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컨트롤러 및 메모리 장치를 포함하는 플래시 메모리 시스템의 동작 방법에 있어서,블록 단위 연접 BCH(BLOCK-WISE CONCATENATED BCH, BC-BCH) 방식에 의해 행 부호와 열 부호로 구성되는 메시지 블록 단위로 부호화된 코드워드에 대하여 경판정 복호를 수행하는 제1단계;상기 경판정 복호를 실패한 경우, 상기 메시지 블록 중 상기 경판정 복호에 실패한 오류 메시지 블록의 위치를 산출하는 제2단계;상기 오류 메시지 블록에 대한 상기 행 부호 및 열 부호에 대응하는 연판정 정보를 생성하는 제3단계; 및상기 연판정 정보를 이용하여 상기 오류 메시지 블록에 대하여 연판정 복호를 수행하는 제4단계를 포함하는 플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제1항에 있어서,상기 연판정 복호는,터보 블록 단위 연접 BCH 복호인플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제1항에 있어서,상기 제3단계는,상기 오류 메시지 블록에 대해 준거 전압을 이용하여 상기 연판정 정보를 생성하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제1항에 있어서,상기 제4단계는,상기 오류 메시지 블록의 상기 행 부호에 대응하는 연판정 정보와 제1외부정보를 복호하여 제2외부정보를 생성하는 제5단계; 및상기 생성된 제2외부정보와 상기 오류 메시지 블록의 상기 열 부호에 대응하는 연판정 정보를 복호하여 제3외부정보를 생성하는 제6단계를 포함하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제4항에 있어서,상기 제1외부정보는초기 외부정보이며, 디폴트값을 갖는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제4항에 있어서,상기 제5단계는, 상기 오류 메시지 블록의 상기 행 부호에 대응하는 상기 연판정 정보와 제1외부정보의 합을 통해 산출된 복수의 비트들을 작은 순서대로 배열하는 단계;상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 테스트 패턴을 산출하는 단계;상기 테스트 패턴과 상기 신뢰도가 낮은 비트들을 배타적 논리합 연산을 통해 후보 코드워드 집합을 산출하는 단계;상기 후보 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제1코드워드를 결정하는 단계;상기 후보 코드 워드 집합과 상기 제1코드워드가 대응되지 않는 경쟁 코드워드 집합을 도출하는 단계; 상기 경쟁 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제2코드워드를 결정하는 단계; 및상기 제1코드워드와 제2코드워드를 통해 제2외부정보를 산출하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제6항에 있어서,상기 테스트 패턴을 산출하는 단계는상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 체이스 복호를 수행하여 상기 테스트 패턴을 산출하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제6항에 있어서,상기 제1코드워드를 결정하는 단계는상기 후보 코드워드와 상기 연판정 정보를 이용하여 유클리디안 거리를 산출하여 가장 작은 값을 선택하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제6항에 있어서,상기 제2코드워드를 결정하는 단계는상기 경쟁 코드워드와 상기 연판정 정보를 이용하여 유클리디안 거리를 산출하여 가장 작은 값을 선택하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제6항에 있어서,상기 제2외부정보를 산출하는 단계는하기 수학식1을 통해 상기 제2외부정보를 산출하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제4항에 있어서,상기 제6단계는, 상기 오류 메시지 블록의 상기 열 부호에 대응하는 상기 연판정 정보와 제2외부정보의 합을 통해 산출된 복수의 비트들을 작은 순서대로 배열하는 단계;상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 테스트 패턴을 산출하는 단계;상기 테스트 패턴과 상기 신뢰도가 낮은 비트들을 배타적 논리합 연산을 통해 후보 코드워드 집합을 산출하는 단계;상기 후보 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제1코드워드를 결정하는 단계;상기 후보 코드 워드 집합과 상기 제1코드워드가 대응되지 않는 경쟁 코드워드 집합을 도출하는 단계; 상기 경쟁 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제2코드워드를 결정하는 단계; 및상기 제1코드워드와 제2코드워드를 