맞춤기술찾기

이전대상기술

방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2014047492
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야본 발명은, 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 관한 것임.2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제본 발명은, 손실블록의 에지 방향을 주변 블록의 데이터를 이용하여 정밀하게 추정한 후 최적의 에지 방향을 선택하여 손실 블록 내의 각각의 픽셀을 적응적으로 보간함으로써, 평탄한 영역뿐만 아니라 에지를 포함한 복잡한 영역도 낮은 복잡도 및 높은 화질로 복원하기 위한, 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공하는데 그 목적이 있음.3. 발명의 해결방법의 요지본 발명은, 손실블록의 각 경계 픽셀에 대한 기울기(Gradient) 방향을 소정의 영역별로 분류한 후 각 영역에서 에지의 세기(ES)를 산출하는 에지의 세기 산출단계; 상기 산출한 각 영역의 에지 세기를 이용하여 공간방향벡터를 산출하는 공간방향벡터 산출단계; 상기 산출한 공간방향벡터들 중에서 유효 공간방향벡터를 선별하는 유효 공간방향벡터 선별단계; 상기 선별한 각 유효 공간방향벡터에 대한 방향성 왜곡값을 계산하는 방향성 왜곡값 계산단계; 및 상기 계산한 방향성 왜곡값을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 손실 픽셀 복원단계를 포함함.4. 발명의 중요한 용도본 발명은 영상 처리 기기 또는 통신 기기 등에 이용됨.에러 은닉, 방향성 보간, 기울기 방향, 에지의 세기, 공간방향벡터, 방향성 왜곡값
Int. CL H04N 19/895 (2014.01.01) H04N 19/14 (2014.01.01) H04N 7/01 (2006.01.01) G06T 7/269 (2017.01.01)
CPC H04N 19/895(2013.01) H04N 19/895(2013.01) H04N 19/895(2013.01) H04N 19/895(2013.01)
출원번호/일자 1020070046759 (2007.05.14)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0886647-0000 (2009.02.25)
공개번호/일자 10-2008-0048904 (2008.06.03) 문서열기
공고번호/일자 (20090304) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060119267   |   2006.11.29
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.14)
심사청구항수 25

