에 있어서, 상기 제1 비교부는,상기 제1 노드와 상기 제2 노드 사이에 연결되고, 리셋신호에 제어되어 상기 제1 및 제2 노드의 전위를 일치시키는 리셋부; 및상기 제1 노드와 제2 노드 사이의 전위차를 포지티브 피드백 방식으로 증폭시키는 포지티브 피드백부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 포지티브 피드백부는,상기 제1 노드와 접지 사이에 연결되고, 상기 제2 노드의 전압에 제어되는 제1 스위칭 소자; 및상기 제2 노드와 접지 사이에 연결되고, 상기 제1 노드의 전압에 제어되는 제2 스위칭 소자를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
9 9
제1항에 있어서, 상기 데이터 출력부는,상기 비교수단으로부터 출력되는 비교신호를 임시 저장하는 저장부; 및상기 저장부로부터 출력되는 디지털 비교신호를 아날로그 비교신호로 출력하는 변환부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 저장부는 N 비트의 레지스터인 멀티 레벨 메모리 장치
11 11
제10항에 있어서, 상기 변환부는 (N-1)비트의 디지털/아날로그 컨버터인 멀티 레벨 메모리 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 변환부는 상기 메모리 셀의 데이터 값에 따른 전류 변화 특성에 대응하도록 구성되는 멀티 레벨 메모리 장치
13 13
제11항에 있어서,상기 변환부의 출력은 지수함수적으로 증감할 수 있는 멀티 레벨 메모리 장치
14 14
제11항에 있어서,상기 변환부의 출력은 선형적으로 증감할 수 있는 멀티 레벨 메모리 장치
15 15
제11항에 있어서, 상기 변환부는,상기 저장부의 출력을 디코딩하는 디코더; 및상기 디코더의 출력에 따라 제어되는 병렬연결된 복수의 단위 전류 셀을 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
16 16
메모리 셀에 흐르는 셀 전류를 복제하는 셀 전류 복제부;상기 셀 전류 복제부를 흐르는 셀복제전류와 비교복제전류를 비교하는 비교수단;상기 비교수단으로부터 출력되는 비교신호를 변환하여 출력하는 데이터 출력부;상기 데이터 출력부로부터 출력되는 비교신호를 이용하여 비교전류를 출력하는 비교전류출력부; 및상기 비교전류를 복제하여 상기 비교복제전류를 출력하는 비교전류 복제부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
17 17
제16항에 있어서, 상기 비교수단은,상기 셀복제전류와 상기 비교복제전류를 이용하여 상기 셀복제전류가 흐르는 경로 상의 제1 노드와 상기 비교복제전류가 흐르는 경로 상의 제2 노드 사이의 전위차를 증폭시키는 제1 비교부; 및상기 제1 노드 및 상기 제2 노드를 입력으로 하여 비교하는 제2 비교부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
18 18
제17항에 있어서, 상기 제1 비교부는,상기 제1 노드와 상기 제2 노드 사이에 연결되고, 리셋신호에 제어되어 상기 제1 및 제2 노드의 전위를 일치시키는 리셋부; 및상기 제1 노드와 제2 노드 사이의 전위차를 포지티브 피드백 방식으로 증폭시키는 포지티브 피드백부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
19 19
제18항에 있어서, 상기 포지티브 피드백부는,상기 제1 노드와 접지 사이에 연결되고, 상기 제2 노드의 전압에 제어되는 제1 스위칭 소자; 및상기 제2 노드와 접지 사이에 연결되고, 상기 제1 노드의 전압에 제어되는 제2 스위칭 소자를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
20 20
제16항에 있어서, 상기 데이터 출력부는,상기 비교수단으로부터 출력되는 비교신호를 임시 저장하는 저장부; 및상기 저장부로부터 출력되는 디지털 비교신호를 아날로그 비교신호로 출력하는 변환부를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
21 21
제20항에 있어서,상기 저장부는 N 비트의 레지스터인 멀티 레벨 메모리 장치
22 22
제21항에 있어서, 상기 변환부는 (N-1)비트의 디지털/아날로그 컨버터인 멀티 레벨 메모리 장치
23 23
제22항에 있어서,상기 변환부는 상기 메모리 셀의 데이터 값에 따른 전류 변화 특성에 대응하도록 구성되는 멀티 레벨 메모리 장치
24 24
제22항에 있어서,상기 변환부의 출력은 지수함수적으로 증감할 수 있는 멀티 레벨 메모리 장치
25 25
제22항에 있어서,상기 변환부의 출력은 선형적으로 증감할 수 있는 멀티 레벨 메모리 장치
26 26
제22항에 있어서, 상기 변환부는,상기 저장부의 출력을 디코딩하는 디코더; 및상기 디코더의 출력에 따라 제어되는 병렬연결된 복수의 단위 전류 셀을 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치
27 27
상이한 크기의 전류를 통과시키는 적어도 두개 이상의 전류 경로 중 어느 하나를 선택하여 상기 전류 경로와 연결된 메모리 셀로 셀전류를 흘리는 단계;상기 셀전류를 비교하기 위한 비교전류를 소정값으로 설정하는 단계;상기 셀전류가 상기 소정값보다 크면, 상기 셀전류와 동일 크기로 복제하는 단계; 및상기 셀전류가 상기 소정값보다 작으면, 상기 셀전류를 소정 배수 증폭하여 복제하는 단계를 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치의 데이터 센싱 방법
28 28
제27항에 있어서,상기 셀전류를 복제하여 셀복제전류를 출력하는 단계;상기 비교전류를 복제하여 비교복제전류를 출력하는 단계;상기 셀복제전류와 상기 비교복제전류를 비교하여 비교신호를 출력하는 단계; 및상기 비교신호를 임시 저장하고 디지털적으로 출력하는 단계를 더 포함하는 멀티 레벨 메모리 장치의 데이터 센싱 방법
29 29
제28항에 있어서,상기 비교복제전류는 상기 메모리 셀의 데이터 값에 따른 전류 변화 특성에 대응하는 멀티 레벨 메모리 장치의 데이터 센싱 방법
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