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극소화된 접촉 면적을 갖는 고집적 상변화 메모리 및 이의제조 방법

  • 기술번호 : KST2014051333
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 스페이서 패터닝을 이용하여 전극의 선폭을 수 nm 범위까지 극소화시키고, 상기 극소화된 선폭을 갖는 전극의 측면에 상변화 물질을 증착시킴으로써, 전극과 상변화 물질 간의 접촉 면적을 극소화시킬 수 있는 상변화 메모리의 제조 방법, 및 전극의 증착 두께와 스페이서 패턴닝을 통하여 형성된 수 nm 범위의 선폭에 의하여 결정되는 극소화된 전극과 상변화 물질 간의 접촉 면적을 갖는 저전력, 초고집적 상변화 메모리에 관한 것이다.
Int. CL H01L 21/8247 (2011.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC H01L 45/1691(2013.01) H01L 45/1691(2013.01)
출원번호/일자 1020040118313 (2004.12.31)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0625230-0000 (2006.09.11)
공개번호/일자 10-2006-0079563 (2006.07.06) 문서열기
공고번호/일자 (20060920) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.12.31)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김성일 대한민국 서울 노원구
2 김용태 대한민국 경기 성남시 분당구
3 김영환 대한민국 서울 노원구
4 김춘근 대한민국 서울특별시 강남구
5 염민수 대한민국 서울 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2004-0632311-26
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0232083-55
3 의견서
Written Opinion
2006.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2006-0434717-39
4 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.06.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0434730-23
5 등록결정서
Decision to grant
2006.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0479886-71
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 위에 하부 전극, 하드마스크층 및 희생층을 차례로 형성시킨 후, 상기 희생층을 패터닝하고; 상기 패터닝된 희생층 위에 스페이서 물질을 전면 도포하고 수직으로 식각하여 스페이서 물질이 희생층 벽면에만 남도록 하고; 상기 희생층을 제거한 후, 남아있는 스페이서 물질을 마스크로 하여 하드마스크와 하부 전극을 에칭하여, 극소화된 선폭을 갖는 하부 전극을 형성시키고; 그 위에 절연층을 형성시키고; 하부 전극의 극소화된 선폭을 갖는 측단면이 드러나도록 식각한 후, 상변화 물질과 상부 전극을 도포하여, 상변화 물질이 상기 극소화된 하부 전극의 측단면에서 접촉하도록 하는 단계를 포함하는, 극소화된 접촉 면적을 갖는 상변화 메모리의 제조 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 절연층이 하부 전극과 상변화 물질과의 접착력을 개선시키거나 상변화 물질의 확산을 방지하고 열방출을 용이하게 하는 물질을 포함하는 것인 제조 방법
3 3
제1항에 있어서, 하부 전극의 중간 부분을 식각하여 트렌치 구조를 만들어 다수의 하부 전극을 형성시킨 후, 상변화 물질 및 상부 전극을 상기 트렌치 구조를 따라 도포하여 상변화 물질이 다수의 하부 전극의 측면에 동시에 접촉하도록 형성시킴으로써, 단일 공정으로 공통의 상변화 물질 및 상부 전극을 갖는 다수의 상변화 메모리 셀을 제작하는 제조 방법
4 4
기판, 하부 전극, 상변화 물질 및 상부 전극을 포함하여 구성되는 상변화 메모리에 있어서, 상기 하부 전극이 제1항에서의 스페이서를 이용한 패터닝에 의하여 형성되어 나노 사이즈 범위의 선폭을 갖는 것이고, 상기 나노 사이즈의 선폭을 갖는 하부 전극의 측면에 상변화 물질이 증착되어, 하부 전극 두께와 나노 사이즈 선폭에 의하여 결정되는 극소화된 하부 전극과 상변화 물질 간의 접촉 면적을 갖는 것을 특징으로 하는 저전력, 초고집적 상변화 메모리
5 5
제4항에 있어서, 상기 하부 전극의 중간 부분이 식각되어 하부 전극의 측단면이 노출되어 있는 하나 이상의 트렌치 구조가 형성되어, 두 개 이상의 하부 전극 부위를 갖고, 상변화 물질 및 상부 전극이 상기 트렌치 구조를 따라 차례로 도포되어, 공통의 상변화 물질 및 상부 전극을 갖는 두 개 이상의 상변화 메모리 셀을 포함하는 상변화 메모리
6 5
제4항에 있어서, 상기 하부 전극의 중간 부분이 식각되어 하부 전극의 측단면이 노출되어 있는 하나 이상의 트렌치 구조가 형성되어, 두 개 이상의 하부 전극 부위를 갖고, 상변화 물질 및 상부 전극이 상기 트렌치 구조를 따라 차례로 도포되어, 공통의 상변화 물질 및 상부 전극을 갖는 두 개 이상의 상변화 메모리 셀을 포함하는 상변화 메모리
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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