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정제창 대한민국 서울 성동구
2 김원기 대한민국 서울 성동구
3 진순종 대한민국 서울 성동구
4 구자성 대한민국 서울 성동구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.14 수리 (Accepted) 1-1-2007-0355351-81
2 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items
2007.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2007-0468561-89
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.12.28 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0003956-70
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0550475-99
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.12.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0884899-86
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2008-0884900-45
9 등록결정서
Decision to grant
2009.02.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0075279-16
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
손실블록의 각 경계 픽셀에 대한 기울기(Gradient) 방향을 소정의 영역별로 분류한 후 각 영역에서 에지의 세기(ES)를 산출하는 에지 세기 산출단계; 상기 산출한 각 영역의 에지 세기를 이용하여 공간방향벡터를 산출하는 공간방향벡터 산출단계; 상기 산출한 공간방향벡터들 중에서 유효 공간방향벡터를 선별하는 유효 공간방향벡터 선별단계; 상기 선별한 각 유효 공간방향벡터에 대한 방향성 왜곡값을 계산하는 방향성 왜곡값 계산단계; 및 상기 계산한 방향성 왜곡값을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 손실 픽셀 복원단계 를 포함하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 에지 세기 산출단계는, 소벨 마스크(Sobel mask)를 이용하여 손실블록의 각 경계 픽셀에 대해 기울기(Gradient)를 산출하는 기울기 산출단계; 상기 산출한 각 기울기의 방향을 계산하여 소정의 영역으로 분류하는 영역 분류단계; 및 상기 소정 영역에서 에지의 세기를 산출하는 세기 산출단계을 포함하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 영역 분류단계는, 상기 산출한 각 기울기의 방향을 계산하여 8개의 영역으로 분류하되,각 영역은 22
4 4
제 3 항에 있어서,상기 8개의 영역은,D0()이고, D1(), D2(), D3(), D4(), D5(), D6(), D7()을 포함하되, 연속적으로 손실블록이 발생한 경우 D0의 영역 중 은 D1의 영역으로 편입시키고, 은 D7의 영역으로 편입시키는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
5 5
제 2 항에 있어서,상기 기울기 산출단계는,하기의 [수학식 A]를 통해 경계 픽셀 B(x,y)에 대한 에지의 기울기(Gradient) 성분인 gx(x,y), gy(x,y)를 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 기울기의 방향을 계산하는 과정은,하기의 [수학식 B]을 통해 계산하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
7 7
제 2 항에 있어서,상기 세기 산출단계는,하기의 [수학식 C]을 통해 에지의 세기를 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
8 8
제 2 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기울기 산출단계는,손실블록 각각의 경계 픽셀에 대해 소벨 마스크(Sobel mask)들을 시계 방향으로 이동시키면서 각각의 기울기를 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
9 9
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 공간방향벡터 산출단계는, 8개의 에지 방향 영역에 대해 대표 방향을 나타내는 8개의 공간방향벡터들을 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 공간방향벡터 산출단계는, 하기의 [수학식 D]를 통해 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 유효 공간방향벡터 선별단계는, 상기 산출한 8개의 공간방향벡터들 중에서 임계치를 초과하는 유효 공간방향벡터를 선별하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 임계치(TES)는, 하기의 [수학식 E]을 통해 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
13 13
제 9 항에 있어서,상기 방향성 왜곡값 계산단계는, 하기의 [수학식 F]을 통해 계산하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 P1(DSDV)와 P2(DSDV)의 위치는, 슬라이스 단위의 손실일 경우, 손실블록 크기의 2배 길이 내에 해당하는 영역으로 제한하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
15 15
제 9 항에 있어서,상기 손실 픽셀 복원단계는, 상기 계산한 방향성 왜곡값 중 가장 작은 방향성 왜곡값에 해당하는 유효 공간방향벡터를 검출하는 단계;상기 계산한 방향성 왜곡값 중 두 번째로 작은 방향성 왜곡값에 해당하는 유효 공간방향벡터를 검출하는 단계;상기 검출한 두 유효 공간방향벡터를 이용하여 손실 픽셀의 보간값을 계산하는 보간값 계산단계; 및 상기 계산한 보간값과 해당 방향성 왜곡값(가중치)을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 단계을 포함하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
16 16
제 15 항에 있어서,상기 보간값 계산단계는, 하기의 [수학식 G]을 통해 계산하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
17 17
제 15 항에 있어서, 상기 손실 픽셀의 복원 과정은, 하기의 [수학식 H]을 통해 복원하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
18 18
제 15 항에 있어서,상기 손실 픽셀의 복원 과정은, 상기 두 방향성 왜곡값 중 하나의 방향성 왜곡값이 0인 경우 하나의 방향성 왜곡값을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
19 19
제 15 항에 있어서,상기 손실 픽셀의 복원 과정은, 상기 두 방향성 왜곡값이 같은 경우 평균 방식으로 손실 픽셀을 복원하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 방법
20 20
방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치에 있어서, 손실블록의 각 경계 픽셀에 대한 기울기(Gradient) 방향을 소정의 영역별로 분류한 후 각 영역에서 에지의 세기(ES)를 산출하기 위한 에지 세기 산출수단; 상기 산출한 각 영역의 에지 세기를 이용하여 공간방향벡터를 산출하기 위한 공간방향벡터 산출수단; 상기 산출한 공간방향벡터들 중에서 유효 공간방향벡터를 선별하기 위한 유효 공간방향벡터 선별수단; 상기 선별한 각 유효 공간방향벡터에 대한 방향성 왜곡값을 계산하기 위한 방향성 왜곡값 계산수단; 및 상기 계산한 방향성 왜곡값을 이용하여 손실 픽셀을 복원하기 위한 손실 픽셀 복원수단을 포함하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치
21 21
제 20 항에 있어서,상기 에지 세기 산출수단은, 소벨 마스크(Sobel mask)를 이용하여 손실블록의 각 경계 픽셀에 대해 기울기(Gradient)를 산출하고, 상기 산출한 각 기울기의 방향을 계산하여 소정의 영역으로 분류한 후 상기 소정 영역에서 에지의 세기를 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치
22 22
제 20 항 또는 제 21 항에 있어서,상기 공간방향벡터 산출수단은,8개의 에지 방향 영역에 대해 대표 방향을 나타내는 8개의 공간방향벡터들을 산출하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치
23 23
제 22 항에 있어서,상기 유효 공간방향벡터 선별수단은,상기 산출한 8개의 공간방향벡터들 중에서 하기의 [수학식 I]와 같은 임계치(TES)를 초과하는 유효 공간방향벡터를 선별하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치
24 24
제 20 항 또는 제 21 항에 있어서,상기 손실 픽셀 복원수단은, 상기 계산한 방향성 왜곡값 중 가장 작은 방향성 왜곡값에 해당하는 유효 공간방향벡터를 검출하고, 상기 계산한 방향성 왜곡값 중 두 번째로 작은 방향성 왜곡값에 해당하는 유효 공간방향벡터를 검출하며, 상기 검출한 두 유효 공간방향벡터를 이용하여 손실 픽셀의 보간값을 계산한 후 상기 계산한 보간값과 해당 방향성 왜곡값(가중치)을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 것을 특징으로 하는 방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치
25 25
방향성 보간을 이용한 손실 픽셀 복원 장치에,손실블록의 각 경계 픽셀에 대한 기울기(Gradient) 방향을 소정의 영역별로 분류한 후 각 영역에서 에지의 세기(ES)를 산출하는 에지 세기 산출기능; 상기 산출한 각 영역의 에지 세기를 이용하여 공간방향벡터를 산출하는 공간방향벡터 산출기능; 상기 산출한 공간방향벡터들 중에서 유효 공간방향벡터를 선별하는 유효 공간방향벡터 선별기능; 상기 선별한 각 유효 공간방향벡터에 대한 방향성 왜곡값을 계산하는 방향성 왜곡값 계산기능; 및 상기 계산한 방향성 왜곡값을 이용하여 손실 픽셀을 복원하는 손실 픽셀 복원기능 을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.