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투명 도전막의 제조 방법 및 이에 의한 투명 도전막

  • 기술번호 : KST2014036929
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기적, 광학적 특성이 우수한 투명 도전막의 제조 방법 및 이에 의한 투명 도전막에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명은 기판을 구비하는 기판 구비 단계, 알루미늄이 도핑된 산화아연(ZnO) 박막을 기판에 증착하는 ZnO:Al 형성 단계 및 알루미늄이 도핑된 산화아연 박막에 갈륨을 도핑하는 GAZO 형성 단계를 포함하는 투명 도전막의 제조 방법을 개시한다.
Int. CL C23C 14/08 (2006.01.01) C23C 14/34 (2006.01.01) H01L 21/203 (2006.01.01) H01L 51/50 (2006.01.01) C23C 14/35 (2006.01.01)
CPC C23C 14/08(2013.01) C23C 14/08(2013.01) C23C 14/08(2013.01) C23C 14/08(2013.01) C23C 14/08(2013.01)
출원번호/일자 1020100038990 (2010.04.27)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0119344 (2011.11.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.04.27)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강동원 대한민국 서울특별시 광진구
2 한민구 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서만규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)
2 서경민 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0272389-28
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.14 수리 (Accepted) 9-1-2011-0031860-80
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0086272-48
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.05.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0257712-03
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판을 구비하는 기판 구비 단계;알루미늄이 도핑된 산화아연(ZnO) 박막을 상기 기판에 증착하는 ZnO:Al 형성 단계; 및 상기 알루미늄이 도핑된 산화아연 박막에 갈륨을 도핑하는 GAZO 형성 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 ZnO:Al 형성 단계와 상기 GAZO 형성 단계는 동시에 행하여지는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 ZnO:Al 형성 단계는 알루미늄이 도핑된 산화아연(AZO) 타겟을 이용하여 이루어지고, 상기 GAZO 형성 단계는 갈륨 옥사이드(Ga2O3) 타겟을 이용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 ZnO:Al 형성 단계와 상기 GAZO 형성 단계는 마그네트론 코스퍼터링법에 의하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 ZnO:Al 형성 단계는 DC 마그네트론 스퍼터링법에 의하고, 상기 GAZO 형성 단계는 RF 마그네트론 스퍼터링법에 의하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 RF 마그네트론 스터링법에서 RF 파워의 조절을 통해 상기 투명 도전막에 대한 갈륨의 도핑 농도를 조절하는 것을 특징으로 하는 투명 도전막의 제조 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 갈륨의 원자 농도는 0
8 8
제 7 항에 있어서,상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 알루미늄의 원자 농도는 3 내지 5 at
9 9
제 1 항에 있어서,상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 갈륨의 원자 농도는 2
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 알루미늄의 원자 농도는 3
11 11
제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 하나의 항에 따라 제조되는 것을 특징으로 하는 투명 도전막
12 12
산화아연 박막에 알루미늄이 원자 농도 3 내지 5 at
13 13
제 12 항에 있어서,상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 갈륨의 원자 농도는 2
14 14
제 12 항에 있어서,상기 투명 도전막에 대한 상기 도핑된 알루미늄의 원자 농도는 3
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교 산학협력단 국가지정 연구실사업 High Performance and Stable Nanocrystalline Silicon Thin Film Devices and Circuits for Plastic Electronics