통해 제3외부정보를 산출하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제11항에 있어서,상기 테스트 패턴 산출 방법은상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 체이스 복호를 수행하여 산출되는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제11항에 있어서,상기 제1코드워드를 결정하는 방법은상기 후보 코드워드와 상기 연판정 정보를 이용하여 유클리디안 거리를 산출하여 가장 작은 값을 선택하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제11항에 있어서,상기 제2코드워드를 결정하는 방법은상기 경쟁 코드워드와 상기 연판정 정보를 이용하여 유클리디안 거리를 산출하여 가장 작은 값을 선택하는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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제11항에 있어서,상기 제3외부정보는하기 수학식2을 통해 산출되는플래시 메모리 시스템의 동작 방법
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플래시 메모리 시스템에 있어서,메모리 장치; 및컨트롤러를 포함하며,상기 컨트롤러는블록 단위 연접 BCH(BLOCK-WISE CONCATENATED BCH, BC-BCH) 방식에 의해 행 부호와 열 부호로 구성되는 메시지 블록 단위로 부호화된 코드워드에 대하여 경판정 복호를 수행하는 제1수단;상기 경판정 복호를 실패한 경우, 상기 메시지 블록 중 상기 경판정 복호에 실패한 오류 메시지 블록의 위치를 산출하는 제2수단;상기 오류 메시지 블록에 대한 상기 행 부호 및 열 부호에 대응하는 연판정 정보를 생성하는 제3수단; 및상기 연판정 정보를 이용하여 상기 오류 메시지 블록에 대하여 연판정 복호를 수행하는 제4수단을 포함하는 플래시 메모리 시스템
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제1항에 있어서,상기 연판정 복호는,터보 블록 단위 연접 BCH 복호인플래시 메모리 시스템
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제16항에 있어서,상기 제4수단은,상기 오류 메시지 블록의 상기 행 부호에 대응하는 연판정 정보와 제1외부정보를 복호하여 제2외부정보를 생성하는 제5수단; 및상기 생성된 제2외부정보와 상기 오류 메시지 블록의 상기 열 부호에 대응하는 연판정 정보를 복호하여 제3외부정보를 생성하는 제6수단를 포함하는플래시 메모리 시스템
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제18항에 있어서,상기 제5수단은, 상기 오류 메시지 블록의 상기 행 부호에 대응하는 상기 연판정 정보와 제1외부정보의 합을 통해 산출된 복수의 비트들을 작은 순서대로 배열하는 제7수단;상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 테스트 패턴을 산출하는 제8수단;상기 테스트 패턴과 상기 신뢰도가 낮은 비트들을 배타적 논리합 연산을 통해 후보 코드워드 집합을 산출하는 제9수단;상기 후보 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제1코드워드를 결정하는 제10수단;상기 후보 코드 워드 집합과 상기 제1코드워드가 대응되지 않는 경쟁 코드워드 집합을 도출하는 제11수단; 상기 경쟁 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제2코드워드를 결정하는 제12수단; 및상기 제1코드워드와 제2코드워드를 통해 제2외부정보를 산출하는 제13수단을 포함하는 플래시 메모리 시스템
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제18항에 있어서,상기 제6수단은, 상기 오류 메시지 블록의 상기 열 부호에 대응하는 상기 연판정 정보와 제2외부정보의 합을 통해 산출된 복수의 비트들을 작은 순서대로 배열하는 제14수단;상기 산출된 복수의 비트들 중 신뢰도가 낮은 비트들을 선택하여 테스트 패턴을 산출하는 제15수단;상기 테스트 패턴과 상기 신뢰도가 낮은 비트들을 배타적 논리합 연산을 통해 후보 코드워드 집합을 산출하는 제16수단;상기 후보 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제1코드워드를 결정하는 제17수단;상기 후보 코드 워드 집합과 상기 제1코드워드가 대응되지 않는 경쟁 코드워드 집합을 도출하는 제18수단; 상기 경쟁 코드워드 집합과 상기 연판정 정보를 이용하여 제2코드워드를 결정하는 제19수단; 및상기 제1코드워드와 제2코드워드를 통해 제3외부정보를 산출하는 제20수단을 포함하는 플래시 메모리
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